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Volumn 69, Issue 3, 2004, Pages

Band discontinuity at ultrathin SiO2/Si(001) interfaces

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SILICON; SILICON DIOXIDE;

EID: 1442263735     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.69.035312     Document Type: Article
Times cited : (17)

References (21)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.