Quantized double-layer charging of highly monodisperse metal nanoparticles

Journal of the American Chemical Society

Volumn 124, Issue 44, 2002, Pages 13322-13328

  Hicks, Jocelyn F ^a,b   Miles, Deon T ^a,c   Murray, Royce W ^a  

^a University of North Carolina at Chapel Hill   (United States)

^b DUPONT COMPANY   (United States)

^c UNIVERSITY OF THE SOUTH   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

QUANTIZED DOUBLE LAYER (QDL);

ANNEALING; ELECTROCHEMISTRY; GOLD; MONOLAYERS;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

GOLD DERIVATIVE; NANOPARTICLE;

ARTICLE; CYCLIC POTENTIOMETRY; DIFFUSION; ELECTROCHEMISTRY; OXIDATION REDUCTION REACTION; TEMPERATURE;

EID: 0037032240     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja027724q     Document Type: Article

References (49)

1. (a) Templeton, A. C.; Wuelfing, W. P.; Murray, R. W. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 27.
2. (b) Whetten, R. L.; Shafigullin, M. N.; Khoury, J. T.; Schaaff, T. G.; Vezmar, I.; Alvarez, M. M.; Wilkinson, A. Acc. Chem. Res. 1999, 32, 397.
3. (c) Brust, M.; Walker, M.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Whyman, R. J. Chem. Soc. Chem. Commun. 1994, 801.
4. (d) Brown, L. O.; Hutchison, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 12 384.
5. Schmid, G. Inorg. Synth. 1990, 27, 214.
6. Brown, L. O.; Hutchison, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 882.
7. Hostetler, M. J.; Wingate, J.; Zhong, C.-J.; Harris, J. E.; Vachet, R. W.; Clark, M. R.; Londono, J. D.; Green, S. J.; Stokes, J. J.; Wignall, G. D.; Glish, G. L.; Porter, M. D.: Evans, N. D.; Murray, R. W. Langmuir, 1998, 14, 17.
8. Whetten, R. L.; Khoury, J. T.; Alvarez, M. M.; Murthy, S.; Vezmar, I.; Wang, Z. L.; Stephen, P. W.; Cleveland, C. L.; Luedtke, W. D.; Landman, U. Adv. Mater. 1996, 5, 428.
9. (a) Schaaff, T. G.; Whetten, R. L. J. Phys. Chem. 1999, 103, 9394.
10. (b) Wilcoxon, J. P.; Martin, J. E.; Parsapour, F.; Wiedenman, B.; Kelley, D. F. J. Chem. Phys. 1998, 108, 9137.
11. Hicks, J. F.; Templeton, A. C.; Chen, S.; Sheran, K. M.; Jasti, R.; Murray, R. W.; Debord, J.; Schaaff, T. G.; Whetten, R. L. Anal. Chem. 1999, 71, 3703.
12. (a) Wilcoxon, J. P.; Martin, J. E.; Provencio, P. Langmuir, 2000, 16, 9912.
13. (b) Wei, G.; Liu, F.; Wang, C. R. C. Anal. Chem. 1999, 71, 2085.
14. Templeton, A. C.; Chen, S.; Gross, S. M.; Murray, R. W. Langmuir, 1999, 15, 66.
15. (a) Alvarez, M. M.; Khoury, J. T.; Schaaff, T. G.; Shafigullin, M.; Vezmar, I.: Whetten, R. L. Chem. Phys. Lett. 1997, 266, 91-98.
16. (b) Schaaff, T. G.; Shafigullin, M. N.; Khoury, J. T. Vezmar, I.; Whetten, R. I. J. Phys. Chem. 2001, 105, 8785.
17. 1,12b to point to the same nanoparticle material. We consider these differences to be within the uncertainty of the available analytical information and would not contest the difference in formulation.
18. (a) Ingram, R. S.; Hostetler, M. J.; Pietron, J. J.; Murray, R. W.; Schaaff, T. G.; Khoury, J.; Whetten, R. L.; Bigioni, T. P.; Guthrie, D. K.; First, P. N. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 9279.
19. (b) Chen, S.; Ingram, R. S.; Hostetler, M. J.; Pietron, J. J.; Murray, R. W.; Schaaff, T. G.; Khoury, J.; Alvarez, M. M.; Whetten, R. L. Science 1998, 280, 2098.
20. (c) Chen, S.; Murray, R. W.; Feldberg, S. W. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9898.
21. (a) Chen, S. J. Phys. Chem. 2000, 104, 663.
22. (b) Chen, S. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5280.
23. (c) Chen, S.; Murray, R. W. Langmuir, 1999, 3, 682.
24. (a) Chen, S.; Murray, R. W. J. Phys. Chem. B. 1999, 103, 9996.
25. (b) Hicks, J. F.; Zamborini, F. P.; Murray, R. W. J. Phys. Chem. B. 2002, to be published.
26. (a) Zamborini, F. P.; Hicks, J. F.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 5415.
27. (b) Hicks, J. F.; Zamborini, F. P.; Osisek, A. J.; Murray R. W. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7048.
28. Green, S. J.; Stokes, J. J.; Hostetler, M. J.; Pietron, J.; Murray, R. W. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 2663.
29. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
30. (a) Hostetler, M. J.; Green, S. J.; Stokes, J. J.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 4212.
31. (b) Green, S. J.; Pietron, J. J.; Stokes, J. J.; Hostetler, M. J.; Vu, H.; Wuelfing, W. P.; Murray, R. W. Langmuir 1998, 14, 5612.
32. Reimers, J. R.; Hush, N. S. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 8979.
33. Georganopoulou, D. Unpublished results, University of North Carolina 2002.
34. Bard, A. J.; Faulker, L. R. Electrochemical Methods, 2nd Ed.; Wiley: New York, 2001, (a) Equation 9.3.22; (b) page 291; and (c) page 545.
35. (a) Ingram, R. S.; Hostetler, M. J.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 9175.
36. (b) Templeton, A. C.; Hostetler, M. J.; Kraft, C. T.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 1906.
37. Wuelfing, W. P.; Templeton, A. C.; Hicks, I. F.; Murray, R. W. Anal. Chem. 1999, 71, 4069.
38. Ingram, R. S. Ph.D. Thesis, University of North Carolina, 1997.
39. Maye, M. M.; Zheng, W.; Leibowitz, F. L.; Ly, N. K.; Zhong, C.-J. Langmuir 2000, 16, 490-497.
40. Shon, Y.-S.; Dawson, B.; Porter, M.; Murray, R. W. Langmuir, 2002, 18, 3880-3885.
41. Miles, D. T.; Murray, R. W., submitted for publication.
42. (a) Delahay, P, Double Layer and Electrode Kinetics; Wiley: New York, 1965.
43. (b) Korzeniewski, C.; Conway, B. E. The Electrochemical Double Layer, The Electrochemical Society, Pennington, NJ. 1997.
44. Becka, A. M.; Miller, C. J. J. Phys. Chem. 1993, 97, 6233.
45. (a) Chen, S.; Renjun, P. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 10 607.
46. (b) Chen, S. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 7420.
47. Bigioni, T. P. Whetten, R. L.; Dag, O. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 6983.
48. Haberlen, O. D.; Chung, S.-C.; Stener, M.; Rosch, N. J. Chem. Phys. 1997, 106, 5189-5201. (See Figure 8).
49. Bigioni, T. P.; Harrell, L. E.; Cullen, W. G.; Guthrie, D. K.; Whetten, R. L.; First, P. N. Euro. Phys. J. D 1999, 6, 355-364.