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Volumn 90, Issue 6, 2003, Pages 4-

Direct Determination of Strain and Composition Profiles in SiGe Islands by Anomalous X-Ray Diffraction at High Momentum Transfer

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EID: 84892912780     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.90.066105     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (18)
  • 2
    • 0032535998 scopus 로고    scopus 로고
    • G. Medeiros-Ribero et al, Science10.1126/science.279.5349.353 279, 353 (1998).
    • (1998) Science , vol.279 , pp. 353
    • Medeiros-Ribero, G.1
  • 3
    • 0000994238 scopus 로고    scopus 로고
    • L. Vescan et al, J. Appl. Phys.10.1063/1.372980 87, 7275 (2000).
    • (2000) J. Appl. Phys. , vol.87 , pp. 7275
    • Vescan, L.1
  • 5
    • 0000997459 scopus 로고    scopus 로고
    • Chuan-Pu Liu, J.M. Gibson, D.G. Cahill, T.I. Kamins, D.P. Basile, and R.S. Williams, Phys. Rev. Lett.10.1103/PhysRevLett.84.1958 84, 1958 (2000).
    • (2000) Phys. Rev. Lett. , vol.84 , pp. 1958
  • 7
    • 0034251458 scopus 로고    scopus 로고
    • I. Kegel et al, Phys. Rev. Lett.10.1103/PhysRevLett.85.1694 85, 1694 (2000).
    • (2000) Phys. Rev. Lett. , vol.85 , pp. 1694
    • Kegel, I.1
  • 9
    • 42749100657 scopus 로고    scopus 로고
    • In principle, coherent x-ray diffraction may be used to map strain fields in nanocrystals: I.K. Robinson et al, Phys. Rev. Lett.10.1103/PhysRevLett.87.195505 87, 195505 (2001).
    • (2001) Phys. Rev. Lett. , vol.87 , pp. 195505
    • Robinson, I.K.1
  • 11
    • 13744254106 scopus 로고    scopus 로고
    • Th. Wiebach et al, Phys. Rev. B10.1103/PhysRevB.61.5571 61, 5571 (2000).
    • (2000) Phys. Rev. B , vol.61 , pp. 5571
  • 12
    • 0037104322 scopus 로고    scopus 로고
    • A. Hesse et al, Phys. Rev. B10.1103/PhysRevB.66.085321 66, 085321 (2002).
    • (2002) Phys. Rev. B , vol.66 , pp. 85321
    • Hesse, A.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.