Localized exciton luminescence in nitrogen-incorporated SnO2 thin films

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 25, 2006, Pages

  Pan, S S ^a   Ye, C ^a   Teng, X M ^a   Li, L ^a   Li, G H ^a  

^a INSTITUTE OF SOLID STATE PHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL DEFECTS; GRAIN BOUNDARIES; LIGHT EMISSION; PHOTOLUMINESCENCE; THIN FILMS; TIN COMPOUNDS;

EXCITON LOCALIZATION; ROOM TEMPERATURE; SPATIAL DISTRIBUTION;

EXCITONS;

EID: 33845954155     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2416070     Document Type: Article

References (32)

1. S. J. Jiao, Z. Z. Zhang, Y. M. Lu, D. Z. Shen, B. Yao, J. Y. Zhang, B. H. Li, D. X. Zhao, X. W. Fan, and Z. K. Tang, Appl. Phys. Lett. 88, 031911 (2006).
2. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 4, 42 (2005).
3. K. Watanabe, T. Taniguchi, and H. Kanda, Nat. Mater. 3, 404 (2004).
4. S. Koizumi, K. Watanabe, M. Hasegawa, and H. Kanda, Science 292, 1899 (2001).
5. Z. K. Tang, G. K. L. Wong, P. Yu, M. Kawasaki, A. Ohtomo, H. Koinuma, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 3270 (1998).
6. M. Batzill and U. Diebold, Prog. Surf. Sci. 79, 47 (2005).
7. B. Yu, C. Zhu, and F. Gan, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 7, 15 (1997).
8. K. L. Chopra, S. Major, and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
9. C. Kilic and A. Zunger, Phys. Rev. Lett. 88, 095501 (2002).
10. M.-M. Bagheri-Mohagheghi and M. Shokooh-Saremi, J. Phys. D 37, 1248 (2004).
11. Z. Ji, L. Zhao, Z. He, Q. Zhou, and C. Chen, Mater. Lett. 60, 1387 (2006).
12. M.-M. Bagheri-Mohagheghi and M. Shokooh-Saremi, Semicond. Sci. Technol. 19, 764 (2004).
13. Y. Yan, S. B. Zhang, and S. T. Pantelides, Phys. Rev. Lett. 86, 5723 (2001).
14. G. He, L. D. Zhang, G. H. Li, M. Liu, L. Q. Zhu, S. S. Pan, and Q. Fang, Appl. Phys. Lett. 86, 232901 (2005).
15. R. Asahi, T. Morikawa, T. Ohwaki, K. Aoki, and Y. Taga, Science 293, 269 (2001).
16. Y. Wang, J. Ma, F. Ji, X. Yu, and H. Ma, J. Lumin. 114, 71 (2005).
17. J. Jeong, S.-P. Choi, C. I. Chang, D. C. Shin, J. S. Park, B. T. Lee, Y.-J. Park, and H.-J. Song, Solid State Commun. 127, 595 (2003).
18. T. W. Kim, D. U. Lee, and Y. S. Yoon, J. Appl. Phys. 88, 3759 (2000).
19. W. Wang and K. Liao, Thin Solid Films 195, 193 (1991).
20. S. S. Pan, C. Ye, X. M. Teng, H. T. Fan, and G. H. Li, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 85, 21 (2006).
21. S. Luo, P. K. Chu, Z. Di, M. Zhang, W. Liu, C. Lin, J. Fan, and X. Wu, Appl. Phys. Lett. 88, 013109 (2006).
22. R. Y. Korotkov, A. J. E. Farran, T. Culp, D. Russo, and C. Roger, J. Appl. Phys. 96, 6445 (2004).
23. G. Blattner, C. Klingshirn, and R. Helbig, Solid State Commun. 33, 341 (1980).
24. E. J. H. Lee, C. Ribeiro, T. R. Giraldi, E. Longo, E. R. Leite, and J. A. Varela, Appl. Phys. Lett. 84, 1745 (2004).
25. V. F. Agekyan and Y. A. Stepanov, Sov. Phys. Solid State 34, 266 (1992).
26. M. Smith, J. Y. Lin, H. X. Jiang, and M. A. Khan, Appl. Phys. Lett. 71, 635 (1997).
27. R. A. Abram, G. J. Rees, and B. L. H. Wilson, Adv. Phys. 27, 799 (1978).
28. D. Xu, H. Yang, J. B. Li, D. G. Zhao, S. F. Li, S. M. Zhuang, R. H. Wu, Y. Chen, and G. H. Li, Appl. Phys. Lett. 76, 3025 (2000).
29. R. A. Mair, J. Y. Lin, H. X. Jiang, E. D. Jones, A. A. Allerman, and S. R. Kurtz, Appl. Phys. Lett. 76, 188 (2000).
30. K. V. Kavokin, I. A. Merkulov, D. R. Yakovlev, W. Ossau, and G. Landwehr, Phys. Rev. B 60, 16499 (1999).
31. S. Permogorov and A. Reznitsky, J. Lumin. 52, 201 (1992).
32. F. X. Xiu, L. J. Mandalapu, Z. Yang, J. L. Liu, G. F. Liu, and J. A. Yarmoff, Appl. Phys. Lett. 89, 052103 (2006).