-
1
-
-
0001623743
-
-
(a) Ishii, H.; Sugiyama, K.; Ito, K.; Seki, K. Adv. Mater. 1999, 11, 972-972.
-
(1999)
Adv. Mater
, vol.11
, pp. 972-972
-
-
Ishii, H.1
Sugiyama, K.2
Ito, K.3
Seki, K.4
-
2
-
-
2942620527
-
-
(b) Ishii, H.; Hayashi, N.; Ito, E.; Washizu, Y.; Sugi, K.; Kimura, Y.; Niwano, M.; Ouchi, Y.; Seki, K. Phys. Status Solidi a-Appl. Res,. 2004, 201, 1075-1094.
-
(2004)
Phys. Status Solidi a-Appl. Res
, vol.201
, pp. 1075-1094
-
-
Ishii, H.1
Hayashi, N.2
Ito, E.3
Washizu, Y.4
Sugi, K.5
Kimura, Y.6
Niwano, M.7
Ouchi, Y.8
Seki, K.9
-
4
-
-
36849041044
-
-
(b) Hong, K.; Lee, J. W.; Yang, S. Y.; Shin, K.; Jeon, H.; Kim, S. H.; Yang, C.; Park, C. E. Org. Electron. 2008, 9, 21-29.
-
(2008)
Org. Electron
, vol.9
, pp. 21-29
-
-
Hong, K.1
Lee, J.W.2
Yang, S.Y.3
Shin, K.4
Jeon, H.5
Kim, S.H.6
Yang, C.7
Park, C.E.8
-
5
-
-
0942299447
-
-
(c) Chen, C. W.; Hsieh, P. Y.; Chiang, H. H.; Lin, C. L.; Wu, H. M.; Wu, C. C. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 5127-5129.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett
, vol.83
, pp. 5127-5129
-
-
Chen, C.W.1
Hsieh, P.Y.2
Chiang, H.H.3
Lin, C.L.4
Wu, H.M.5
Wu, C.C.6
-
6
-
-
66749164653
-
-
A
-
(e) Ganzorig, C.; Kwak, K. J.; Yagi, K.; Fujihira, M. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 212-21 A.
-
(2001)
Appl. Phys. Lett
, vol.79
, pp. 212-221
-
-
Ganzorig, C.1
Kwak, K.J.2
Yagi, K.3
Fujihira, M.4
-
7
-
-
0037055015
-
-
Crispin, X.; Geskin, V.; Crispin, A.; Cornil, J.; Lazzaroni, R.; Salaneck, W. R.; Bredas, J. L. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 8131-8141.
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc
, vol.124
, pp. 8131-8141
-
-
Crispin, X.1
Geskin, V.2
Crispin, A.3
Cornil, J.4
Lazzaroni, R.5
Salaneck, W.R.6
Bredas, J.L.7
-
8
-
-
0000429538
-
-
(a) Campbell, I. H.; Rubin, S.; Zawodzinski, T. A.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L. Phys. Rev. B 1996, 54, 14321-14324.
-
(1996)
Phys. Rev. B
, vol.54
, pp. 14321-14324
-
-
Campbell, I.H.1
Rubin, S.2
Zawodzinski, T.A.3
Kress, J.D.4
Martin, R.L.5
Smith, D.L.6
-
9
-
-
0031343407
-
-
(b) Campbell, I. H.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L.; Barashkov, N. N.; Ferraris, J. P. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 3528-3530.
-
(1997)
Appl. Phys. Lett
, vol.71
, pp. 3528-3530
-
-
Campbell, I.H.1
Kress, J.D.2
Martin, R.L.3
Smith, D.L.4
Barashkov, N.N.5
Ferraris, J.P.6
-
10
-
-
0033077973
-
-
(c) Zehner, R. W.; Parsons, B. F.; Hsung, R. P.; Sita, L. R. Langmuir 1999, 15, 1121-1127.
-
(1999)
Langmuir
, vol.15
, pp. 1121-1127
-
-
Zehner, R.W.1
Parsons, B.F.2
Hsung, R.P.3
Sita, L.R.4
-
11
-
-
33751113252
-
-
(a) Hung, M. G.; Wu, K. Y.; Tao, Y. T.; Huang, H. W. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 203106.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.89
, pp. 203106
-
-
Hung, M.G.1
Wu, K.Y.2
Tao, Y.T.3
Huang, H.W.4
-
12
-
-
34250663614
-
-
(b) Wu, K. Y.; Tao, Y. T.; Huang, H. W. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 241104.
-
(2007)
Appl. Phys. Lett
, vol.90
, pp. 241104
-
-
Wu, K.Y.1
Tao, Y.T.2
Huang, H.W.3
-
13
-
-
33751157443
-
-
(a) Folkers, J. P.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Deutch, J. J. Phys. Chem. 1994, 98, 563-571.
-
(1994)
J. Phys. Chem
, vol.98
, pp. 563-571
-
-
Folkers, J.P.1
Laibinis, P.E.2
Whitesides, G.M.3
Deutch, J.4
-
14
-
-
0034317220
-
-
(b) Chen, S. F.; Li, L. Y.; Boozer, C. L.; Jiang, S. Y. Langmuir 2000, 16, 9287-9293.
-
(2000)
Langmuir
, vol.16
, pp. 9287-9293
-
-
Chen, S.F.1
Li, L.Y.2
Boozer, C.L.3
Jiang, S.Y.4
-
15
-
-
0001074331
-
-
(a) Takiue, T.; Matsuo, T.; Ikeda, N.; Motomura, K.; Aratono, M. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 5840-5844.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 5840-5844
-
-
Takiue, T.1
Matsuo, T.2
Ikeda, N.3
Motomura, K.4
Aratono, M.5
-
16
-
-
0037134582
-
-
(b) Chen, S. F.; Li, L. Y.; Boozer, C. L.; Jiang, S. Y. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 2975-2980.
-
(2001)
J. Phys. Chem. B
, vol.105
, pp. 2975-2980
-
-
Chen, S.F.1
Li, L.Y.2
Boozer, C.L.3
Jiang, S.Y.4
-
17
-
-
38549104119
-
-
(c) Tielens, F.; Costa, D.; Humblot, V.; Pradier, C. M. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 182-190.
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 182-190
-
-
Tielens, F.1
Costa, D.2
Humblot, V.3
Pradier, C.M.4
-
18
-
-
33645525316
-
-
(d) Lussem, B.; Muller-Meskamp, L.; Karthauser, S.; Waser, R.; Homberger, M.; Simon, U. Langmuir 2006, 22, 3021-3027.
-
(2006)
Langmuir
, vol.22
, pp. 3021-3027
-
-
Lussem, B.1
Muller-Meskamp, L.2
Karthauser, S.3
Waser, R.4
Homberger, M.5
Simon, U.6
-
19
-
-
5844372499
-
-
(e) Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Tao, Y. T.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7636-7646.
-
(1994)
J. Phys. Chem
, vol.98
, pp. 7636-7646
-
-
Stranick, S.J.1
Parikh, A.N.2
Tao, Y.T.3
Allara, D.L.4
Weiss, P.S.5
-
20
-
-
16244404981
-
-
de Boer, B.; Hadipour, A.; Mandoc, M. M.; van Woudenbergh, T.; Blom, P. W. M. Adv. Mater. 2005, 17, 621-625.
-
(2005)
Adv. Mater
, vol.17
, pp. 621-625
-
-
de Boer, B.1
Hadipour, A.2
Mandoc, M.M.3
van Woudenbergh, T.4
Blom, P.W.M.5
-
21
-
-
53749094523
-
-
Chang, Y. M.; Wang, L.; Su, W. F. Org. Electron. 2008, 9, 968-973.
-
(2008)
Org. Electron
, vol.9
, pp. 968-973
-
-
Chang, Y.M.1
Wang, L.2
Su, W.F.3
-
22
-
-
0342459190
-
-
(a) Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y. T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167.
-
(1991)
J. Am. Chem. Soc
, vol.113
, pp. 7152-7167
-
-
Laibinis, P.E.1
Whitesides, G.M.2
Allara, D.L.3
Tao, Y.T.4
Parikh, A.N.5
Nuzzo, R.G.6
-
23
-
-
0031556152
-
-
(b) Tsao, M. W.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Johnson, H. E.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1997, 13, 4317-4322.
-
(1997)
Langmuir
, vol.13
, pp. 4317-4322
-
-
Tsao, M.W.1
Hoffmann, C.L.2
Rabolt, J.F.3
Johnson, H.E.4
Castner, D.G.5
Erdelen, C.6
Ringsdorf, H.7
-
24
-
-
66749112874
-
-
Results to be published elsewhere.
-
Results to be published elsewhere.
-
-
-
-
26
-
-
0035902369
-
-
Ren, Y. Z.; Iimura, K.; Ogawa, A.; Kato, T. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 4305-4312.
-
(2001)
J. Phys. Chem. B
, vol.105
, pp. 4305-4312
-
-
Ren, Y.Z.1
Iimura, K.2
Ogawa, A.3
Kato, T.4
-
27
-
-
0345404112
-
-
(a) Kang, J. F.; Ulman, A.; Liao, S.; Jordan, R. Langmuir 1999, 15, 2095-2098.
-
(1999)
Langmuir
, vol.15
, pp. 2095-2098
-
-
Kang, J.F.1
Ulman, A.2
Liao, S.3
Jordan, R.4
-
28
-
-
0032560978
-
-
(b) Kang, J. F.; Liao, S.; Jordan, R.; Ulman, A. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 9662-9667.
-
(1998)
J. Am. Chem. Soc
, vol.120
, pp. 9662-9667
-
-
Kang, J.F.1
Liao, S.2
Jordan, R.3
Ulman, A.4
-
29
-
-
24944483109
-
-
(a) Shaporenko, A.; Cyganik, P.; Buck, M.; Ulman, A.; Zharnikov, A. Langmuir 2005, 21, 8204-8213.
-
(2005)
Langmuir
, vol.21
, pp. 8204-8213
-
-
Shaporenko, A.1
Cyganik, P.2
Buck, M.3
Ulman, A.4
Zharnikov, A.5
-
32
-
-
0033531751
-
-
Graupe, M.; Takenaga, M.; Komi, T.; Colorado, R. Jr.; Randall Lee, T. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 3222-3223.
-
(1999)
J. Am. Chem. Soc
, vol.121
, pp. 3222-3223
-
-
Graupe, M.1
Takenaga, M.2
Komi, T.3
Colorado Jr., R.4
Randall Lee, T.5
-
33
-
-
0025386258
-
-
Fowkes, F. M.; Riddle, F. L. Jr.; Pastore, W. E.; Weber, A. A. Colloids Surf. 1990, 43, 367-387.
-
(1990)
Colloids Surf
, vol.43
, pp. 367-387
-
-
Fowkes, F.M.1
Riddle Jr., F.L.2
Pastore, W.E.3
Weber, A.A.4
-
34
-
-
66749091532
-
-
The work function for n-decanethiol monolayer carrying only a terminal CF3 group increases to 5.5 eV, as compared to 5.8 eV for FDT monolayer.
-
The work function for n-decanethiol monolayer carrying only a terminal CF3 group increases to 5.5 eV, as compared to 5.8 eV for FDT monolayer.
-
-
-
-
36
-
-
67650314002
-
-
Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Oehzelt, M.; Kniprath, R.; Johnson, R. L.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12870-12871.
-
(2008)
Am. Chem. Soc
, vol.130
, pp. 12870-12871
-
-
Salzmann, I.1
Duhm, S.2
Heimel, G.3
Oehzelt, M.4
Kniprath, R.5
Johnson, R.L.6
Rabe, J.P.7
Koch, N.J.8
-
37
-
-
34250644421
-
-
(a) Fugakawa, H.; Kera, S.; Kataoka, T.; Hosoumi, S.; Watanabe, Y.; Kudo, K.; Ueno, N. Adv. Mater. 2007, 19, 665-668.
-
(2007)
Adv. Mater
, vol.19
, pp. 665-668
-
-
Fugakawa, H.1
Kera, S.2
Kataoka, T.3
Hosoumi, S.4
Watanabe, Y.5
Kudo, K.6
Ueno, N.7
-
38
-
-
31944437872
-
-
(b) Tengstedt, G.; Osikowicz, W.; Salaneck, W. R.; Parker, I. D.; Hsu, C. H.; Fahlman, M. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 053502.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 053502
-
-
Tengstedt, G.1
Osikowicz, W.2
Salaneck, W.R.3
Parker, I.D.4
Hsu, C.H.5
Fahlman, M.6
-
40
-
-
33846301681
-
-
(d) Braun, S.; Osikowicz, W.; Wang, Y.; Salaneck, W. R. Org. Electron. 2007, 8, 14-20.
-
(2007)
Org. Electron
, vol.8
, pp. 14-20
-
-
Braun, S.1
Osikowicz, W.2
Wang, Y.3
Salaneck, W.R.4
-
43
-
-
0344110551
-
-
(b) Wang, W.; Lee, T.; Reed, M. A. Phys. Rev. B 2003, 68, 035416.
-
(2003)
Phys. Rev. B
, vol.68
, pp. 035416
-
-
Wang, W.1
Lee, T.2
Reed, M.A.3
|