Thermal characterization of film-on-substrate systems with modulated thermoreflectance microscopy

Review of Scientific Instruments

Volumn 71, Issue 5, 2000, Pages 2154-2160

  Li, Bincheng ^a,c   Pottier, L ^a   Roger, J P ^a   Fournier, D ^a   Welsch, E ^b  

^a INSTITUT LANGEVIN   (France)

^b FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

^c UNIVERSITY OF ARKANSAS   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0042728978     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1150598     Document Type: Article

References (37)

1. O. W. Kaeding, H. Skurk, A. A. Maznev, and E. Matthias, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 51, 253 (1995).
2. T. Yamane, Y. Mori, S. Katayama, and M. Todoki, J. Appl. Phys. 82, 1153 (1997).
3. T. Borca-Tasciuc and G. Chen, Int. J. Thermophys. 19, 557 (1998).
4. G. Chen and P. Hui, Appl. Phys. Lett. 74, 2942 (1999).
5. J. C. Lambropoulos, M. R. Jolly, C. A. Amsden, S. E. Gilman, M. J. Sinicropi, D. Diakomihalis, and S. D. Jacobs, J. Appl. Phys. 66, 4230 (1989).
6. A. J. Griffin, Jr., F. R. Brotzen, and P. J. Loos, J. Appl. Phys. 95, 3761 (1994).
7. O. W. Kaeding, H. Skurk, and K. E. Goodson, Appl. Phys. Lett. 65, 1629 (1994).
8. S.-M. Lee and D. G. Cahill, J. Appl. Phys. 81, 2590 (1997).
9. C. G. Levey, S. Etemad, and A. Inam, Appl. Phys. Lett. 60, 126 (1992).
10. C. D. Marshall, I. M. Fishman, R. C. Dorfman, C. B. Eom, and M. D. Fayer, Phys. Rev. B 45, 10009 (1992).
11. S. Zeuner, H. Lengfellner, and W. Prettl, Phys. Rev. B 51, 11903 (1995).
12. T. Yao, Appl. Phys. Lett. 51, 1798 (1987).
13. X. Y. Yu, G. Chen, A. Verma, and J. S. Smith, Appl. Phys. Lett. 67, 3554 (1995).
14. C. L. Tien and G. Chen, J. Heat Transfer 116, 799 (1994).
15. K. E. Goodson and M. I. Flik, Appl. Mech. Rev. 47, 101 (1994).
16. D. C. Cahill, Microscale Thermophys. Eng. 1, 85 (1997).
17. S. R. Mirmira and L. S. Fletcher, J. Thermophys. Heat Transfer 12, 121 (1998).
18. J. Hartmann, P. Voigt, and M. Reichling, J. Appl. Phys. 81, 2966 (1997).
19. J. H. Kim, A. Feldman, and D. Novotny, J. Appl. Phys. 86, 3959 (1999).
20. B. Li, J. P. Roger, L. Pottier, and D. Fournier, J. Appl. Phys. 86, 5314 (1999).
21. B. Li, L. Pottier, J. P. Roger, and D. Fournier, Thin Solid Films 352, 91 (1999).
22. B. Li, L. Pottier, J. P. Roger, D. Fournier, K. Watari, and K. Hirao, J. Eur. Ceram. Soc. 19, 1631 (1999).
23. Y. S. Ju and K. E. Goodson, J. Appl. Phys. 85, 7130 (1999).
24. A. Salazar and A. Sanchez-Lavega, Rev. Sci. Instrum. 65, 2896 (1994).
25. A. Salazar, A. Sanchez-Lavega, and J. M. Terron, J. Appl. Phys. 84, 3031 (1998).
26. M. Reichling and H. Groebeck, J. Appl. Phys. 75, 1914 (1994).
27. A. A. Maznev, J. Hartmann, and M. Reichling, J. Appl. Phys. 78, 5266 (1995).
28. F. Lepoutre, D. Balageas, Ph. Forge, S. Hirschi, J. L. Joulaud, D. Rochais, and F. C. Chen, J. Appl. Phys. 78, 2208 (1995).
29. B.-C. Li and S.-Y. Zhang, J. Phys. D: Appl. Phys. 30, 1447 (1997).
30. L. Pottier, Appl. Phys. Lett. 64, 1618 (1994).
31. J. V. Beck and K. J. Arnold, Parameter Estimation in Engineering and Science (Wiley, New York, 1977).
32. D. L. Decker, L. G. Koshigoe, and E. J. Ashley, Laser Induced Damage in Optical Materials, NBS Special Publication 727 (Government Printing Office, Washington, DC, 1984), pp. 291-297.
33. D. W. Denlinger, E. N. Abarra, K. Allen, P. W. Rooney, M. T. Messer, S. K. Watson, and F. Hellman, Rev. Sci. Instrum. 65, 946 (1994).
34. S. W. Indermuehle and R. B. Peterson, Trans. ASME J. Heat Transfer 121, 528 (1999).
35. M. Reichling, T. Klotzbuecher, and J. Hartmann, Appl. Phys. Lett. 73, 756 (1998).
36. J. Rantala, L. Wei, P. K. Kuo, J. Jaarinen, M. Luukkala, and R. L. Thomas, J. Appl. Phys. 73, 2714 (1993).
37. K. E. Goodson, O. W. Kaeding, M. Roesler, and R. Zachai, J. Appl. Phys. 77, 1385 (1995).