Structural rearrangement of C70 monolayers induced by octanethiol adsorption

Langmuir

Volumn 22, Issue 24, 2006, Pages 10025-10031

  Deering, Amanda L ^a   Kandel, S Alex ^a  

^a UNIVERSITY OF NOTRE DAME   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALKANETHIOL FILMS; MOLECULAR CLUSTERS; OCTANETHIOL; STRUCTURAL REARRANGEMENT;

CHEMISORPTION; MATHEMATICAL MODELS; MOLECULAR STRUCTURE; ORDER DISORDER TRANSITIONS; PHASE COMPOSITION; SUBSTRATES;

MONOLAYERS;

FULLERENE C60; FULLERENE DERIVATIVE; GOLD; N OCTANETHIOL; N-OCTANETHIOL; THIOL DERIVATIVE; UNCLASSIFIED DRUG;

ADSORPTION; ARTICLE; CHEMISTRY; CLUSTER ANALYSIS; CONFORMATION; ELECTRON MICROSCOPY; KINETICS; METHODOLOGY; ORGANIC CHEMISTRY; SURFACE PROPERTY; TEMPERATURE; THEORETICAL MODEL; THERMODYNAMICS;

ADSORPTION; CHEMISTRY, ORGANIC; CLUSTER ANALYSIS; FULLERENES; GOLD RADIOISOTOPES; KINETICS; MICROSCOPY, ELECTRON; MODELS, THEORETICAL; MOLECULAR CONFORMATION; SULFHYDRYL COMPOUNDS; SURFACE PROPERTIES; TEMPERATURE; THERMODYNAMICS;

EID: 33846123955     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la062148n     Document Type: Article

References (69)

1. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550-1552.
2. Hamadani, B. H.; Corley, D. A.; Ciszek, J. W.; Tour, J. M.; Natelson, D. Nano Lett. 2006, 6, 1303-1306.
3. Hatzor, A.; Weiss, P. S. Science 2001, 297, 1019-1020.
4. He, J. L.; Chen, B.; Flatt, A. K.; Stephenson, J. J.; Doyle, C. D.; Tour, J. M. Nature Mater. 2006, 5, 63-68.
5. Jang, S. S.; Jang, Y. H.; Kim, Y. H.; Goddard, W. A.; Flood, A. H.; Laursen, B. W.; Tseng, H. R.; Stoddart, J. F.; Jeppesen, J. O.; Choi, J. W.; Steuerman, D. W.; Delonno, E.; Heath, J. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 1563-1575.
6. Jung, G. Y.; Johnston-Halperin, E.; Wu, W.; Yu, Z. N.; Wang, S. Y.; Tong, W. M.; Li, Z. Y.; Green, J. E.; Sheriff, B. A.; Boukai, A.; Bunimovich, Y.; Heath, J. R.; Williams, R. S. Nano Lett. 2006, 6, 351-354.
7. Kumar, A.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1994, 10, 1498-1511.
8. Reed, M. A. Proc. IEEE 1999, 87, 652-658.
9. Smith, R. K.; Lewis, P. A.; Weiss, P. S. Prog. Surf. Sci. 2004, 75, 1-68.
10. Xia, Y. N.; Rogers, J. A.; Paul, K. E.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 1999, 99, 1823-1848.
11. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Charles, L. F.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 8017-8021.
12. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8122-8127.
13. Kumar, A.; Whitesides, G. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2002-2004.
14. Ivanisevic, A.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7887-7889.
15. Finer, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S. H.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661-663.
16. Nuzzo, R. G.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1983, 105, 4481-4483.
17. Barrena, E.; Ocal, C.; Salmeron, M. J. Chem. Phys. 2001, 114, 4210-4214.
18. Camillone, N.; Eisenberger, P.; Leung, T. Y. B.; Schwartz, P.; Scoles, G.; Poirier, G. E.; Tarlov, M. J. J. Chem. Phys. 1994, 101, 11031-11036.
19. Kang, J.; Rowntree, P. A. Langmuir 1996, 12, 2813-2819.
20. Poirier, G. E. Chem. Rev. 1997, 97, 1117-1127.
21. Poirier, G. E. Langmuir 1999, 15, 1167-1175.
22. Poirier, G. E.; Fitts, W. P.; White, J. M. Langmuir 2001, 17, 1176-1183.
23. Poirier, G. E.; Pylant, E. D. Science 1996, 272, 1145-1148.
24. Qian, Y.L.; Yang, G. H.; Yu, J. J.; Jung, T. A.; Liu, G. Y. Langmuir 2003, 19, 6056-6065.
25. Schönenberger, C.; Jorritsma, J.; Sondag-Huethorst, J. A. M.; Fokkink, L. G. J. J. Phys. Chem. 1995, 99, 3259-3271.
26. Schreiber, F. Prog. Surf. Sci. 2000, 65, 151-256.
27. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533-1554.
28. Xiao, X. D.; Wang, B.; Zhang, C.; Yang, Z.; Loy, M. M. T. Surf. Sci. 2001, 472, 41-50.
29. Yang, G. H.; Liu, G. Y. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 8746-8759.
30. Yourdshahyan, Y.; Rappe, A. M. J. Chem. Phys. 2002, 117, 825-833.
31. Zhang, L. Z.; Goddard, W. A.; Jiang, S. Y. J. Chem. Phys. 2002, 117, 7342-7349.
32. Poirier, G. E. Langmuir 1997, 13, 2019-2026.
33. Poirier, G. E.; Tarlov, M. J. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10966-10970.
34. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 11136-11142.
35. Altman, E. I.; Colton, R. J. Surf. Sci. 1992, 279, 49-67.
36. Altman, E. I.; Colton, R. J. Phys. Rev. B 1993, 48, 18244-18249.
37. Altman, E. I.; Colton, R. J. Surf. Sci. 1993, 295, 13-33.
38. Rogero, C.; Pascual, J. I.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M. J. Chem. Phys. 2002, 116, 832-836.
39. Guo, S.; Fogarty, D. P.; Nagel, P. M.; Kandel, S. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 14074-14081.
40. Chen, T.; Howells, S.; Gallagher, M.; Sarid, D.; Lamb, L. D.; Huffman, D. R.; Workman, R. K. Phys. Rev. B 1992, 45, 14411-14414.
41. Katsonis, N.; Marchenko, A.; Fichou, D. Adv. Mater. 2004, 16, 309-312.
42. Guo, S.; Fogarty, D. P.; Nagel, P. M.; Kandel, S. A. Proc. SPIE 2004, 5513, 185-195.
43. Bonifazi, D.; Spillmann, H.; Kiebele, A.; de Wild, M.; Seiler, P.; Cheng, F. Y.; Güntherodt, H. J.; Jung, T.; Diederich, F. Angew. Chem. 2004, 43, 4759-4763.
44. de Wild, M.; Berner, S.; Suzuki, H.; Yanagi, H.; Schlettwein, D.; Ivan, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H. J.; Jung, T. A. Chemphyschem 2002, 3, 881-885.
45. Griessl, S. J. H.; Lackinger, M.; Jamitzky, F.; Markert, T.; Hietschold, M.; Heckl, W. M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 11556-11560.
46. Theobald, J. A.; Oxtoby, N. S.; Champness, N. R.; Beton, P. H.; Dennis, T. J. S. Langmuir 2005, 21, 2038-2041.
47. Theobald, J. A.; Oxtoby, N. S.; Phillips, M. A.; Champness, N. R.; Beton, P. H. Nature (London) 2003, 424, 1029-1031.
48. Xu, B.; Tao, C. G.; Williams, E. D,; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 8493-8499.
49. Hou, J. G.; Yang, J. L.; Wang, H. Q.; Li, Q. X.; Zeng, C. G.; Yuan, L. F.; Wang, B.; Chen, D. M.; Zhu, Q. S. Nature (London) 2001, 409, 304-305.
50. Zeng, C. G.; Wang, B.; Li, B.; Wang, H. Q.; Hou, J. G. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1685-1687.
51. Pérez-Jiménez, A. J.; Palacios, J. J.; Louis, E.; Sanfabián, E.; Vergés, J. A. Chemphyschem 2003, 4, 388-392.
52. Wang, L. L.; Cheng, H. P. Phys. Rev. B 2004, 69, 165417.
53. Chailapakul, O.; Sun, L.; Xu, C. J.; Crooks, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12459-12467.
54. Chechik, V.; Crooks, R. M.; Stirling, C. J. M. Adv. Mater. 2000, 12, 1161-1171.
55. Hierlemann, A.; Campbell, J. K.; Baker, L. A.; Crooks, R. M.; Ricco, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 5323-5324.
56. Kim, Y. G.; Crooks, R. M. Langmuir 2005, 21, 11262-11267.
57. Lackowski, W. M.; Campbell, J. K.; Edwards, G.; Chechik, V.; Crooks, R. M. Langmuir 1999, 15, 7632-7638.
58. Oh, S. K.; Baker, L. A.; Crooks, R. M. Langmuir 2002, 18, 6981-6987.
59. Ross, C. B.; Sun, L.; Crooks, R. M. Langmuir 1993, 9, 632-636.
60. Sabapathy, R. C.; Crooks, R. M. Langmuir 2000, 16, 7783-7788.
61. Thomas, R. C.; Sun, L.; Crooks, R. M.; Ricco, A. J. Langmuir 1991, 7, 620-622.
62. Tokuhisa, H.; Zhao, M. Q.; Baker, L. A.; Phan, V. T.; Dermody, D. L.; Garcia, M. E.; Peez, R. F.; Crooks, R. M.; Mayer, T. M. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 4492-4501.
63. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. P.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307.
64. Donhauser, Z. J.; Price, D. W.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 11462-11463.
65. Smoluchowski. R. Phys. Rev. 1941, 60, 661.
66. Stranick, S. J.; Kamna, M. M.; Weiss, P. S. Science 1994, 266, 99-102.
67. Deering, A.; Van Lue, S.; Kandel, S. A. Langmuir 2005, 21, 10260-10263.
68. These are calculated using the poissfit procedure in Matlab. For large N counts, confidence limits become symmetric 1σ error bars of magnitude √N; for small N, the limits are asymmetric and tend to overestimate the amount of error.
69. Fitts, W. P.; White, J. M.; Poirier, G. E. Langmuir 2002, 18, 2096-2102.