Transport in a gated Al0.18Ga0.82N/GaN electron system

Journal of Applied Physics

Volumn 94, Issue 5, 2003, Pages 3181-3184

  Juang, J R ^a   Huang, Tsai Yu ^a   Chen, Tse Ming ^a   Lin, Ming Gu ^a   Kim, Gil Ho ^b   Lee, Y ^b   Liang, C T ^a   Hang, D R ^a   Chen, Y F ^a   Chyi, Jen Inn ^c  

^a NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY   (Taiwan)

^b Sungkyunkwan University   (South Korea)

^c NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARRIER CONCENTRATION; ELECTRIC POTENTIAL; GALLIUM NITRIDE; LOW TEMPERATURE EFFECTS; SEMICONDUCTING ALUMINUM COMPOUNDS; TRANSPORT PROPERTIES;

ELECTRON SYSTEMS;

HETEROJUNCTIONS;

EID: 0141745877     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1594818     Document Type: Article

References (25)

1. S. Nakamura, M. Senoh, N. Iwasa, S. Nagahama, T. Yamada, and T. Mukai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L1332 (1995); S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, Y. Sugimoto, and H. Kiyoku, Appl. Phys. Lett. 69, 3034 (1996).
2. S. Nakamura, M. Senoh, N. Iwasa, S. Nagahama, T. Yamada, and T. Mukai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L1332 (1995); S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, Y. Sugimoto, and H. Kiyoku, Appl. Phys. Lett. 69, 3034 (1996).
3. G. E. Bulman, K. Doverspike, S. T. Sheppard, T. W. Weeks, H. S. Kong, H. M. Dieringer, J. A. Edmond, J. D. Brown, J. T. Swindell, and J. F. Schetzina, Electron. Lett. 33, 1556 (1997).
4. M. P. Mack, A. Abare, M. Aizcorbe, P. Kozodoy, S. Keller, U. K. Mishra, L. Coldren, and S. DenBaars, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 2, 41 (1997).
5. A. Kuramata, K. Domen, R. Soejima, K. Horino, S. Kubota, and T. Tanahashi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 36, L1130 (1997).
6. Wide Band Gap Semiconductors, edited by T. D. Moustakas, J. H. Pankove, and Y. Hamakawa, MRS Symposia Proceedings No. 242 (Materials Research Society, Pittsburgh, 1992).
7. Wide-Band-Gap Semiconductors, Proceedings of the Seventh Trieste Semiconductor Symposium, 1992, edited by C. G. Van de Walle (North-Holland, Amsterdam, 1993).
8. S. Nakamura, T. Mukai, and M. Senoh, J. Appl. Phys. 76, 8189 (1994).
9. F. Bernardini, V. Fiorentini, and D. Vanderbilt, Phys. Rev. B 56, R10024 (1997).
10. W. Q. Chen and S. K. Hark, J. Appl. Phys. 77, 5747 (1995).
11. C. R. Elsass, I. P. Smorchkova, B. Heying, E. Haus, P. Fini, K. Maranowski, J. P. Ibbetson, S. Keller, P. M. Petroff, S. P. DenBaars, U. K. Mishra, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 74, 3528 (1999).
12. P. Smorchkova, C. R. Elsass, J. P. Ibbetson, R. Ventry, B. Heying, P. Fini, E. Haus, S. P. DenBaars, J. S. Speck, and U. K. Mishra, J. Appl. Phys. 86, 4520 (1999).
13. L. K. Li, B. Turk, W. I. Wang, S. Syed, D. Simonian, and H. L. Stormer, Appl. Phys. Lett. 76, 742 (2000).
14. T. Wang, Y. Ohno, M. Lachab, D. Nakagawa, T. Shirahama, S. Sakai, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 74, 3531 (1999).
15. R. Gaska, M. S. Shur, A. D. Bykhovski, A. O. Orlov, and G. L. Snider, Appl. Phys. Lett. 74, 287 (1999).
16. P. A. Lee and T. V. Ramakrishan, Rev. Mod. Phys. 57, 287 (1985).
17. D. C. Tsui, A. C. Gossard, G. Kaminsley, and W. Wiegmann, Appl. Phys. Lett. 39, 712 (1981).
18. T. S. Drumond, H. Morkoc, K. Hess, and A. Y. Cho, J. Appl. Phys. 52, 5231 (1981).
19. E. Frayssinet, W. Knap, P. Lorenzini, N. Grandjean, J. Massies, C. Skierbiszewski, T. Suski, I. Grzegory, S. Porowski, G. Simin, X. Hu, M. Asif Khan, M. S. Shur, R. Gaska, and D. Maude, Appl. Phys. Lett. 77, 2551 (2000).
20. C. W. J. Beenakker and H. van Houten, Solid State Phys. 44, 1 (1991).
21. M. J. Manfra, L. N. Pfeiffer, K. W. West, H. L. Stormer, K. W. Baldwin, J. W. P. Hsu, D. V. Lang, and R. J. Molner, Appl. Phys. Lett. 77, 2888 (2000).
22. W. Walukiewicz, H. E. Ruda, J. Lagowski, and H. C. Gatos, Phys. Rev, B 30, 4571 (1984).
23. W. Walukiewicz, H. E. Ruda, J. Lagowski, and H. C. Gatos, Phys. Rev. B 29, 4818 (1984).
24. M. Hayne, A. Usher, J. J. Harris, V. V. Moshchalkov, and C. T. Foxon, Phys. Rev. B 57, 14813 (1998).
25. L. Hsu and W. Walukiewicz, Phys. Rev. B 56, 1520 (1997).