Comparison of degradation mechanisms of blue-violet laser diodes grown on SiC and GaN substrates

Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

Volumn 203, Issue 7, 2006, Pages 1797-1801

  Furitsch, M ^a   Avramescu, A ^a   Eichler, C ^a   Engl, K ^a   Leber, A ^a   Miler, A ^a   Rumbolz, C ^a   Bruderl G ^a   Strauss U ^a   Lell, A ^a   Harle V ^a  

^a OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BLUE VIOLET LASER DIODES; DIFFUSION CHANNELS; HOMO EPITAXY; THREADING DISLOCATION DENSITY (TDD);

CRYSTAL STRUCTURE; EPITAXIAL GROWTH; GALLIUM NITRIDE; SILICON CARBIDE; SUBSTRATES;

SEMICONDUCTOR LASERS;

EID: 33745035479     PISSN: 18626300     EISSN: 18626319     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.200565310     Document Type: Article

References (16)

1. S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H. Kiyoku, and Y. Sugimoto, Jpn. J. Appl. Phys. 35, 74 (1996).
2. M. Kneissl, D. P. Bour, L. Romano, C. G. Van de Walle, J. E. Northrup, W. S. Wong, D. W. Treat, M. Teepe, T. Schmidt, and N. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 77, 1931 (2000).
3. V. Kümmler, G. Brüderl, S. Bader, S. Miller, A. Weimar, A. Lell, V. Härle, U. T. Schwarz, N. Gmeinwieser, and W. Wegscheider, phys. stat. sol. (a) 194, 419 (2002).
4. S. Nakamura, Semicond. Sci. Technol. 14, R27 (1999).
5. T. Tojyo, T. Asano, M. Takeya, T. Hino, S. Kijima, S. Goto, S. Uchida, and M. Ikeda, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3206 (2001).
6. T. Asano, M. Takeya, T. Mizuno, S. Ikeda, Y. Ohfuji, T. Fujimoto, K. Oikawa, S. Goto, T. Hashizu, K. Aga, and M. Ikeda, Proc. SPIE 5365, 297 (2004).
7. S. Bader, B. Hahn, H.-J. Lugauer, A. Lell, A. Weimar, G. Brüderl, J. Baur, D. Eisert, M. Scheubeck, S. Heppel, A. Hangleiter, and V. Härle, phys. stat. sol. (a) 180, 177 (2000).
8. C. Rumbolz, G. Brüderl, A. Leber, C. Eichler, M. Furitsch, A. Avramescu, A. Miller, A. Lell, U. Strauß, and V. Härle, phys. stat. sol. (a) 203, 1793 (2006) (this issue).
9. V. Kümmler, A. Lell, V. Härle, U. T. Schwarz, T. Schödl, and W. Wegscheider, Appl. Phys. Lett. 84, 2989 (2004).
10. T. Schödl, U. T. Schwarz, S. Miller, A. Leber, M. Furitsch, A. Lell, and V. Härle, phys. stat. sol. (a) 201, 2635 (2004).
11. S. Tomiya, S. Goto, M. Takeya, and M. Ikeda, phys. stat. sol. (a) 200, 139 (2003).
12. M. Hansen, P. Fini, L. Zhao, A. C. Abare, L. A. Coldren, J. S. Speck, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Lett. 76, 529 (2000).
13. J. M. Shah, Y. L. Li, T. Gessmann, and E. F. Schubert, J. Appl. Phys. 94, 2627 (2003).
14. G. Meneghesso, S. Levada, E. Zanoni, S. Podda, G. Mura, M. Vanzi, A. Cavallini, A. Castaldini, S. Du, and I. Eliashevich, phys. stat. sol. (a) 194, 389 (2002).
15. O. Pursiainen, N. Linder, A. Jaeger, R. Oberschmid, and K. Streubel, Appl. Phys. Lett. 79, 2895 (2001).
16. O. H. Nam, K. H. Ha, J. S. Kwak, S. N. Lee, K. K. Choi, T. H. Chang, S. H. Chae, W. S. Lee, Y. J. Sung, H. S. Paek, J. H. Chae, T. Sakong, J. K. Son, H. Y. Ryu, Y. H. Kim, and Y. Park, phys. stat. sol. (a) 201, 2717 (2004).