Characterization of metalorganic decomposition-derived SrBi2Ta2O9 thin films with different thicknesses

Journal of Applied Physics

Volumn 87, Issue 4, 2000, Pages 1795-1800

  Wu, Di ^a   Li, Aidong ^a   Ling, Huiqin ^a   Yu, Tao ^a   Liu, Zhiguo ^a   Ming, Naiben ^a  

^a NANJING UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000649285     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.372094     Document Type: Article

References (25)

1. J. F. Scott and C. A. Paz de Araujo, Science 246, 1400 (1989).
2. C. A. Paz de Araujo, J. D. Cuchiaro, L. D. McMillan, M. C. Scott, and J. F. Scott. Nature (London) 374, 12 (1995).
3. D. J. Taylor, R. E. Jones, P. Zurcher, P. Chu, Y. T. Lii, B. Jiang, and S. J. Gillespie, Appl. Phys. Lett. 68, 2300 (1996).
4. R. E. Jones, P. D. Maniar, R. Moazzami, P. Zurcher, J. Z. Witowski, Y. T. Lii, P. Chu, and S. J. Gillespie, Thin Solid Films 270, 584 (1995).
5. Y. Shimada, K. Nakao, A. Inoue, M. Azuma, Y. Uemoto, E. Fujii, and T. Otssuki, Appl. Phys. Lett. 71, 2538 (1997).
6. S. B. Desu and P. Vijay, Mater. Sci. Eng., B 32, 75 (1995).
7. R. Dat, J. K. Lee, O. Auciello, and A. I. Kingon, Appl. Phys. Lett. 67, 572 (1995).
8. C. H. Yang, S. S. Park, and S. G. Yoon, J. Mater. Sci. 33, 2851 (1998).
9. J. K. Lee, T. K. Song, and H. J. Juong, Integr. Ferroelectr. 15, 115 (1997).
10. T. J. Boyle, C. D. Buchheit, M. A. Rodriguez, H. N. Al-Shareef, B. A. Hernandez, B. Scott, and J. W. Ziller, J. Mater. Res. 11, 2274 (1996); M. A. Rodriguez, T. J. Boyle, B. A. Hernandez, C. D. Buchheit, and M. O. Eatough, ibid. 11, 2282 (1996).
11. T. J. Boyle, C. D. Buchheit, M. A. Rodriguez, H. N. Al-Shareef, B. A. Hernandez, B. Scott, and J. W. Ziller, J. Mater. Res. 11, 2274 (1996); M. A. Rodriguez, T. J. Boyle, B. A. Hernandez, C. D. Buchheit, and M. O. Eatough, ibid. 11, 2282 (1996).
12. N. J. Seong, C. H. Yang, W. C. Shin, and S. G. Yoon, Appl. Phys. Lett. 72, 1374 (1997); N. J. Seong, S. G. Yoon, and S. S. Lee, ibid. 71, 81 (1997).
13. N. J. Seong, C. H. Yang, W. C. Shin, and S. G. Yoon, Appl. Phys. Lett. 72, 1374 (1997); N. J. Seong, S. G. Yoon, and S. S. Lee, ibid. 71, 81 (1997).
14. K. R. Udayakumar, P. J. Schncle, J. Chen, S. B. Krupanidhi, and L. E. Cross, J. Appl. Phys. 77, 3981 (1995).
15. J. Zhu, X. Zhang, Y. Zhu, and S. B. Desu, J. Appl. Phys. 83, 1610 (1998).
16. S. B. Ren, C. J. Lu, J. S. Liu, H. M. Shen, and Y. N. Wang, Phys. Rev. B 54, R14 337 (1996); ibid. 55, 3485 (1997).
17. S. B. Ren, C. J. Lu, J. S. Liu, H. M. Shen, and Y. N. Wang, Phys. Rev. B 54, R14 337 (1996); ibid. 55, 3485 (1997).
18. M. Nagata, D. P. Vijay, X. B. Zhang, and S. B. Desu, Phys. Status Solidi A 157, 75 (1996).
19. P. K. Larsen, G. J. M. Dormans, D. J. Taylor, and P. J. Van Veldhoven, J. Appl. Phys. 34, 3142 (1995).
20. P. Y. Chu, R. E. Jones, Jr., P. Zurcher, D. J. Taylor, B. Jiang, S. J. Gillespie, Y. T. Lii, M. Kottke, P. Fejes, and W. Chen, J. Mater. Res. 11, 1065 (1996).
21. S. K. Dey, J. J. Lee, and P. Alluri, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 34, 3142 (1995).
22. J. F. Scott, Ferroelectr. Rev. I, 1 (1998).
23. RT66A standardized ferroelectric test system V2.1 operating manual.
24. T. Mihara, H. Yoshimori, H. Watanabe, and C. A. Paz de Araujo, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 34, 2380 (1995).
25. J. M. Benedetto, R. A. Moore, and F. B. Mclean, J. Appl. Phys. 75, 460 (1994).