-
1
-
-
9744279393
-
-
Heer, W. A.; Chatelain, A.; Ugarte, D. Science 1995, 270, 1179-1180
-
(1995)
Science
, vol.270
, pp. 1179-1180
-
-
Heer, W.A.1
Chatelain, A.2
Ugarte, D.3
-
2
-
-
11944268480
-
-
Rinzler, A. G.; Hafner, J. H.; Nikolaev, P.; Lou, L.; Kim, S. G.; Tomanek, D. Science 1995, 269, 1550-1553
-
(1995)
Science
, vol.269
, pp. 1550-1553
-
-
Rinzler, A.G.1
Hafner, J.H.2
Nikolaev, P.3
Lou, L.4
Kim, S.G.5
Tomanek, D.6
-
3
-
-
0030820091
-
-
Saito, Y.; Hamaguchi, K.; Hata, K.; Uchida, K.; Tasaka, Y.; Ikazaki, F.; Yumura, M.; Kasuya, A.; Nishina, Y. Nature 1997, 389, 554-555
-
(1997)
Nature
, vol.389
, pp. 554-555
-
-
Saito, Y.1
Hamaguchi, K.2
Hata, K.3
Uchida, K.4
Tasaka, Y.5
Ikazaki, F.6
Yumura, M.7
Kasuya, A.8
Nishina, Y.9
-
4
-
-
5944246146
-
-
Wang, Q. H.; Corrigan, T. D.; Dai, J. Y.; Chang, R. P. H.; Krauss, A. R. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 3308-3310
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.70
, pp. 3308-3310
-
-
Wang, Q.H.1
Corrigan, T.D.2
Dai, J.Y.3
Chang, R.P.H.4
Krauss, A.R.5
-
5
-
-
0032102027
-
-
Bonard, J. M.; Maier, F.; Stockli, T.; Chatelain, A.; Heer, W. A.; Salvetat, J. P.; Forro, L. Ultramicroscopy 1998, 73, 7-15
-
(1998)
Ultramicroscopy
, vol.73
, pp. 7-15
-
-
Bonard, J.M.1
Maier, F.2
Stockli, T.3
Chatelain, A.4
Heer, W.A.5
Salvetat, J.P.6
Forro, L.7
-
6
-
-
79956029524
-
-
Teo, K. B. K.; Chhowalla, M.; Amaratunga, G. A. J.; Milne, W. I.; Pirio, G.; Legagneux, P.; Wyczisk, F.; Pribat, D.; Hasko, D. G. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2011-2013
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 2011-2013
-
-
Teo, K.B.K.1
Chhowalla, M.2
Amaratunga, G.A.J.3
Milne, W.I.4
Pirio, G.5
Legagneux, P.6
Wyczisk, F.7
Pribat, D.8
Hasko, D.G.9
-
7
-
-
33746635536
-
-
Chen, Y.; Sun, Z.; Chen, J.; Xu, N. S.; Tay, B. K. Diamond Relat. Mater. 2006, 15, 1462-1466
-
(2006)
Diamond Relat. Mater.
, vol.15
, pp. 1462-1466
-
-
Chen, Y.1
Sun, Z.2
Chen, J.3
Xu, N.S.4
Tay, B.K.5
-
8
-
-
35148817446
-
-
Siegal, M. P.; Miller, P. A.; Provencio, P. P.; Tallant, D. R. Diamond Relat. Mater. 2007, 16, 1793-1798
-
(2007)
Diamond Relat. Mater.
, vol.16
, pp. 1793-1798
-
-
Siegal, M.P.1
Miller, P.A.2
Provencio, P.P.3
Tallant, D.R.4
-
9
-
-
84872869355
-
-
Pandey, A.; Prasad, A.; Moscatello, J. P.; Engelhard, M.; Wang, C.; Yap, Y. K. ACS Nano 2013, 7, 117-125
-
(2013)
ACS Nano
, vol.7
, pp. 117-125
-
-
Pandey, A.1
Prasad, A.2
Moscatello, J.P.3
Engelhard, M.4
Wang, C.5
Yap, Y.K.6
-
10
-
-
84874067942
-
-
Su, J.; Guo, D. Z.; Xing, Y. J.; Zhang, G. M. Phys. Status Solidi A 2013, 210, 349-355
-
(2013)
Phys. Status Solidi A
, vol.210
, pp. 349-355
-
-
Su, J.1
Guo, D.Z.2
Xing, Y.J.3
Zhang, G.M.4
-
11
-
-
84875944360
-
-
Ren, H.; Yang, L.; Zhang, Y. J. Phys.: Conf. Ser. 2013, 418, 012007
-
(2013)
J. Phys.: Conf. Ser.
, vol.418
, pp. 012007
-
-
Ren, H.1
Yang, L.2
Zhang, Y.3
-
12
-
-
84894127538
-
-
Bhattacharya, S.; De, D.; Ghosh, S.; Ghatak, K. P. J. Comput. Theor. Nanosci. 2013, 10, 1-5
-
(2013)
J. Comput. Theor. Nanosci.
, vol.10
, pp. 1-5
-
-
Bhattacharya, S.1
De, D.2
Ghosh, S.3
Ghatak, K.P.4
-
13
-
-
85137979779
-
-
Atthipalli, G.; Epur, R.; Kumta, P. N.; Gray, J. L. J. Vac. Sci. Technol., B: Nanotechnol. Microelectron.: Mater., Process., Meas., Phenom. 2011, 29, 04D102
-
(2011)
J. Vac. Sci. Technol., B: Nanotechnol. Microelectron.: Mater., Process., Meas., Phenom.
, vol.29
-
-
Atthipalli, G.1
Epur, R.2
Kumta, P.N.3
Gray, J.L.4
-
14
-
-
84865140622
-
-
Sun, P. C.; Deng, J. H.; Cheng, G. A; Zheng, R. T.; Ping, Z. X. J. Nanosci. Nanotech. 2012, 12, 6510-6515
-
(2012)
J. Nanosci. Nanotech.
, vol.12
, pp. 6510-6515
-
-
Sun, P.C.1
Deng, J.H.2
Cheng, G.A.3
Zheng, R.T.4
Ping, Z.X.5
-
15
-
-
84869756264
-
-
Berhanu, S.; Gröning, O.; Chen, Z.; Merikhi, J.; Kaiser, M.; Rupesinghe, N. L.; Bachmann, P. K. Phys. Status Solidi A 2012, 209, 2114-2125
-
(2012)
Phys. Status Solidi A
, vol.209
, pp. 2114-2125
-
-
Berhanu, S.1
Gröning, O.2
Chen, Z.3
Merikhi, J.4
Kaiser, M.5
Rupesinghe, N.L.6
Bachmann, P.K.7
-
18
-
-
21244472694
-
-
Okai, M.; Fujieda, T.; Hidaka, K.; Muneyoshi, T.; Yaguchi, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, 2051-2055
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.44
, pp. 2051-2055
-
-
Okai, M.1
Fujieda, T.2
Hidaka, K.3
Muneyoshi, T.4
Yaguchi, T.5
-
20
-
-
72849153719
-
-
Nessim, G.; Seita, M.; O'Brien, K.; Hart, A.; Bonaparte, R.; Mitchell, R.; Thompson, C. Nano Lett. 2009, 9, 3398-3405
-
(2009)
Nano Lett.
, vol.9
, pp. 3398-3405
-
-
Nessim, G.1
Seita, M.2
O'Brien, K.3
Hart, A.4
Bonaparte, R.5
Mitchell, R.6
Thompson, C.7
-
21
-
-
77949654034
-
-
Kim, B.; Chung, H.; Chu, K.; Yoon, H.; Lee, C.; Kim, W. Synth. Met. 2010, 160, 584-587
-
(2010)
Synth. Met.
, vol.160
, pp. 584-587
-
-
Kim, B.1
Chung, H.2
Chu, K.3
Yoon, H.4
Lee, C.5
Kim, W.6
-
22
-
-
84862921866
-
-
Fu, Y.; Nabiollahi, N.; Wang, T.; Wang, S.; Hu, Z.; Carlberg, B.; Zhang, Y.; Wang, X.; Liu, J. Nanotechnology 2012, 23, 045304
-
(2012)
Nanotechnology
, vol.23
, pp. 045304
-
-
Fu, Y.1
Nabiollahi, N.2
Wang, T.3
Wang, S.4
Hu, Z.5
Carlberg, B.6
Zhang, Y.7
Wang, X.8
Liu, J.9
-
23
-
-
33947574948
-
-
Kordás, K.; Tóth, G.; Moilanen, P.; Kumpumäki, M.; Vähäkangas, J.; Uusimäki, A.; Vajtai, R.; Ajayan, P. M. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 1231051-3
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.90
, pp. 1231051-1231053
-
-
Kordás, K.1
Tóth, G.2
Moilanen, P.3
Kumpumäki, M.4
Vähäkangas, J.5
Uusimäki, A.6
Vajtai, R.7
Ajayan, P.M.8
-
24
-
-
78649868699
-
-
Fu, Y. F.; Qin, Y. H.; Wang, T.; Chen, S.; Liu, J. H. Adv. Mater. 2010, 22, 5039-5042
-
(2010)
Adv. Mater.
, vol.22
, pp. 5039-5042
-
-
Fu, Y.F.1
Qin, Y.H.2
Wang, T.3
Chen, S.4
Liu, J.H.5
-
25
-
-
33750150922
-
-
1-3
-
Kumar, A.; Pushparaj, V. L.; Kar, S.; Nalamasu, O.; Ajayan, P. M.; Baskaran, R. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 163120 1-3
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 163120
-
-
Kumar, A.1
Pushparaj, V.L.2
Kar, S.3
Nalamasu, O.4
Ajayan, P.M.5
Baskaran, R.6
-
26
-
-
84894133612
-
-
Tóth, G.; Mäklin, J.; Halonen, N.; Palosaari, J.; Juuti, J.; Jantunen, H.; Kordás, K.; Sawyer, W. G.; Vajtai, R.; Ajayan, P. M. Adv. Mater. 2009, 2, 211-215
-
(2009)
Adv. Mater.
, vol.2
, pp. 211-215
-
-
Tóth, G.1
Mäklin, J.2
Halonen, N.3
Palosaari, J.4
Juuti, J.5
Jantunen, H.6
Kordás, K.7
Sawyer, W.G.8
Vajtai, R.9
Ajayan, P.M.10
-
29
-
-
56949093841
-
-
Baddour, C.; Fadlallah, F.; Nasuhoglu, D.; Mitra, R.; Vandsburger, L.; Meunier, J. Carbon 2008, 47, 313-318
-
(2008)
Carbon
, vol.47
, pp. 313-318
-
-
Baddour, C.1
Fadlallah, F.2
Nasuhoglu, D.3
Mitra, R.4
Vandsburger, L.5
Meunier, J.6
-
31
-
-
33947593103
-
-
Talapatra, S.; Kar, S.; Pal, S.; Vajtai, R.; Ci, L.; Victor, P.; Shaijumon, M.; Kaur, S.; Nalamasu, O.; Ajayan, P. M. Nat. Nanotechnol. 2006, 1, 112-116
-
(2006)
Nat. Nanotechnol.
, vol.1
, pp. 112-116
-
-
Talapatra, S.1
Kar, S.2
Pal, S.3
Vajtai, R.4
Ci, L.5
Victor, P.6
Shaijumon, M.7
Kaur, S.8
Nalamasu, O.9
Ajayan, P.M.10
-
32
-
-
84884838300
-
-
Halonen, N.; Mäklin, J.; Rautio, A. R.; Kukkola, J.; Uusimäki, A.; Toth, G.; Reddy, L. M.; Vajtai, R.; Ajayan, P. M.; Kordas, K. Chem. Phys. Lett. 2013, 583, 87-91
-
(2013)
Chem. Phys. Lett.
, vol.583
, pp. 87-91
-
-
Halonen, N.1
Mäklin, J.2
Rautio, A.R.3
Kukkola, J.4
Uusimäki, A.5
Toth, G.6
Reddy, L.M.7
Vajtai, R.8
Ajayan, P.M.9
Kordas, K.10
-
33
-
-
37049002411
-
-
Sung, W.; Kim, W.; Lee, H.; Kim, Y. Vacuum 2008, 82, 551-555
-
(2008)
Vacuum
, vol.82
, pp. 551-555
-
-
Sung, W.1
Kim, W.2
Lee, H.3
Kim, Y.4
-
34
-
-
75749154338
-
-
Lahiri, I.; Seelaboyina, R.; Hwang, J.; Banerjee, R.; Choi, W. Carbon 2001, 48, 1531-1538
-
(2001)
Carbon
, vol.48
, pp. 1531-1538
-
-
Lahiri, I.1
Seelaboyina, R.2
Hwang, J.3
Banerjee, R.4
Choi, W.5
-
35
-
-
69549090098
-
-
Mahanandia, P.; Arya, V.; Bhotla, P.; Subramanyam, S.; Schneider, J.; Nanda, K. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 083108
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 083108
-
-
Mahanandia, P.1
Arya, V.2
Bhotla, P.3
Subramanyam, S.4
Schneider, J.5
Nanda, K.6
-
37
-
-
84876409151
-
-
Atthipalli, G.; Wang, H.; Gray, J. L. Appl. Surf. Sci. 2013, 273, 515-519
-
(2013)
Appl. Surf. Sci.
, vol.273
, pp. 515-519
-
-
Atthipalli, G.1
Wang, H.2
Gray, J.L.3
-
38
-
-
79956028707
-
-
Wang, Z. L.; Gao, R. P.; Heer, W. A.; Poncharal, P. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 856-858
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 856-858
-
-
Wang, Z.L.1
Gao, R.P.2
Heer, W.A.3
Poncharal, P.4
-
39
-
-
34648835994
-
-
Verma, P.; Gautham, S.; Kumar, P.; Chaturvedi, P.; Rawat, J. S.; Pal, S.; Chaubey, R.; Harsh, H. P.; Vyas, P. K.; Bhatnagar J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., Meas., Phenom. 2007, 25, 1584-1587
-
(2007)
J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., Meas., Phenom.
, vol.25
, pp. 1584-1587
-
-
Verma, P.1
Gautham, S.2
Kumar, P.3
Chaturvedi, P.4
Rawat, J.S.5
Pal, S.6
Chaubey, R.7
Harsh, H.P.8
Vyas, P.K.9
Bhatnagar10
-
40
-
-
77649184829
-
-
Srividya, S.; Gautam, S.; Jha, P.; Kumar, P.; Kumar, A.; Ojha, U. S.; Rawat, J. S. B. S.; Pal, S.; Chaudhary, P. K.; Harsh, R.; Sinha, K. Appl. Surf. Sci. 2010, 256, 3563-3566
-
(2010)
Appl. Surf. Sci.
, vol.256
, pp. 3563-3566
-
-
Srividya, S.1
Gautam, S.2
Jha, P.3
Kumar, P.4
Kumar, A.5
Ojha, U.S.6
Rawat, J.S.B.S.7
Pal, S.8
Chaudhary, P.K.9
Harsh, R.10
Sinha, K.11
-
41
-
-
34250308801
-
-
McClain, D.; Wu, J.; Taven, N.; Jiao, J.; McCarter, C.; Richards, C.; Richards, R.; Bahr, D. J. Phys. Chem. C 2007, 111 (20) 7514-7520
-
(2007)
J. Phys. Chem. C
, vol.111
, Issue.20
, pp. 7514-7520
-
-
McClain, D.1
Wu, J.2
Taven, N.3
Jiao, J.4
McCarter, C.5
Richards, C.6
Richards, R.7
Bahr, D.8
-
42
-
-
79956041747
-
-
Guillorn, M. A.; Melechko, A. V.; Merkulov, V. I.; Hensley, D. K.; Simpson, M. L.; Lowndes, D. H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3660-3662
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 3660-3662
-
-
Guillorn, M.A.1
Melechko, A.V.2
Merkulov, V.I.3
Hensley, D.K.4
Simpson, M.L.5
Lowndes, D.H.6
|