A cross-sectional scanning tunneling microscopy study of a quantum dot infrared photodetector structure

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 4, 2006, Pages

  Ouattara, L ^a   Mikkelsen, A ^a   Lundgren, E ^a   Hoglund L ^b   Asplund, C ^b   Andersson, J Y ^b  

^a LUND UNIVERSITY   (Sweden)

^b ACREO AB   (Sweden)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DEFECTS; IMAGE ANALYSIS; INFRARED RADIATION; PHOTODETECTORS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS;

CROSS-SECTIONAL SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; QUANTUM DOT INFRARED PHOTODETECTORS; QUANTUM WELL LAYERS;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 33748331440     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2245195     Document Type: Article

References (27)

1. K. W. Berryman, S. A. Lyon, and M. Segev, Appl. Phys. Lett. 70, 1861 (1997).
2. S. Kim, H. Mohseni, M. Erdtmann, E. Michel, C. Jelen, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 73, 963 (1998).
3. S. Maimon, E. Finkman, G. Bahir, S. E. Schacham, J. M. Garcia, and P. M. Petroff, Appl. Phys. Lett. 73, 2003 (1998).
4. Z. Chen, O. Blakenov, E. T. Kim, I. Mukhametzhanov, J. Tie, A. Madhukar, Z. Ye, and J. C. Campbell, J. Appl. Phys. 89, 4558 (2001).
5. S. Raghavan, P. Rotella, A. Stintz, B. Fuchs, S. Krishna, C. Morath, D. A. Cardimona, and S. W. Kennerly, Appl. Phys. Lett. 81, 1369 (2002).
6. L. Jiang, S. S. Li, N. Tze Yeh, J.-I. Chyi, C. E. Ross, and K. S. Jones, Appl. Phys. Lett. 82, 1986 (2003).
7. E.-T. Kim, A. Madhukar, Z. Ye, and J. C. Campbell, Appl. Phys. Lett. 84, 3277 (2004).
8. S. Krishna, J. Phys. D 38, 2142 (2005).
9. S. Raghavan et al., J. Appl. Phys. 96, 1036 (2004).
10. E. T. Kim, Z. Chen, and A. Madhukar, Appl. Phys. Lett. 81, 3473 (2002).
11. S. Krishna, S. Raghavan, G. von Winckel, P. Rotella, A. Stintz, C. P. Morath, D. Le, and S. W. Kennedy, Appl. Phys. Lett. 82, 2574 (2003).
12. E.-T. Kim, Z. Chen, and A. Madhukar, Appl. Phys. Lett. 79, 3341 (2001).
13. R. M. Feenstra and J. A. Stroscio, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 923 (1987).
14. J. F. Zheng, J. D. Walker, M. B. Salmeron, and E. R. Weber, Phys. Rev. Lett. 72, 2414 (1994).
15. M. Pfister, M. B. Johnson, S. F. Alvarado, H. W. M. Salemink, U. Marti, D. Martin, F. Morier-Genoud, and F. K. Reinhart, Appl. Phys. Lett. 67, 1459 (1995).
16. K.-J. Chao, C.-K. Shih, D. W. Gotthold, and B. G. Streetman, Phys. Rev. Lett. 79, 4822 (1997).
17. D. M. Bruls, J. W. A. M. Vugs, P. M. Koenraad, M. S. Skolnick, M. Hopkinson, and J. H. Wolter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 72, S205 (2001).
18. D. M. Bruls et al., Appl. Phys. Lett. 81, 1708 (2002).
19. H. Eisele, A. Lenz, Ch. Hennig, R. Timm, M. Ternes, and M. Dähne, J. Cryst. Growth 248, 322 (2003).
20. T. S. Jones, P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, and B. A. Joyce, Phys. Rev. B 58, R15981 (1998).
21. P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, T. S. Jones, S. Malik, D. Childs, and R. Murray, Phys. Rev. B 62, 10891 (2000).
22. L. Ouattara, A. Mikkelsen, E. Lundgren, M. Borgström, W. Seifert, and L. Samuelson, Nanotechnology 15, 1701 (2004).
23. G. Lengel, R. Wilkins, G. Brown, and M. Weimer, J. Vac. Sci. Technol. B 11, 1472 (1993).
24. H. P. Ebert, Mater. Today 6, 36 (2003).
25. J. F. Zheng, X. Liu, N. Newman, E. R. Weber, D. F. Ogletree, and M. Salmeron, Phys. Rev. Lett. 72, 1490 (1994).
26. C. Domke, Ph. Ebert, M. Heinrich, and K. Urban, Phys. Rev. B 54, 10288 (1996).
27. J. A. Stroscio, R. M. Feenstra, and A. P. Fein, Phys. Rev. Lett. 58, 1668 (1987).