Effect of conductive LaNiO 3 electrode on the structural and ferroelectric properties of Bi 3.25La 0.75Ti 3O 12 films

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 24, 2006, Pages

  Jain, M ^a   Kang, B S ^a   Jia, Q X ^a  

^a LOS ALAMOS NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL SOLUTION DEPOSITION; DEGREE OF ORIENTATION; SWITCHABLE POLARIZATION; SWITCHING CYCLES;

BISMUTH ALLOYS; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMICAL ELECTRODES; ELECTRODEPOSITION; LANTHANUM COMPOUNDS; SUBSTRATES; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

FILM GROWTH;

EID: 33845810066     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2404949     Document Type: Article

References (16)

1. B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature (London) 401, 682 (1999).
2. H. N. Lee and D. Hesse, Appl. Phys. Lett. 80, 1040 (2002).
3. J. S. Kim, I. W. Kim, C. W. Ahn, T. K. Song, S. S. Kim, S. X. Chi, J. S. Bae, and J. H. Jeong, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 6785 (2002).
4. J. S. Lee, B. S. Kang, Y. Lin, and Q. X. Jia, Appl. Phys. Lett. 85, 2586 (2004).
5. S. K. Lee, D. Hesse, and U. Gosele, J. Appl. Phys. 100, 044108 (2006).
6. Y. M. Sun, Y. C. Chen, J. Y. Gan, and J. C. Hwang, Appl. Phys. Lett. 81, 3221 (2002).
7. C. H. Kim, J. K. Lee, H. S. Suh, J. Y. Yi, K. S. Hong, and T. S. Hahn, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 1495 (2002).
8. K. T. Kim and C. I. Kim, Vacuum 74, 665 (2004).
9. S. Aggarwal, S. R. Perusse, B. Nagaraj, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 74, 3023 (1999).
10. J. Zhai and H. Chen, Appl. Phys. Lett. 82, 442 (2003).
11. A. Z. Simes, A. Ries, F. M. Filho, C. S. Riccardi, and J. A. Varela, Appl. Phys. Lett. 85, 5962 (2004).
12. P. A. Lane, M. J. Crosbie, P. J. Wright, P. P. Donohue, P. J. Hirst, C. L. Reeves, C. J. Anthony, J. C. Jones, M. A. Todd, and D. J. Williams, Chem. Vap. Deposition 9, 87 (2003).
13. Q. He, D. K. Christen, R. Feenstra, D. P. Norton, M. Paranthaman, E. D. Specht, D. F. Lee, A. Goyal, and D. M. Kroeger, Physica C 314, 105 (1999).
14. J. Lee, A. Safari, and R. L. Pfeffer, Appl. Phys. Lett. 61, 1643 (1992).
15. N. K. Kim, C. R. Song, S. Y. Kweon, E. S. Choi, S. E. Lee, S. J. Yeom, and J. S. Roh, Integr. Ferroelectr. 47, 177 (2002).
16. S. O. Ryu, N. Y. Lee, W. J. Lee, and S. G. Yoon, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 43, 6594 (2004).