-
3
-
-
0004220883
-
-
CRC Press: Boca Raton, FL
-
Handbook of Micro/Nanotribology; Bhushan, B., Ed.; CRC Press: Boca Raton, FL, 1995. Tribology Issues and Opportunities in MEMS; Bhushan, B., Ed.; Kluwer: Boston, 1998.
-
(1995)
Handbook of Micro/Nanotribology
-
-
Bhushan, B.1
-
5
-
-
84957350232
-
-
Singer, I. L. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2605. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74. Rozman, M. G.; Urbakh, M.; Klafter, J.; Elmer, F.-J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7924. Harrison, J. A.; Perry, S. S. MRS Bulletin 1998, 23, 27. Landman, U. Solid State Commun. 1998, 107, 693.
-
(1994)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.12
, pp. 2605
-
-
Singer, I.L.1
-
6
-
-
0029292717
-
-
Singer, I. L. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2605. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74. Rozman, M. G.; Urbakh, M.; Klafter, J.; Elmer, F.-J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7924. Harrison, J. A.; Perry, S. S. MRS Bulletin 1998, 23, 27. Landman, U. Solid State Commun. 1998, 107, 693.
-
(1995)
Nature
, vol.374
, pp. 607
-
-
Bhushan, B.1
Israelachvili, J.N.2
Landman, U.3
-
7
-
-
0030270665
-
-
Singer, I. L. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2605. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74. Rozman, M. G.; Urbakh, M.; Klafter, J.; Elmer, F.-J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7924. Harrison, J. A.; Perry, S. S. MRS Bulletin 1998, 23, 27. Landman, U. Solid State Commun. 1998, 107, 693.
-
(1996)
Sci. Am.
, vol.275
, pp. 74
-
-
Krim, J.1
-
8
-
-
0000721994
-
-
Singer, I. L. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2605. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74. Rozman, M. G.; Urbakh, M.; Klafter, J.; Elmer, F.-J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7924. Harrison, J. A.; Perry, S. S. MRS Bulletin 1998, 23, 27. Landman, U. Solid State Commun. 1998, 107, 693.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 7924
-
-
Rozman, M.G.1
Urbakh, M.2
Klafter, J.3
Elmer, F.-J.4
-
9
-
-
0032099516
-
-
Singer, I. L. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2605. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74. Rozman, M. G.; Urbakh, M.; Klafter, J.; Elmer, F.-J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7924. Harrison, J. A.; Perry, S. S. MRS Bulletin 1998, 23, 27. Landman, U. Solid State Commun. 1998, 107, 693.
-
(1998)
MRS Bulletin
, vol.23
, pp. 27
-
-
Harrison, J.A.1
Perry, S.S.2
-
10
-
-
0032493576
-
-
Singer, I. L. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2605. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74. Rozman, M. G.; Urbakh, M.; Klafter, J.; Elmer, F.-J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7924. Harrison, J. A.; Perry, S. S. MRS Bulletin 1998, 23, 27. Landman, U. Solid State Commun. 1998, 107, 693.
-
(1998)
Solid State Commun.
, vol.107
, pp. 693
-
-
Landman, U.1
-
11
-
-
0029407934
-
-
Mate, C. M. IBM J. Res. Dev. 1995, 39, 617. Carpick, R. W.; Salmeron, M. Chem. Rev. 1997, 97, 1163.
-
(1995)
IBM J. Res. Dev.
, vol.39
, pp. 617
-
-
Mate, C.M.1
-
12
-
-
0043039452
-
-
Mate, C. M. IBM J. Res. Dev. 1995, 39, 617. Carpick, R. W.; Salmeron, M. Chem. Rev. 1997, 97, 1163.
-
(1997)
Chem. Rev.
, vol.97
, pp. 1163
-
-
Carpick, R.W.1
Salmeron, M.2
-
13
-
-
0343681011
-
-
Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Erlandsson, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942.
-
(1987)
Phys. Rev. Lett.
, vol.59
, pp. 1942
-
-
Mate, C.M.1
McClelland, G.M.2
Erlandsson, R.3
Chiang, S.4
-
14
-
-
0001737343
-
-
Overney, R. M.; Takano, H.; Fujihira, M.; Paulus, W.; Ringsdorf, H. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 3546.
-
(1994)
Phys. Rev. Lett.
, vol.72
, pp. 3546
-
-
Overney, R.M.1
Takano, H.2
Fujihira, M.3
Paulus, W.4
Ringsdorf, H.5
-
15
-
-
5544301719
-
-
Carpick, R. W.; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1289. Carpick, R. W ; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 3334. Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Bammerlin, M.; Guggisberg, M.; Güntherodt, H.-J. J. Vac, Sci. Technol. B 1996, 14, 1285.
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.14
, pp. 1289
-
-
Carpick, R.W.1
Agraït, N.2
Ogletree, D.F.3
Salmeron, M.4
-
16
-
-
0030156294
-
-
Carpick, R. W.; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1289. Carpick, R. W ; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 3334. Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Bammerlin, M.; Guggisberg, M.; Güntherodt, H.-J. J. Vac, Sci. Technol. B 1996, 14, 1285.
-
(1996)
Langmuir
, vol.12
, pp. 3334
-
-
Carpick, R.W.1
Agraït, N.2
Ogletree, D.F.3
Salmeron, M.4
-
17
-
-
0000618050
-
-
Carpick, R. W.; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1289. Carpick, R. W ; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 3334. Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Bammerlin, M.; Guggisberg, M.; Güntherodt, H.-J. J. Vac, Sci. Technol. B 1996, 14, 1285.
-
(1996)
J. Vac, Sci. Technol. B
, vol.14
, pp. 1285
-
-
Meyer, E.1
Lüthi, R.2
Howald, L.3
Bammerlin, M.4
Guggisberg, M.5
Güntherodt, H.-J.6
-
18
-
-
0001536906
-
-
Lantz, M. A.; O'Shea, S. J.; Weiland, M. E.; Johnson, K. L. Phys. Rev. B 1997, 55, 10776. Enachescu, M.; van den Oetelaar, R. J. A.; Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Flipse, C. F. J.; Salmeron, M. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 1877.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.55
, pp. 10776
-
-
Lantz, M.A.1
O'Shea, S.J.2
Weiland, M.E.3
Johnson, K.L.4
-
19
-
-
11544310185
-
-
Lantz, M. A.; O'Shea, S. J.; Weiland, M. E.; Johnson, K. L. Phys. Rev. B 1997, 55, 10776. Enachescu, M.; van den Oetelaar, R. J. A.; Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Flipse, C. F. J.; Salmeron, M. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 1877.
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.81
, pp. 1877
-
-
Enachescu, M.1
Van Den Oetelaar, R.J.A.2
Carpick, R.W.3
Ogletree, D.F.4
Flipse, C.F.J.5
Salmeron, M.6
-
20
-
-
0000033885
-
-
Schwarz, U. D.; Zwörner, O.; Köster, P.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1997, 56, 6987; and Phys. Rev. B 1997, 56, 6997. Schwarz, U. D.; Allers, W.; Gensterblum, G.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1995, 52, 14976.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 6987
-
-
Schwarz, U.D.1
Zwörner, O.2
Köster, P.3
Wiesendanger, R.4
-
21
-
-
16444378025
-
-
Schwarz, U. D.; Zwörner, O.; Köster, P.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1997, 56, 6987; and Phys. Rev. B 1997, 56, 6997. Schwarz, U. D.; Allers, W.; Gensterblum, G.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1995, 52, 14976.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 6997
-
-
-
22
-
-
0000893263
-
-
Schwarz, U. D.; Zwörner, O.; Köster, P.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1997, 56, 6987; and Phys. Rev. B 1997, 56, 6997. Schwarz, U. D.; Allers, W.; Gensterblum, G.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1995, 52, 14976.
-
(1995)
Phys. Rev. B
, vol.52
, pp. 14976
-
-
Schwarz, U.D.1
Allers, W.2
Gensterblum, G.3
Wiesendanger, R.4
-
23
-
-
0028020164
-
-
Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071. Noy, A.; Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 7943. Vezenov, D. V.; Noy, A.; Rozsnyai, L. F.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 2006.
-
(1994)
Science
, vol.265
, pp. 2071
-
-
Frisbie, C.D.1
Rozsnyai, L.F.2
Noy, A.3
Wrighton, M.S.4
Lieber, C.M.5
-
24
-
-
0000226927
-
-
Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071. Noy, A.; Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 7943. Vezenov, D. V.; Noy, A.; Rozsnyai, L. F.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 2006.
-
(1995)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.117
, pp. 7943
-
-
Noy, A.1
Frisbie, C.D.2
Rozsnyai, L.F.3
Wrighton, M.S.4
Lieber, C.M.5
-
25
-
-
0030889693
-
-
Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071. Noy, A.; Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 7943. Vezenov, D. V.; Noy, A.; Rozsnyai, L. F.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 2006.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 2006
-
-
Vezenov, D.V.1
Noy, A.2
Rozsnyai, L.F.3
Lieber, C.M.4
-
26
-
-
0028422080
-
-
Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Langmuir 1994, 10, 1281. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632. Sinniah, S. K.; Steel, A. B.; Miller, C. J.; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc, 1996, 118, 8925. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
-
(1994)
Langmuir
, vol.10
, pp. 1281
-
-
Overney, R.M.1
Meyer, E.2
Frommer, J.3
Güntherodt, H.-J.4
Fujihira, M.5
Takano, H.6
Gotoh, Y.7
-
27
-
-
0029637823
-
-
Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Langmuir 1994, 10, 1281. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632. Sinniah, S. K.; Steel, A. B.; Miller, C. J.; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc, 1996, 118, 8925. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 10960
-
-
Green, J.B.D.1
McDermott, M.T.2
Porter, M.D.3
Siperko, L.M.4
-
28
-
-
0000999249
-
-
Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Langmuir 1994, 10, 1281. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632. Sinniah, S. K.; Steel, A. B.; Miller, C. J.; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc, 1996, 118, 8925. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
-
(1995)
Langmuir
, vol.11
, pp. 4632
-
-
Marti, A.1
Hahner, G.2
Spencer, N.D.3
-
29
-
-
0029834220
-
-
Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Langmuir 1994, 10, 1281. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632. Sinniah, S. K.; Steel, A. B.; Miller, C. J.; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc, 1996, 118, 8925. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
-
(1996)
J. Am. Chem. Soc
, vol.118
, pp. 8925
-
-
Sinniah, S.K.1
Steel, A.B.2
Miller, C.J.3
Reutt-Robey, J.E.4
-
30
-
-
0031331427
-
-
Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Langmuir 1994, 10, 1281. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632. Sinniah, S. K.; Steel, A. B.; Miller, C. J.; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc, 1996, 118, 8925. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
-
(1997)
Langmuir
, vol.13
, pp. 7192
-
-
Kim, H.I.1
Koini, T.2
Lee, T.R.3
Perry, S.S.4
-
31
-
-
0000950513
-
-
Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Langmuir 1994, 10, 1281. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632. Sinniah, S. K.; Steel, A. B.; Miller, C. J.; Reutt-Robey, J. E. J. Am. Chem. Soc, 1996, 118, 8925. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
-
(1999)
Phys. Rev. Lett.
, vol.82
, pp. 1181
-
-
Burns, A.R.1
Houston, J.E.2
Carpick, R.W.3
Michalske, T.A.4
-
33
-
-
0000406346
-
-
Kim, Y.; Lieber, C. M. Science 1992, 257, 375. Kim, Y. Ph.D. Thesis, Harvard University, Cambridge, MA, 1992.
-
(1992)
Science
, vol.257
, pp. 375
-
-
Kim, Y.1
Lieber, C.M.2
-
34
-
-
0000406346
-
-
Ph.D. Thesis, Harvard University, Cambridge, MA
-
Kim, Y.; Lieber, C. M. Science 1992, 257, 375. Kim, Y. Ph.D. Thesis, Harvard University, Cambridge, MA, 1992.
-
(1992)
-
-
Kim, Y.1
-
36
-
-
0000368408
-
-
Ogletree, D. F.; Carpick, R. W.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3298.
-
(1996)
Rev. Sci. Instrum.
, vol.67
, pp. 3298
-
-
Ogletree, D.F.1
Carpick, R.W.2
Salmeron, M.3
-
37
-
-
0029277629
-
-
Whangbo, M.-H.; Ren, J.; Magonov, S. N.; Bengel, H.; Parkinson, B. A.; Suna, A. Surf. Sci. 1995, 326, 311.
-
(1995)
Surf. Sci.
, vol.326
, pp. 311
-
-
Whangbo, M.-H.1
Ren, J.2
Magonov, S.N.3
Bengel, H.4
Parkinson, B.A.5
Suna, A.6
-
38
-
-
0028483866
-
-
Ha, J. S.; Roh, H.-S.; Park, S.-J.; Yi, J.-Y.; Lee, E.-H. Surf. Sci. 1994, 315, 62.
-
(1994)
Surf. Sci.
, vol.315
, pp. 62
-
-
Ha, J.S.1
Roh, H.-S.2
Park, S.-J.3
Yi, J.-Y.4
Lee, E.-H.5
-
39
-
-
85121161263
-
-
note
-
3 nanocrystals during scanning.
-
-
-
-
40
-
-
0347962315
-
-
note
-
3 nanocrystal size should also lead to a variation in the observed load-independent friction forces; that is, different nanocrystal areas will produce different constant friction values. The observed variation in load-independent friction (i.e., Figure 2, parts b and d, could arise from such variations. However, for a constant shear stress we would expect a greater variation of constant friction force (based on the 1-5 nm variation in nanocrystal size). Future transmission electron microscopy imaging studies of tips exhibiting load-independent friction should provide insight into this issue.
-
-
-
-
41
-
-
0000643283
-
-
Singer, I. L.; Bolster, R. N.; Wegand, J.; Fayeulle, S.; Stupp, B. C. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 995. Grosseau-Poussard, J. L.; Moine, P.; Brendle, M. Thin Solid Films 1997, 307, 163.
-
(1990)
Appl. Phys. Lett.
, vol.57
, pp. 995
-
-
Singer, I.L.1
Bolster, R.N.2
Wegand, J.3
Fayeulle, S.4
Stupp, B.C.5
-
42
-
-
0031245622
-
-
Singer, I. L.; Bolster, R. N.; Wegand, J.; Fayeulle, S.; Stupp, B. C. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 995. Grosseau-Poussard, J. L.; Moine, P.; Brendle, M. Thin Solid Films 1997, 307, 163.
-
(1997)
Thin Solid Films
, vol.307
, pp. 163
-
-
Grosseau-Poussard, J.L.1
Moine, P.2
Brendle, M.3
-
43
-
-
0028580625
-
-
Lüthi, R.; Meyer, E.; Haefke, H.; Howald, L.; Gutmannsbauer, W.; Güntherodt, H.-J. Science 1994, 266, 1979.
-
(1994)
Science
, vol.266
, pp. 1979
-
-
Lüthi, R.1
Meyer, E.2
Haefke, H.3
Howald, L.4
Gutmannsbauer, W.5
Güntherodt, H.-J.6
-
44
-
-
0033590561
-
-
Falvo, M. R.; Taylor, R. M., II; Heiser, A.; Chi, V.; Brooks, F. P., Jr.; Washburn, S.; Superfine, R. Nature 1999, 397, 236. Hertel, T.; Martel, R.; Avouris, P. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 910.
-
(1999)
Nature
, vol.397
, pp. 236
-
-
Falvo, M.R.1
Taylor R.M. II2
Heiser, A.3
Chi, V.4
Brooks F.P., Jr.5
Washburn, S.6
Superfine, R.7
-
45
-
-
0032484754
-
-
Falvo, M. R.; Taylor, R. M., II; Heiser, A.; Chi, V.; Brooks, F. P., Jr.; Washburn, S.; Superfine, R. Nature 1999, 397, 236. Hertel, T.; Martel, R.; Avouris, P. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 910.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 910
-
-
Hertel, T.1
Martel, R.2
Avouris, P.3
-
46
-
-
0029778190
-
-
Campbell, S. E.; Luengo, G.; Srdanov, V. I.; Wudl, F.; Israelachvili, J. N. Nature 1996, 382, 520.
-
(1996)
Nature
, vol.382
, pp. 520
-
-
Campbell, S.E.1
Luengo, G.2
Srdanov, V.I.3
Wudl, F.4
Israelachvili, J.N.5
-
47
-
-
0030912590
-
-
Rapoport, L.; Bilik, Y.; Feldman, Y.; Homyonfer, M.; Cohen, S. R.; Tenne, R. Nature 1997, 387, 791.
-
(1997)
Nature
, vol.387
, pp. 791
-
-
Rapoport, L.1
Bilik, Y.2
Feldman, Y.3
Homyonfer, M.4
Cohen, S.R.5
Tenne, R.6
-
48
-
-
0347962316
-
-
note
-
2 lattice directions. In the present work, preliminary studies of friction as a function of scan angle provide some evidence for anisotropy (i.e., expected 60° variation), although the effect is not reproducible. It is possible that facile reorientation of the small nanocrystals within the tip-sample contact precludes the observation of friction anisotropy in many cases.
-
-
-
|