Simulation of thickness effect in thin ferroelectric films using Landau-Khalatnikov theory

Journal of Applied Physics

Volumn 94, Issue 5, 2003, Pages 3353-3359

  Lo, Veng Cheong ^a  

^a HONG KONG POLYTECHNIC UNIVERSITY   (Hong Kong)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COERCIVE FORCE; COMPUTER SIMULATION; DEFECTS; FINITE DIFFERENCE METHOD; FREE ENERGY; POLARIZATION; REMANENCE;

COERCIVE FIELD;

FERROELECTRIC THIN FILMS;

EID: 0141633751     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1598275     Document Type: Article

References (47)

1. H. Fujisawa, S. Nakashima, K. Kaibara, M. Shimizu, and H. Niu, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 5392 (1999).
2. J. R. Cheng, W. Y. Zhu, N. Li, and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 81, 4805 (2002).
3. C. R. Cho, W. J. Lee, B. G. Yu, and B. W. Kim, J. Appl. Phys. 86, 2700 (1999).
4. D. Wu, A. D. Li, H. Q. Ling, T. Yu, Z. G. Liu, and N. B. Ming, J. Appl. Phys. 87, 1795 (2000).
5. J. D. Park, T. S. Oh, J. H. Lee, and J. Y. Park, Thin Solid Films 379, 183 (2000).
6. L. Leighton, M. R. Fitzsimmons, A. Hofmann, J. Dura, C. F. Majkrzak, M. S. Lund, and I. K. Schuller, Phys. Rev. B 65, 064403 (2002).
7. A. Hadni and T. Thomas, Thin Solid Films 81, 247 (1981).
8. A. K. Tagantsev and I. A. Stoilichnov, Appl. Phys. Lett. 74, 1326 (1999).
9. P. K. Larsen, G. J. M. Dormans, D. J. Taylor, and P. J. Van Veldhoven, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 76, 2405 (1994).
10. S. R. P. Smith, D. R. Tilley, and C. L. Wang, Ferroelectrics 197, 105 (1997).
11. S. L. Miller, R. D. Nasby, J. R. Schwank, M. S. Rodgers, and P. V. Dressendorfer, J. Appl. Phys. 68, 6463 (1990).
12. A. K. Tagantsev, M. Landivar, E. Colla, and N. Setter, J. Appl. Phys. 78, 2623 (1995).
13. H. F. Kay and J. W. Dunn, Philos. Mag. 7, 2027 (1962).
14. N. I. Lebedev and A. Sigov, Integr. Ferroelectr. 4, 21 (1994).
15. A. K. Tagantsev, Integr. Ferroelectr. 16, 237 (1997).
16. V. C. Lo and Z. J. Chen, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 49, 980 (2002).
17. L. H. Ong, J. Osman, and D. R. Tilley, Phys. Rev. B 63, 144109 (2001).
18. V. C. Lo, J. Appl. Phys. 92, 6778 (2002).
19. H. N. Al-Shareef, B. A. Tuttle, W. L. Warren, T. J. Headley, D. Dimos, J. A. Voigt, and N. D. Nasby, J. Appl. Phys. 79, 1013 (1996).
20. T. Mihara, H. Watanabe, and C. A. Pas de Araujo, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 33, 5281 (1994).
21. M. Dawber and J. F. Scott, Appl. Phys. Lett. 76, 1060 (2000).
22. I. Stoilichnov, A. Tagantsev, E. Colla, S. Gentil, S. Hiboux, J. Baborowski, P. Muralt, and N. Setter, J. Appl. Phys. 88, 2154 (2000).
23. C. L. Li, Z. H. Chen, Y. L. Zhou, and D. F. Cui, J. Phys.: Condens. Matter 13, 5261 (2001).
24. W. B. Wu, K. H. Wong, C. L. Choy, and Y. H. Zhang, J. Appl. Phys. 77, 3441 (2000).
25. M. Shimizu, M. Okaniwa, H. Fujisawa, and H. Niu, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 6686 (2002).
26. U. Robels, J. H. Calderwood, and G. Arlt, J. Appl. Phys. 77, 4002 (1995).
27. R. Loloee and M. A. Crimp, J. Appl. Phys. 92, 4541 (2002).
28. Y. Li, V. Nagarajan, S. Aggarwal, R. Ramesh, L. G. Salamanca-Riba, and L. J. Martinez-Miranda, J. Appl. Phys. 92, 6762 (2002).
29. M. Algueró, M. L. Calzada, M. J. Mart́in, and L. Pardo, J. Phys. Chem. Solids 63, 471 (2002).
30. C. H. Lin, P. A. Friddle, C. H. Ma, A. Daga, and H. Chen, J. Appl. Phys. 90, 1509 (2001).
31. J. F. M. Cillessen, M. W. J. Prins, and R. M. Wolf, J. Appl. Phys. 81, 2777 (1997).
32. W. Y. Shih, W. H. Shih, and I. A. Aksay, Phys. Rev. B 50, 15575 (1994).
33. D. Damjanovic, Rep. Prog. Phys. 61, 1267 (1998).
34. M. D. Glinchuk, E. A. Eliseev, and V. A. Stephanovich, Z. Phys. B: Condens. Matter 322, 356 (2002).
35. F. Yan, P. B. Bao, H. L. W. Chan, C. L. Choy, and Y. N. Wang, Thin Solid Films 406, 282 (2002).
36. N. Setter and R. Waser, Acta Mater. 48, 151 (2000).
37. K. Okazaki and H. Maiwa, Integr. Ferroelectr. 20, 245 (1998).
38. H. Fujisawa, M. Shimizu, T. Horiuchi, T. Shiosaki, and K. Matsushige, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 4913 (1996).
39. S. Horii, S. Yokoyama, H. Nakajima, and S. Horita, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 5378 (1999).
40. J. Junquera and P. Ghosez, Nature (London) 422, 506 (2003).
41. H. Kohlstedt, N. A. Pertrev, and R. Waser, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 688, C.6.5 (2002).
42. L. M. Blinov, V. M. Fridkin, S. P. Palto, A. V. Bune, P. A. Dowben, and S. Ducharme, Phys. Usp. Fiz. Nauk. 43, 243 (2000).
43. A. V. Bune, V. M. Fridkin, S. Ducharme, L. M. Blinov, S. P. Palto, A. V. Sorokin, S. G. Yudin, and A. Zlatkin, Nature (London) 391, 874 (1998).
44. P. Chandra, M. Dawber, P. B. Littlewood, and J. F. Scott (reprint at http://xxx.lanl.gov/abs/cond-mat/0206014) (2002).
45. C. L. Platt, A. E. Berkowitz, D. J. Smith, and M. R. McCartney, J. Appl. Phys. 88, 2058 (2000).
46. T. Chang, J. G. Zhu, and J. H. Judy, J. Appl. Phys. 73, 6716 (1993).
47. R. Kretschmer and K. Binder, Phys. Rev. B 20, 1065 (1979).