Electron transport in two-dimensional arrays of gold nanocrystals investigated by scanning electrochemical microscopy

Journal of the American Chemical Society

Volumn 126, Issue 22, 2004, Pages 7126-7132

  Liljeroth, Peter ^b   Vanmaekelbergh, Daniël ^b   Ruiz, Virginia ^a   Kontturi, Kyösti ^a   Jiang, Hua ^a,c   Kauppinen, Esko ^a   Quinn, Bernadette M ^a  

^a AALTO UNIVERSITY   (Finland)

^b UTRECHT UNIVERSITY   (Netherlands)

^c VTT TECHNICAL RESEARCH CENTRE OF FINLAND   (Finland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROCHEMISTRY; ELECTRON TRANSITIONS; MONOLAYERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OPTICAL MICROSCOPY; SCANNING;

ELECTRON TRANSPORT; TWO-DIMENSIONAL ARRAYS;

GOLD;

ALKANE; GOLD; NANOPARTICLE;

ARTICLE; COMPRESSION; CONDUCTANCE; CRYSTAL STRUCTURE; ELECTRON; ELECTRON TRANSPORT; LANGMUIR BLODGETT FILM; ROOM TEMPERATURE; SCANNING ELECTROCHEMICAL MICROSCOPY;

EID: 3042816071     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja0493188     Document Type: Article

References (61)

1. (a) Markovich, G.; Collier, C. P.; Henrichs, S. E.; Remacle, F.; Levine, R. D.; Heath, J. R. Acc. Chem. Res. 1999, 32, 415.
2. (b) Templeton, A. C.; Wuelfing, W. P.; Murray, R. W. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 27.
3. (c) Collier, C. P.; Vossmeyer, T.; Heath, J. R. Annu. Rev. Phys. Chem. 1998, 49, 371.
4. (d) Shenhar, R.; Rotello, V. M. Acc. Chem. Res. 2003, 36, 549.
5. (e) Brust, M.; Walker, M.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Whyman, R. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1994, 801.
6. (f) Roest, A. L.; Kelly, J. J.; Vanmaekelbergh, D.; Meulenkamp, E. A. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 036801.
7. (g) Shim, M.; Guyot-Sionnest, P. Nature 2000, 407, 981.
8. (h) Yu, D.; Wang, C.; Guyot-Sionnest, P. Science 2003, 300, 1277.
9. (a) Chen, S.; Ingram, R. S.; Hostetler, M. J.; Pietron, J. J.; Murray, R. W.; Schaaff, T. G.; Khoury, J. T.; Alvarez, M. M.; Whetten, R. L. Science 1998, 280, 2098.
10. (b) Collier, C. P.; Saykally, R. J.; Shiang, J. J.; Henrichs, S. E.; Heath, J. R. Science 1997, 277, 1978.
11. (c) Murray, C. B.; Kagan, C. R.; Bawendi, M. G. Annu. Rev. Mater. Sci. 2000, 30, 545.
12. (d) Murray, C. B.; Norris, D. J.; Bawendi, M. G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 8706.
13. (e) Klimov, V. I.; Mikhailovsky, A. A.; Xu, S.; Malko, A.; Hollingsworth, J. A.; Leatherdale, C. A.; Eisler, H. J.; Bawendi, M. G. Science 2000, 290, 314.
14. (f) Taton, T. A.; Mirkin, C. A.; Letsinger, R. L. Science 2000, 289, 1757.
15. Pietron, J. J.; Hicks, J. F.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 5565.
16. (a) Wuelfing, W. P.; Murray, R. W. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 3139.
17. (b) Hicks, J. F.; Zamborini, F. P.; Osisek, A. J.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7048.
18. (c) Zamborini, F. P.; Hicks, J. F.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4514.
19. (d) Wuelfing, W. P.; Green, S. J.; Pietron, J. J.; Cliffel, D. E.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 11465.
20. (e) Chen, S.; Murray, R. W. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 9996.
21. (f) Remacle, F.; Beverly, K. C.; Heath, J. R.; Levine, R. D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 4116.
22. (g) Beverly, K. C.; Sampaio, J. F.; Heath, J. R. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2131.
23. (h) Sampaio, J. F.; Beverly, K. C.; Heath, J. R. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 8797.
24. (a) Kim, S. H.; Medeiros-Ribeiro, G.; Ohlberg, D. A. A.; Williams, R. S.; Heath, J. R. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 10341.
25. (b) Markovich, G.; Collier, C. P.; Heath, I. R. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 3807.
26. (c) Remacle, F.; Collier, C. P.; Heath, J. R.; Levine, R. D. Chem. Phys. Lett. 1998, 291, 453.
27. (a) Beverly, K. C.; Sample, J. L.; Sampaio, J. F.; Remacle, F.; Heath, J. R.; Levine, R. D. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2002, 99, 6456.
28. (b) Remacle, F.; Levine, R. D. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 2153.
29. (a) Parthasarathy, R.; Lin, X.-M.; Jaeger, H. M. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 186807.
30. (b) Lin, X.-M.; Jaeger, H. M.; Sorensen, C. M.; Klabunde, K. J. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 3353.
31. (c) Kiely, C. J.; Fink, J.; Brust, M.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J. Nature 1998, 396, 444.
32. (d) Santhanam, V.; Liu, J.; Agarwal, R.; Andres, R. P. Langmuir 2003, 19, 7881.
33. Lee, W.-Y.; Hostetler, M. J.; Murray, R. W.; Majda, M. Isr. J. Chem. 1997, 37, 213.
34. Chen, S. Anal. Chim. Acta 2003, 496, 29.
35. Yang, Y.; Pradhan, S.; Chen, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 76.
36. Beverly, K. C.; Heath, J. R. Personal communication, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91125, 2004.
37. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods, Fundamentals and Applications, 2nd ed.; John Wiley & Sons: New York, 2001.
38. (a) Slevin, C. J.; Unwin, P. R. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 2597.
39. (b) Zhang, J.; Unwin, P. R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2379.
40. (c) Zhang, J.; Slevin, C. J.; Morton, C.; Scott, P.; Walton, D. J.; Unwin, P. R. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 11120.
41. Quinn, B. M.; Prieto, I.; Haram, S. K.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 7474.
42. (a) Mandler, D.; Unwin, P. R. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 407.
43. (b) Liljeroth, P.; Quinn, B. M.; Ruiz, V.; Kontturi, K. Chem. Commun. 2003, 1570,
44. (c) Ruiz, V.; Liljeroth, P.; Quinn, B. M.; Kontturi, K. Nano Lett. 2003, 3, 1459.
45. (a) Miles, D. T.; Murray, R. W. Anal. Chem. 2003, 75, 1251.
46. (b) Schaaff, T. G.; Shafigullin, M. N.; Khoury, J. T.; Vezmar, I.; Whetten, R. L. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 8785.
47. (c) Hicks, J. F.; Miles, D. T.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 13322.
48. (d) Quinn, B. M.; Liljeroth, P.; Ruiz, V.; Laaksonen, T.; Kontturi, K. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 6644.
49. (a) Chen, S.; Murray, R. W.; Feldberg, S. W. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9898.
50. (b) Miles, D. T.; Leopold, M. C.; Hicks, J. F.; Murray, R. W. J. Electroanal. Chem. 2003, 554-555, 87.
51. Hicks, J. F.; Templeton, A. C.; Chen, S.; Sheran, K. M.; Jasti, R.; Murray, R. W.; Debord, J.; Schaaff, T. G.; Whetten, R. L. Anal. Chem. 1999, 71, 3703.
52. Shimizu, T.; Teranishi, T.; Hasegawa, S.; Miyake, M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 2719.
53. Bard, A. J.; Fan, F. R. F.; Mirkin, M. V. In Electroanalytical Chemistry; Bard, A. J., Ed.; Marcel Dekker: New York, 1994; Vol. 18; p 243.
54. Amphlett, J. L.; Denuault, G. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9946.
55. (a) Henrichs, S.; Collier, C. P.; Saykally, R. J.; Shen, Y. R.; Heath, J. R. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4077.
56. (b) Brust, M.; Stuhr-Hansen, N.; Nørgaard, K.; Christensen, J. B.; Nielsen, L. K.; Bjørnholm, T. Nano Lett. 2001, 1, 189.
57. (c) Nørgaard, K.; Weygand, M. J.; Kjaer, K.; Brust, M.; Bjørnholm, T. Faraday Discuss. 2003, 125.
58. Shiang, J. J.; Heath, J. R.; Collier, C. P.; Saykally, R. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 3425.
59. Zamborini, F. P.; Leopold, M. C.; Hicks, J. F.; Kulesza, P. J.; Malik, M. A.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 8958.
60. Zhang, J.; Barker, A. L.; Mandler, D.; Unwin, P. R. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 9312.
61. Remacle, F.; Levine, R. D. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4084.