A simple route to annihilate defects in silicon nanowires

Chemical Physics Letters

Volumn 328, Issue 4-6, 2000, Pages 346-349

  Tang, Y H ^a   Zheng, Y F ^a   Lee, C S ^a   Lee, S T ^a  

^a CITY UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

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EID: 0000705873     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0009-2614(00)00862-9     Document Type: Article

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