-
2
-
-
2342486652
-
-
Forrest, S. R. Nature 2004, 428, 911-918
-
(2004)
Nature
, vol.428
, pp. 911-918
-
-
Forrest, S.R.1
-
4
-
-
53549093322
-
-
Allard, S.; Forster, M.; Souharce, B.; Thiem, H.; Scherf, U. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 4070-4098
-
(2008)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.47
, pp. 4070-4098
-
-
Allard, S.1
Forster, M.2
Souharce, B.3
Thiem, H.4
Scherf, U.5
-
7
-
-
20344376200
-
-
Cahen, D.; Kahn, A.; Umbach, E. Mater. Today 2005, 8, 32-41
-
(2005)
Mater. Today
, vol.8
, pp. 32-41
-
-
Cahen, D.1
Kahn, A.2
Umbach, E.3
-
8
-
-
77951813906
-
-
Ma, H.; Yip, H. L.; Huang, F.; Jen, A. K. Y. Adv. Funct. Mater. 2010, 20, 1371-1388
-
(2010)
Adv. Funct. Mater.
, vol.20
, pp. 1371-1388
-
-
Ma, H.1
Yip, H.L.2
Huang, F.3
Jen, A.K.Y.4
-
10
-
-
84892923439
-
-
Eom, S. H.; Baek, M.-J.; Park, H.; Yan, L.; Liu, S.; You, W.; Lee, S.-H. ACS Appl. Mater. Interfaces 2013, 6, 803-810
-
(2013)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.6
, pp. 803-810
-
-
Eom, S.H.1
Baek, M.-J.2
Park, H.3
Yan, L.4
Liu, S.5
You, W.6
Lee, S.-H.7
-
11
-
-
3142704331
-
-
Bürgi, L.; Richards, T. J.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H. J. Appl. Phys. 2003, 94, 6129-6137
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.94
, pp. 6129-6137
-
-
Bürgi, L.1
Richards, T.J.2
Friend, R.H.3
Sirringhaus, H.4
-
12
-
-
15244338556
-
-
Chua, L. L.; Zaumseil, J.; Chang, J. F.; Ou, E. C. W.; Ho, P. K. H.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H. Nature 2005, 434, 194-199
-
(2005)
Nature
, vol.434
, pp. 194-199
-
-
Chua, L.L.1
Zaumseil, J.2
Chang, J.F.3
Ou, E.C.W.4
Ho, P.K.H.5
Sirringhaus, H.6
Friend, R.H.7
-
13
-
-
36248962599
-
-
Wang, S. D.; Minari, T.; Miyadera, T.; Tsukagoshi, K.; Aoyagi, Y. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 203508
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.91
, pp. 203508
-
-
Wang, S.D.1
Minari, T.2
Miyadera, T.3
Tsukagoshi, K.4
Aoyagi, Y.5
-
14
-
-
27644501932
-
-
Chu, C.-W.; Li, S.-H.; Chen, C.-W.; Shrotriya, V.; Yang, Y. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 193508
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 193508
-
-
Chu, C.-W.1
Li, S.-H.2
Chen, C.-W.3
Shrotriya, V.4
Yang, Y.5
-
15
-
-
38049077298
-
-
Kumaki, D.; Umeda, T.; Tokito, S. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 013301
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.92
, pp. 013301
-
-
Kumaki, D.1
Umeda, T.2
Tokito, S.3
-
16
-
-
57049157677
-
-
Li, S.-H.; Xu, Z.; Yang, G.; Ma, L.; Yang, Y. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 213301
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.93
, pp. 213301
-
-
Li, S.-H.1
Xu, Z.2
Yang, G.3
Ma, L.4
Yang, Y.5
-
17
-
-
84859948446
-
-
Zhou, Y.; Fuentes-Hernandez, C.; Shim, J.; Meyer, J.; Giordano, A. J.; Li, H.; Winget, P.; Papadopoulos, T.; Cheun, H.; Kim, J.; Fenoll, M.; Dindar, A.; Haske, W.; Najafabadi, E.; Khan, T. M.; Sojoudi, H.; Barlow, S.; Graham, S.; Brédas, J.-L.; Marder, S. R.; Kahn, A.; Kippelen, B. Science 2012, 336, 327-332
-
(2012)
Science
, vol.336
, pp. 327-332
-
-
Zhou, Y.1
Fuentes-Hernandez, C.2
Shim, J.3
Meyer, J.4
Giordano, A.J.5
Li, H.6
Winget, P.7
Papadopoulos, T.8
Cheun, H.9
Kim, J.10
Fenoll, M.11
Dindar, A.12
Haske, W.13
Najafabadi, E.14
Khan, T.M.15
Sojoudi, H.16
Barlow, S.17
Graham, S.18
Brédas, J.-L.19
Marder, S.R.20
Kahn, A.21
Kippelen, B.22
more..
-
19
-
-
0000429538
-
-
Campbell, I. H.; Rubin, S.; Zawodzinski, T. A.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L.; Barashkov, N. N.; Ferraris, J. P. Phys. Rev. B 1996, 54, R14321-R14324
-
(1996)
Phys. Rev. B
, vol.54
-
-
Campbell, I.H.1
Rubin, S.2
Zawodzinski, T.A.3
Kress, J.D.4
Martin, R.L.5
Smith, D.L.6
Barashkov, N.N.7
Ferraris, J.P.8
-
20
-
-
33745759320
-
-
Hamadani, B. H.; Corley, D. A.; Ciszek, J. W.; Tour, J. M.; Natelson, D. Nano Lett. 2006, 6, 1303-1306
-
(2006)
Nano Lett.
, vol.6
, pp. 1303-1306
-
-
Hamadani, B.H.1
Corley, D.A.2
Ciszek, J.W.3
Tour, J.M.4
Natelson, D.5
-
21
-
-
43849103446
-
-
Marmont, P.; Battaglini, N.; Lang, P.; Horowitz, G.; Hwang, J.; Kahn, A.; Amato, C.; Calas, P. Org. Electron. 2008, 9, 419-424
-
(2008)
Org. Electron.
, vol.9
, pp. 419-424
-
-
Marmont, P.1
Battaglini, N.2
Lang, P.3
Horowitz, G.4
Hwang, J.5
Kahn, A.6
Amato, C.7
Calas, P.8
-
22
-
-
68249132539
-
-
Cheng, X. Y.; Noh, Y. Y.; Wang, J. P.; Tello, M.; Frisch, J.; Blum, R. P.; Vollmer, A.; Rabe, J. P.; Koch, N.; Sirringhaus, H. Adv. Funct. Mater. 2009, 19, 2407-2415
-
(2009)
Adv. Funct. Mater.
, vol.19
, pp. 2407-2415
-
-
Cheng, X.Y.1
Noh, Y.Y.2
Wang, J.P.3
Tello, M.4
Frisch, J.5
Blum, R.P.6
Vollmer, A.7
Rabe, J.P.8
Koch, N.9
Sirringhaus, H.10
-
23
-
-
66149121025
-
-
DiBenedetto, S. A.; Facchetti, A.; Ratner, M. A.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2009, 21, 1407-1433
-
(2009)
Adv. Mater.
, vol.21
, pp. 1407-1433
-
-
Dibenedetto, S.A.1
Facchetti, A.2
Ratner, M.A.3
Marks, T.J.4
-
24
-
-
76449092326
-
-
Boudinet, D.; Benwadih, M.; Qi, Y. B.; Altazin, S.; Verilhac, J. M.; Kroger, M.; Serbutoviez, C.; Gwoziecki, R.; Coppard, R.; Le Blevennec, G.; Kahn, A.; Horowitz, G. Org. Electron. 2010, 11, 227-237
-
(2010)
Org. Electron.
, vol.11
, pp. 227-237
-
-
Boudinet, D.1
Benwadih, M.2
Qi, Y.B.3
Altazin, S.4
Verilhac, J.M.5
Kroger, M.6
Serbutoviez, C.7
Gwoziecki, R.8
Coppard, R.9
Le Blevennec, G.10
Kahn, A.11
Horowitz, G.12
-
25
-
-
77956171365
-
-
Kim, S. H.; Lee, S. H.; Jang, J. IEEE Electron Device Lett. 2010, 31, 1044-1046
-
(2010)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.31
, pp. 1044-1046
-
-
Kim, S.H.1
Lee, S.H.2
Jang, J.3
-
26
-
-
80455174355
-
-
Bauert, T.; Zoppi, L.; Koller, G.; Garcia, A.; Baldridge, K. K.; Ernst, K.-H. J. Phys. Chem. Lett. 2011, 2, 2805-2809
-
(2011)
J. Phys. Chem. Lett.
, vol.2
, pp. 2805-2809
-
-
Bauert, T.1
Zoppi, L.2
Koller, G.3
Garcia, A.4
Baldridge, K.K.5
Ernst, K.-H.6
-
27
-
-
84867084904
-
-
Lenz, T.; Schmaltz, T.; Novak, M.; Halik, M. Langmuir 2012, 28, 13900-13904
-
(2012)
Langmuir
, vol.28
, pp. 13900-13904
-
-
Lenz, T.1
Schmaltz, T.2
Novak, M.3
Halik, M.4
-
28
-
-
84873619057
-
-
Claridge, S. A.; Liao, W. S.; Thomas, J. C.; Zhao, Y. X.; Cao, H. H.; Cheunkar, S.; Serino, A. C.; Andrews, A. M.; Weiss, P. S. Chem. Soc. Rev. 2013, 42, 2725-2745
-
(2013)
Chem. Soc. Rev.
, vol.42
, pp. 2725-2745
-
-
Claridge, S.A.1
Liao, W.S.2
Thomas, J.C.3
Zhao, Y.X.4
Cao, H.H.5
Cheunkar, S.6
Serino, A.C.7
Andrews, A.M.8
Weiss, P.S.9
-
29
-
-
0242551715
-
-
Alloway, D. M.; Hofmann, M.; Smith, D. L.; Gruhn, N. E.; Graham, A. L.; Colorado, R.; Wysocki, V. H.; Lee, T. R.; Lee, P. A.; Armstrong, N. R. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 11690-11699
-
(2003)
J. Phys. Chem. B
, vol.107
, pp. 11690-11699
-
-
Alloway, D.M.1
Hofmann, M.2
Smith, D.L.3
Gruhn, N.E.4
Graham, A.L.5
Colorado, R.6
Wysocki, V.H.7
Lee, T.R.8
Lee, P.A.9
Armstrong, N.R.10
-
30
-
-
45749136864
-
-
Heimel, G.; Romaner, L.; Zojer, E.; Bredas, J.-L. Acc. Chem. Res. 2008, 41, 721-729
-
(2008)
Acc. Chem. Res.
, vol.41
, pp. 721-729
-
-
Heimel, G.1
Romaner, L.2
Zojer, E.3
Bredas, J.-L.4
-
31
-
-
66749152600
-
-
Wu, K. Y.; Yu, S. Y.; Tao, Y. T. Langmuir 2009, 25, 6232-6238
-
(2009)
Langmuir
, vol.25
, pp. 6232-6238
-
-
Wu, K.Y.1
Yu, S.Y.2
Tao, Y.T.3
-
32
-
-
78649326954
-
-
Chen, C. Y.; Wu, K. Y.; Chao, Y. C.; Zan, H. W.; Meng, H. F.; Tao, Y. T. Org. Electron. 2011, 12, 148-153
-
(2011)
Org. Electron.
, vol.12
, pp. 148-153
-
-
Chen, C.Y.1
Wu, K.Y.2
Chao, Y.C.3
Zan, H.W.4
Meng, H.F.5
Tao, Y.T.6
-
33
-
-
17444427368
-
-
Kim, D. H.; Jang, Y.; Park, Y. D.; Cho, K. Langmuir 2005, 21, 3203-3206
-
(2005)
Langmuir
, vol.21
, pp. 3203-3206
-
-
Kim, D.H.1
Jang, Y.2
Park, Y.D.3
Cho, K.4
-
34
-
-
34248212271
-
-
Asadi, K.; Gholamrezaie, F.; Smits, E. C. P.; Blom, P. W. M.; de Boer, B. J. Mater. Chem. 2007, 17, 1947-1953
-
(2007)
J. Mater. Chem.
, vol.17
, pp. 1947-1953
-
-
Asadi, K.1
Gholamrezaie, F.2
Smits, E.C.P.3
Blom, P.W.M.4
De Boer, B.5
-
35
-
-
18044398972
-
-
Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103-1170
-
(2005)
Chem. Rev.
, vol.105
, pp. 1103-1170
-
-
Love, J.C.1
Estroff, L.A.2
Kriebel, J.K.3
Nuzzo, R.G.4
Whitesides, G.M.5
-
38
-
-
33748292942
-
-
Base, T.; Bastl, Z.; Plzak, Z.; Grygar, T.; Plesek, J.; Carr, M. J.; Malina, V.; Subrt, J.; Bohacek, J.; Vecernikova, E.; Kriz, O. Langmuir 2005, 21, 7776-7785
-
(2005)
Langmuir
, vol.21
, pp. 7776-7785
-
-
Base, T.1
Bastl, Z.2
Plzak, Z.3
Grygar, T.4
Plesek, J.5
Carr, M.J.6
Malina, V.7
Subrt, J.8
Bohacek, J.9
Vecernikova, E.10
Kriz, O.11
-
39
-
-
65249176216
-
-
Hohman, J. N.; Zhang, P. P.; Morin, E. I.; Han, P.; Kim, M.; Kurland, A. R.; McClanahan, P. D.; Balema, V. P.; Weiss, P. S. ACS Nano 2009, 3, 527-536
-
(2009)
ACS Nano
, vol.3
, pp. 527-536
-
-
Hohman, J.N.1
Zhang, P.P.2
Morin, E.I.3
Han, P.4
Kim, M.5
Kurland, A.R.6
McClanahan, P.D.7
Balema, V.P.8
Weiss, P.S.9
-
40
-
-
78649332945
-
-
Hohman, J. N.; Claridge, S. A.; Kim, M.; Weiss, P. S. Mater. Sci. Eng., R 2010, 70, 188-208
-
(2010)
Mater. Sci. Eng., R
, vol.70
, pp. 188-208
-
-
Hohman, J.N.1
Claridge, S.A.2
Kim, M.3
Weiss, P.S.4
-
41
-
-
65649153319
-
-
Kim, M.; Hohman, J. N.; Morin, E. I.; Daniel, T. A.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. A 2009, 113, 3895-3903
-
(2009)
J. Phys. Chem. A
, vol.113
, pp. 3895-3903
-
-
Kim, M.1
Hohman, J.N.2
Morin, E.I.3
Daniel, T.A.4
Weiss, P.S.5
-
42
-
-
82555168534
-
-
Hohman, J. N.; Kim, M.; Schüpbach, B.; Kind, M.; Thomas, J. C.; Terfort, A.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 19422-19431
-
(2011)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.133
, pp. 19422-19431
-
-
Hohman, J.N.1
Kim, M.2
Schüpbach, B.3
Kind, M.4
Thomas, J.C.5
Terfort, A.6
Weiss, P.S.7
-
43
-
-
79960668109
-
-
2 nd ed. Academic Press: Burlington, MA
-
Grimes, R. N. Carboranes, 2 nd ed.; Academic Press: Burlington, MA, 2011.
-
(2011)
Carboranes
-
-
Grimes, R.N.1
-
44
-
-
0035249607
-
-
Smith, R. K.; Reed, S. M.; Lewis, P. A.; Monnell, J. D.; Clegg, R. S.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Hutchison, J. E.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1119-1122
-
(2001)
J. Phys. Chem. B
, vol.105
, pp. 1119-1122
-
-
Smith, R.K.1
Reed, S.M.2
Lewis, P.A.3
Monnell, J.D.4
Clegg, R.S.5
Kelly, K.F.6
Bumm, L.A.7
Hutchison, J.E.8
Weiss, P.S.9
-
45
-
-
5844372499
-
-
Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Tao, Y. T.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7636-7646
-
(1994)
J. Phys. Chem.
, vol.98
, pp. 7636-7646
-
-
Stranick, S.J.1
Parikh, A.N.2
Tao, Y.T.3
Allara, D.L.4
Weiss, P.S.5
-
46
-
-
0030375870
-
-
Stranick, S. J.; Atre, S. V.; Parikh, A. N.; Wood, M. C.; Allara, D. L.; Winograd, N.; Weiss, P. S. Nanotechnology 1996, 7, 438-442
-
(1996)
Nanotechnology
, vol.7
, pp. 438-442
-
-
Stranick, S.J.1
Atre, S.V.2
Parikh, A.N.3
Wood, M.C.4
Allara, D.L.5
Winograd, N.6
Weiss, P.S.7
-
48
-
-
76649125924
-
-
Saavedra, H. M.; Mullen, T. J.; Zhang, P.; Dewey, D. C.; Claridge, S. A.; Weiss, P. S. Rep. Prog. Phys. 2010, 73, 036501
-
(2010)
Rep. Prog. Phys.
, vol.73
, pp. 036501
-
-
Saavedra, H.M.1
Mullen, T.J.2
Zhang, P.3
Dewey, D.C.4
Claridge, S.A.5
Weiss, P.S.6
-
49
-
-
77951296912
-
-
Base, T.; Bastl, Z.; Havranek, V.; Lang, K.; Bould, J.; Londesborough, M. G. S.; Machacek, J.; Plesek, J. Surf. Coat. Technol. 2010, 204, 2639-2646
-
(2010)
Surf. Coat. Technol.
, vol.204
, pp. 2639-2646
-
-
Base, T.1
Bastl, Z.2
Havranek, V.3
Lang, K.4
Bould, J.5
Londesborough, M.G.S.6
Machacek, J.7
Plesek, J.8
-
50
-
-
84867569523
-
-
Base, T.; Bastl, Z.; Havranek, V.; Machacek, J.; Langecker, J.; Malina, V. Langmuir 2012, 28, 12518-12526
-
(2012)
Langmuir
, vol.28
, pp. 12518-12526
-
-
Base, T.1
Bastl, Z.2
Havranek, V.3
Machacek, J.4
Langecker, J.5
Malina, V.6
-
51
-
-
33748460527
-
-
Ohta, T.; Nagano, T.; Ochi, K.; Kubozono, Y.; Shikoh, E.; Fujiwara, A. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 053508
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 053508
-
-
Ohta, T.1
Nagano, T.2
Ochi, K.3
Kubozono, Y.4
Shikoh, E.5
Fujiwara, A.6
-
52
-
-
84888000126
-
-
Dong, H.; Fu, X.; Liu, J.; Wang, Z.; Hu, W. Adv. Mater. 2013, 25, 6158-6183
-
(2013)
Adv. Mater.
, vol.25
, pp. 6158-6183
-
-
Dong, H.1
Fu, X.2
Liu, J.3
Wang, Z.4
Hu, W.5
|