Two-dimensional X-ray photoelectron spectroscopy for composite surface analysis

Analytical Chemistry

Volumn 80, Issue 10, 2008, Pages 3931-3936

  Suzer, Sefik ^a   Sezen, Hikmet ^a   Dâna, Aykutlu ^a  

^a BILKENT UNIVERSITY   (Turkey)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BINDING ENERGY; COMPOSITE MATERIALS; CORRELATION METHODS; ELECTRIC POTENTIAL; TWO DIMENSIONAL; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

BINDING ENERGY POSITIONS; COMPOSITE SURFACES; FREQUENCY DEPENDENCE;

SURFACE STRUCTURE;

ANALYTIC METHOD; ARTICLE; ELECTRIC POTENTIAL; ENERGY; MEASUREMENT; SURFACE PROPERTY; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 43949119454     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac702642w     Document Type: Article

References (48)

1. Siegbahn, K.; Hammond, D.; Fellner-Feldegg, H.; Barnett, E. F. Science 1972, 176, 245.
2. Siegbahn, K. Science 1982, 217, 111.
3. Smith, N. V.; Woodruff, D. P. Science 1982, 216, 367.
4. (a) Maier, F.; Gottfried, J. M.; Rossa, J.; Gerhard, D.; Schultz, P. S.; Schwinger, W.; Wasserscheid, P.; Steinruck, H. P. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 7778.
5. (b) Chaudhury, M. K.; Whitesides, G. M. Science 1992, 255, 1230.
6. (c) Steinberg, S.; Ducker, W.; Vigil, G.; Hyukjin, C.; Frank, C.; Tseng, M. Z.; Clarke, D. R.; Israelachvili, J. N. Science 1993, 260, 656.
7. (d) Gref, R.; Minamitake, Y.; Peracchia, M. T.; Trubetskoy, V.; Torchilin, V.; Langer, R. Science 1994, 263, 1600.
8. (e) Schierbaum, K. D.; Weiss, T.; Vanvelzen, E. U. T.; Engbersen, J. F. J.; Reinhoudt, D. N.; Gopel, W. Science 1994, 265, 1413.
9. (f) Kay, A.; Arenholz, E.; Mun, S.; de Abajo, F. J. G.; Fadley, C. S.; Denecke, R.; Hussain, Z.; Van Hove, M. A. Science 1998, 281, 679.
10. (g) Valden, M.; Lai, X.; Goodman, D. W. Science 1998, 281, 1647.
11. (h) Asahi, R.; Morikawa, T.; Ohwaki, T.; Aoki, K.; Taga, Y. Science 2001, 293, 269.
12. (i) McKee, R. A.; Walker, F. J.; Nardelli, M. B.; Shelton, W. A.; Stocks, G. M. Science 2003, 300, 1726.
13. (j) Kim, H. J.; Graham, D. W.; DiSpirito, A. A.; Alterman, M. A.; Galeva, N.; Larive, C. K.; Asunskis, D.; Sherwood, P. M. A. Science 2004, 305, 1612.
14. (k) Ghosal, S.; Hemminger, J. C.; Bluhm, H.; Mun, B. S.; Hebenstreit, E. L. D.; Ketteler, G.; Ogletree, D. F.; Requejo, F. G.; Salmeron, M. Science 2005, 307, 563.
15. (l) Tulevski, G. S.; Myers, M. B.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L.; Nuckolls, C. Science 2005, 309, 591.
16. Turner, N. H.; Schreifels, J. A. Anal. Chem. 2000, 70, 99R. (and the references therein).
17. (a) Barton, J. J. Phys. Rev. Lett. 1988, 61, 1356.
18. (b) Fadley, C. S. Prog. Surf. Sci. 1984, 16, 275.
19. (a) Doron-Mor, H.; Hatzor, A.; Vaskevich, A.; van der Boom-Moav, T.; Shanzer, A.; Rubinstein, I.; Cohen, H. Nature 2000, 406, 382.
20. (c) Shabtai, K.; Rubinstein, I.; Cohen, S. R.; Cohen, H. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4959.
21. (d) Cohen, H. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 1271.
22. (a) Bauer, M.; Lei, M. C.; Read, K.; Tobey, R.; Gland, J.; Murnane, M. M.; Kapteyn, H. C. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 025501.
23. (b) Bjorneholm, O.; Nilsson, A.; Sandell, A.; Hernnas, B.; Martensson, N. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 1892.
24. (c) Drescher, M.; Hentschel, M.; Kienberger, R.; Uiberacker, M.; Yakovlev, V.; Scrinizi, A.; Westerwalbesloh, T.; Kleineberg, U.; Heinzmann, U.; Krausz, F. Nature 2002, 419, 803.
25. (d) Hofer, U.; Shumay, I. L.; Reuss, C.; Thomann, U.; Wallauer, W.; Fauster, T. Science 1997, 277, 1480.
26. (e) Hovel, H.; Barke, I.; Boyen, H. G.; Ziemann, P.; Garnier, M. G.; Oelhafen, P. Phys. Rev. B 2004, 70, 5.
27. (f) Hovel, H.; Grimm, B.; Pollmann, M.; Reihl, B. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 4608.
28. (g) Marsi, M. M.; Belkhou, R.; Grupp, C.; Panaccione, G.; Taleb-Ibrahimi, A.; Nahon, L.; Garzella, D.; Nutarelli, D.; Renault, E.; Roux, R.; Couprie, M. E.; Billardon, M. Phys. Rev. B 2000, 61, R5070.
29. (a) Demirok, U. K.; Ertas, G.; Suzer, S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 5179.
30. (b) Ertas, G.; Demirok, U. K.; Atalar, A.; Suzer, S. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 183110.
31. (c) Karabudak, E.; Demirok, U. K.; Suzer, S. Surf. Sci. 2006, 600, L12.
32. (d) Sezen, H.; Ertas, G.; Dana, A.; Suzer, S. Macromolecules 2007, 40, 4109.
33. Meier, B. H.; Ernst, R. R. J. Am. Chem. Soc. 1979, 101, 6441.
34. Zheng, J. R.; Kwak, K.; Ashbury, J.; Chen, X.; Piletic, I. R.; Fayer, M. D. Science 2005, 309, 1338.
35. (a) Lau, W. M. J. Appl. Phys. 1989, 65, 2047.
36. (b) Lau, W. M.; Wu, X. W. Surf. Sci. 1991, 245, 345.
37. (c) Sherwood, P. M. A. Surf. Sci. 2006, 600, 771.
38. (d) Gouzman, I.; Dubey, M.; Carolus, M. D.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. Surf. Sci. 2006, 600, 773.
39. (e) Dubey, M.; Gouzman, I.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. Langmuir 2006, 22, 4649.
40. Suzer, S.; Dana, A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 19112.
41. Foss, S.; Finstad, T. G.; Dana, A.; Aydinli, A. Thin Solid Films 2007, 515, 6381.
42. (a) Iwata, S.; Ishizaka, A. J. Appl. Phys. 1996, 79, 6653.
43. (b) Cazaux; J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 105, 155;
44. 2000, 113, 15.
45. (a) Curtis, O. L., Jr.; Srour, J. R. J. Appl. Phys. 1977, 48, 3819.
46. (b) Hughes, R. C. Phys. Rev. B 1977, 15, 2012.
47. (c) Wang, T.; Cheng, T. E.; Chiang, L. P.; Wang, C. H.; Zons, N. K.; Huang, C. IEEE Trans. Electron Devices 1998, 45, 1511.
48. Kang, C. J.; Bush, G. H.; Lee, S.; Kim, C. K.; Mang, K. M.; Im, C.; Kuk, Y. Appl. Phys. Lett. 1989, 54, 338.