X-ray photoemission for probing charging/discharging dynamics

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 39, 2006, Pages 19112-19115

  Suzer, Sefik ^a   Dâna, Aykutlu ^a  

^a BILKENT UNIVERSITY   (Turkey)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BINDING ENERGY; PHOTOEMISSION; SILICON COMPOUNDS; TITANIUM COMPOUNDS; X RAYS;

CHEMICAL RESOLUTIONS; DYNAMICAL SHIFTS; SIOX;

DIELECTRIC MATERIALS;

EID: 33750352894     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0644006     Document Type: Article

References (38)

1. Sze, S. M. Physics of Semiconductor Devices; Wiley: New York, 1981.
2. Muller, D. A.; Sorsch, T.; Moccio, S.; Baumann, F. H.; Evans-Lutterodt, K.; Timp, G. Nature (London) 1999, 399, 758.
3. Curtis, O. L., Jr.; Srour, J. R. J. Appl. Phys. 1977, 48, 3819.
4. Hughes, R. C. Phys. Rev. B 1977,. 15, 2012.
5. Wang, T.; Cheng, T. E.; Chiang, L. P.; Wang, C. H.; Zons, N. K.; Huang, C. IEEE Trans. Electron Devices 1998, 45, 1511.
6. Kang, C. J.; Buh, G. H.; Lee, S.; Kim, C. K.; Mang, K. M.; Im, C.; Kuk, Y. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 1815.
7. Hovel, H.; Grimm, B.; Pollmann, M.; Reihl, B. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 4608.
8. Marsi, M.; Belkhou, R.; Grupp, C.; Panaccionne, G.; Taleb-Ibrahimi, A. Nahon, L.; Garzella, D.; Nutarelli, D.; Renault, E.; Roux, R.; Couprie, M. E.; Billardon, M. Phys. Rev. B 2000, 61, R5070.
9. Bauer, M.; Lei, C.; Read, K.; Tobey, R.; Gland, J.; Murnane, M. M.; Kapteyn, H. C. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 025501.
10. Countour, J. P.; Mouvier, G. Chem. Phys. Lett. 1975, 33, 237.
11. Barr, T. L. Crit. Rev. Anal. Chem. 1991, 22, 229.
12. Lau, W. M. J. Appl. Phys. 1989, 65, 2047.
13. Fernandez, A.; Espinos, J. P.; Leinen, D.; Gonzales-Elipe, A. R.; Sanz, J. M. Surf. Interface Anal. 1994, 22, 111.
14. Tielsch, B. J.; Fulghum, J. E. Surf. Interface Anal 1997, 25, 904.
15. Havercroft, N. J.; Sherwood, P. M. A. Surf. Interface Anal. 2000, 29, 232.
16. Briggs, D.; Seah, M. P. Practical surface analysis. Part I. Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, 2nd ed.; John Wiley & Sons Ltd.: England, 1996.
17. Cazaux, J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 105, 155.
18. Cazaux, J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2000, 113, 15.
19. Grimm, M.; Langer, B.; Schlemmer, S.; Lischke, T.; Becker, U.; Widdra, W.; Gerlich, D.; Flesch, R.; Ruhl, E. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 066801.
20. Lau, W. M.; Wu, X. W. Surf. Sci. 1991, 245, 345.
21. Iwata, S.; Ishizaka, A. J. Appl. Phys. 1996, 79, 6653.
22. Doron-Mor, H.; Hatzor, A.; Vaskevich, A.; van der Boom-Moav, T.; Shanzer, A.; Rubinstein, I.; Cohen, H. Nature (London) 2000, 406, 382.
23. Shabtai, K.; Rubinstein, I.; Cohen, S. R.; Cohen, H. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4959.
24. Cohen, H. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 1271.
25. Dubey, M.; Gouzman, I.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. Langmuir 2006, 22, 4649.
26. Gouzman, I.; Dubey, M.; Carolus, M. D.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. Surf. Sci. 2006, 600, 773.
27. Suzer, S. Anal. Chem. 2003, 75, 7026.
28. Karadas, F.; Ertas, G.; Suzer, S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 1515.
29. Ertas, G.; Suzer, S. Surf. Interface Anal. 2004, 36, 619.
30. Demirok, U. K.; Ertas, G.; Suzer, S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 5179.
31. Ertas, G.; Demirok, U. K.; Suzer, S. Appl. Surf. Sci. 2005, 249, 12.
32. Ertas, G.; Demirok, U. K.; Atalar, A.; Suzer, S. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 183110.
33. Karabudak, E.; Demirok, U. K.; Suzer, S. Surf. Sci. Lett 2006, 600, 12.
34. Feldman, Y.; Zak, A.; Tenne, R.; Cohen, H. J. Vac. Sci. Technol., A 2003, 21, 1752.
35. Hagimoto, Y.; Fujioka, H.; Oshima, M. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 4175.
36. Hirose, K.; Sakano, K.; Takahashi, K.; Hattori, T. Surf. Sci. 2002, 507-510, 906.
37. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods; Wiley: New York, 2001.
38. Mitchell, D. F.; Clark, K. B.; Bardwell, J. A.; Lennard, W. N.; Massoumi, G. R.; Mitchell, I. V. Surf. Interface Anal. 1994, 27, 44.