Uncertainties in forces extracted from non-contact atomic force microscopy measurements by fitting of long-range background forces

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 5, Issue 1, 2014, Pages 386-393

  Sweetman, Adam ^a   Stannard, Andrew ^a  

^a UNIVERSITY OF NOTTINGHAM   (United Kingdom)

Author keywords

Atomic resolution; Background subtraction; DFM; F(z); Force; NC AFM; Si(111); STM; Van der waals

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; EXTRAPOLATION; FLUORINE; VAN DER WAALS FORCES;

ATOMIC RESOLUTION; BACKGROUND SUBTRACTION; DFM; FORCE; NC-AFM; SI (1 1 1); STM; VAN DER WAALS;

UNCERTAINTY ANALYSIS;

EID: 84899066502     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.5.45     Document Type: Article

References (26)

1. Oyabu, N.; Pou, P.; Sugimoto, Y.; Jelínek, P.; Abe, M.; Morita, S.; Pérez, R.; Custance, ó. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 106101. doi:10.1103/PhysRevLett.96.106101.
2. Lantz, M. A.; Hoffmann, R.; Foster, A. S.; Baratoff, A.; Hug, H. J.; Hidber, H. R.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. B 2006, 74, 245426. doi:10.1103/PhysRevB.74.245426.
3. Ternes, M.; González, C.; Lutz, C. P.; Hapala, P.; Giessibl, F. J.; Jelínek, P.; Heinrich, A. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 016802. doi:10.1103/PhysRevLett.106.016802.
4. Guggisberg, M.; Bammerlin, M.; Loppacher, C.; Pfeiffer, O.; Abdurixit, A.; Barwich, V.; Bennewitz, R.; Baratoff, A.; Meyer, E.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. B 2000, 61, 11151-11155. doi:10.1103/PhysRevB.61.11151.
5. Sweetman, A.; Jarvis, S.; Danza, R.; Bamidele, J.; Gangopadhyay, S.; Shaw, G. A.; Kantorovich, L.; Moriarty, P. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 136101. doi:10.1103/PhysRevLett.106.136101.
6. Hauptmann, N.; Mohn, F.; Gross, L.; Meyer, G.; Frederiksen, T.; Berndt, R. New J. Phys. 2012, 14, 073032. doi:10.1088/1367-2630/14/7/073032.
7. Such, B.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Meyer, E.; Turanskỳ, R.; Brndiar, J.; Štich, I. Nanotechnology 2012, 23, 045705. doi:10.1088/0957-4484/23/4/045705.
8. Sadeghi, A.; Baratoff, A.; Ghasemi, S. A.; Goedecker, S.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Meyer, E. Phys. Rev. B 2012, 86, 075407. doi:10.1103/PhysRevB.86.075407.
9. Baier, R.; Leendertz, C.; Lux-Steiner, M. C.; Sadewasser, S. Phys. Rev. B 2012, 85, 165436. doi:10.1103/PhysRevB.85.165436.
10. Bocquet, F.; Nony, L.; Loppacher, C. Phys. Rev. B 2011, 83, 035411. doi:10.1103/PhysRevB.83.035411.
11. Morita, K.; Sugimoto, Y.; Sasagawa, Y.; Abe, M.; Morita, S. Nanotechnology 2010, 21, 305704. doi:10.1088/0957-4484/21/30/305704.
12. Teobaldi, G.; Lämmle, K.; Trevethan, T.; Watkins, M.; Schwarz, A.; Wiesendanger, R.; Shluger, A. L. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 216102. doi:10.1103/PhysRevLett.106.216102.
13. Yurtsever, A.; Fernández-Torre, D.; González, C.; Jelínek, P.; Pou, P.; Sugimoto, Y.; Abe, M.; Pérez, R.; Morita, S. Phys. Rev. B 2012, 85, 125416. doi:10.1103/PhysRevB.85.125416.
14. Naitoh, Y.; Kamijo, T.; Li, Y. J.; Sugawara, Y. Phys. Rev. Lett. 2012, 109, 215501. doi:10.1103/PhysRevLett.109.215501.
15. Chiutu, C.; Sweetman, A. M.; Lakin, A. J.; Stannard, A.; Jarvis, S.; Kantorovich, L.; Dunn, J. L.; Moriarty, P. Phys. Rev. Lett. 2012, 108, 268302. doi:10.1103/PhysRevLett.108.268302.
16. Majzik, Z.; Setvín, M.; Bettac, A.; Feltz, A.; Cháb, V.; Jelínek, P. Beilstein J. Nanotechnol. 2012, 3, 249-259. doi:10.3762/bjnano.3.28.
17. Weymouth, A. J.; Wutscher, T.; Welker, J.; Hofmann, T.; Giessibl, F. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 226801. doi:10.1103/PhysRevLett.106.226801.
18. Rahe, P.; Schutte, J.; Schniederberend, W.; Reichling, M.; Abe, M.; Sugimoto, Y.; Kühnle, A. Rev. Sci. Instrum. 2011, 82, 063704. doi:10.1063/1.3600453.
19. Stannard, A.; Sweetman, A. Imaging and Manipulation of Adsorbates using Dynamic Force Microscopy. Advances in Atom and Single Molecule Machines; Springer; Vol. 4, submitted.
20. Sugimoto, Y.; Pou, P.; Custance, ó.; Jelínek, P.; Morita, S.; Pérez, R.; Abe, M. Phys. Rev. B 2006, 73, 205329. doi:10.1103/PhysRevB.73.205329.
21. Sader, J. E.; Jarvis, S. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1801. doi:10.1063/1.1667267.
22. Simon, G. H.; Heyde, M.; Freund, H.-J. J. Phys.: Condens. Matter 2012, 24, 084007. doi:10.1088/0953-8984/24/8/084007.
23. Ondrácek, M.; Pou, P.; Rozsíval, V.; González, C.; Jelínek, P.; Pérez, R. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 176101. doi:10.1103/PhysRevLett.106.176101.
24. Falter, J.; Langewisch, G.; Hölscher, H.; Fuchs, H.; Schirmeisen, A. Phys. Rev. B 2013, 87, 115412. doi:10.1103/PhysRevB.87.115412.
25. Sharp, P.; Jarvis, S.; Woolley, R.; Sweetman, A.; Kantorovich, L.; Pakes, C.; Moriarty, P. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 233120. doi:10.1063/1.4726086.
26. Kuhn, S.; Rahe, P. Phys. Rev. B 2014, submitted.