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Volumn 72, Issue 20, 1998, Pages 2532-2534

Stress development during deposition of CNx thin films

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EID: 0000129237     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121410     Document Type: Article
Times cited : (55)

References (29)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.