Optical properties of nitrogen-doped Sn O2 films: Effect of the electronegativity on refractive index and band gap

Journal of Applied Physics

Volumn 103, Issue 9, 2008, Pages

  Pan, S S ^a   Zhang, Y X ^a   Teng, X M ^a   Li, G H ^a   Li, L ^b  

^a INSTITUTE OF SOLID STATE PHYSICS   (China)

^b NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRONEGATIVITY; ELLIPSOMETRY; ENERGY GAP; REACTIVE SPUTTERING; REFRACTIVE INDEX; TIN DIOXIDE;

ABSORPTION EDGE; BOND IONICITY; EXTINCTION COEFFICIENT;

OPTICAL FILMS;

EID: 43949112656     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2908197     Document Type: Article

References (28)

1. S. J. Jiao, Z. Z. Zhang, Y. M. Lu, D. Z. Shen, B. Yao, J. Y. Zhang, B. H. Li, D. X. Zhao, X. W. Fan, and Z. K. Tang, Appl. Phys. Lett. 88, 031911 (2006).
2. Y. R. Ryu, T. S. Lee, J. A. Lubguban, H. W. White, Y. S. Park, and C. J. Youn, Appl. Phys. Lett. 87, 153504 (2005).
3. S. J. Pearton, C. R. Abernathy, M. E. Overberg, G. T. Thaler, D. P. Norton, N. Theodoropoulou, A. F. Hebard, Y. D. Park, F. Ren, J. Kim, and L. A. Boatner, J. Appl. Phys. 93, 1 (2003).
4. S. S. Pan, C. Ye, X. M. Teng, H. T. Fan, and G. H. Li, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 85, 21 (2006).
5. S. S. Pan, C. Ye, X. M. Teng, and G. H. Li, J. Phys. D 40, 4771 (2007).
6. S. S. Pan, C. Ye, X. M. Teng, L. Li, and G. H. Li, Appl. Phys. Lett. 89, 051911 (2006).
7. C. Kilic and A. Zunger, Phys. Rev. Lett. 88, 095501 (2002).
8. Y. Yan, S. B. Zhang, and S. T. Pantelides, Phys. Rev. Lett. 86, 5723 (2001).
9. M. Batzill and U. Diebold, Prog. Surf. Sci. 79, 47 (2005).
10. R. Outemzabet, N. Bouras, and N. Kesri, Thin Solid Films 515, 6518 (2007).
11. P. D. Paulson and S. S. Hegedus, J. Appl. Phys. 96, 5469 (2004).
12. Y. R. Park and K. J. Kim, J. Appl. Phys. 94, 6401 (2003).
13. T. W. Kim, D. U. Lee, D. C. Choo, and Y. S. Yoon, Appl. Phys. Lett. 79, 2187 (2001).
14. P. I. Rovira and R. W. Collins, J. Appl. Phys. 85, 2015 (1999).
15. P. R. Athey, F. K. Urban, and P. H. Holloway, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3436 (1996).
16. G. E. Jellison and F. A. Modine, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.118064 69, 371 (1996); G. E. Jellison and F. A. Modine, Appl. Phys. Lett. 69, 2137 (1996).
17. H. T. Fan, X. M. Teng, S. S. Pan, C. Ye, G. H. Li, and L. D. Zhang, Appl. Phys. Lett. 87, 231916 (2005).
18. M. Ohring, The Material Science of Thin Films (Academic, San Diego, 1992).
19. J. C. Phillips, Rev. Mod. Phys. 42, 317 (1970).
20. A. Bussmann-Holder, Phys. Rev. B 40, 011639 (1989).
21. L. Pauling, The Nature of the Chemical Bond (Cornell University Press, Ithaca, 1960).
22. R. R. Reddy, Y. N. Ahammed, K. R. Gopal, P. A. Azeem, B. S. Devi, T. V. R. Rao, and S. H. Behere, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 22, 7 (2003).
23. R. Schmidt-Grund, A. Carstens, B. Rheinlander, D. Spemann, H. Hochmut, G. Zimmermann, M. Lorenz, M. Grundmann, C. M. Herzinger, and M. Schubert, J. Appl. Phys. 99, 123701 (2006).
24. K. J. Kim and Y. R. Park, Appl. Phys. Lett. 81, 1420 (2002).
25. A. E. Rakhshani, Y. Makdisi, and H. A. Ramazaniyan, J. Appl. Phys. 83, 1049 (1998).
26. S. H. Mohamed, O. Kappertz, J. M. Ngaruiya, T. Niemeier, R. Drese, R. Detemple, M. M. Wakkad, and M. Wuttig, Phys. Status Solidi A 201, 90 (2004).
27. C. Ye, S. S. Pan, X. M. Teng, and G. H. Li, J. Appl. Phys. 102, 013520 (2007).
28. F. Benkabou, J. P. Becker, M. Certier, and H. Aourag, Superlattices Microstruct. 23, 453 (1998).