Work function engineering of single layer graphene by irradiation-induced defects

Applied Physics Letters

Volumn 103, Issue 17, 2013, Pages

  Kim, Jong Hun ^a   Hwang, Jin Heui ^a   Suh, Joonki ^b   Tongay, Sefaattin ^b   Kwon, Sangku ^a   Hwang, C C ^c   Wu, Junqiao ^b,d   Young Park, Jeong ^a  

^a Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^b University of California Berkeley   (United States)

^c Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

^d LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATMOSPHERIC CONDITIONS; ATOMIC-SCALE DEFECTS; BEAM IRRADIATION; HIGH-ENERGY PARTICLES; IRRADIATION-INDUCED DEFECTS; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY; WORK FUNCTION ENGINEERINGS; X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY STUDIES;

DEFECTS; ELECTRIC PROPERTIES; GRAPHENE; PHOTOELECTRONS; SURFACE POTENTIAL; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

IRRADIATION;

EID: 84887042213     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4826642     Document Type: Article

References (33)

1. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos, and A. A. Firsov, Nature 438 (7065), 197-200 (2005). 10.1038/nature04233
2. Y. B. Zhang, Y. W. Tan, H. L. Stormer, and P. Kim, Nature 438 (7065), 201-204 (2005). 10.1038/nature04235
3. S. Ghosh, I. Calizo, D. Teweldebrhan, E. P. Pokatilov, D. L. Nika, A. A. Balandin, W. Bao, F. Miao, and C. N. Lau, Appl. Phys. Lett. 92 (15), 151911 (2008). 10.1063/1.2907977
4. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J. H. Ahn, P. Kim, J. Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457 (7230), 706-710 (2009). 10.1038/nature07719
5. X. S. Li, W. W. Cai, J. H. An, S. Kim, J. Nah, D. X. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo, and R. S. Ruoff, Science 324 (5932), 1312-1314 (2009). 10.1126/science.1171245
6. C. Jeon, H.-N. Hwang, W.-G. Lee, Y. G. Jung, K. S. Kim, C.-Y. Park, and C.-C. Hwang, Nanoscale 5, 8210-8214 (2013). 10.1039/c3nr01700a
7. J. S. Choi, J. S. Kim, I. S. Byun, D. H. Lee, M. J. Lee, B. H. Park, C. Lee, D. Yoon, H. Cheong, K. H. Lee, Y. W. Son, J. Y. Park, and M. Salmeron, Science 333 (6042), 607-610 (2011). 10.1126/science.1207110
8. D. Teweldebrhan and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 94 (1) 013101 (2009). 10.1063/1.3062851
9. C. Mattevi, H. Kim, and M. Chhowalla, J. Mater. Chem. 21 (10), 3324-3334 (2011). 10.1039/c0jm02126a
10. Z. Q. Luo, J. Z. Shang, S. H. Lim, D. H. Li, Q. H. Xiong, Z. X. Shen, J. Y. Lin, and T. Yu, Appl. Phys. Lett. 97 (23), 233111 (2010). 10.1063/1.3524217
11. S. Chandramohan, J. H. Kang, Y. S. Katharria, N. Han, Y. S. Beak, K. B. Ko, J. B. Park, H. K. Kim, E. K. Suh, and C. H. Hong, Appl. Phys. Lett. 100 (2), 023502 (2012). 10.1063/1.3675631
12. K. K. Kim, A. Reina, Y. M. Shi, H. Park, L. J. Li, Y. H. Lee, and J. Kong, Nanotechnology 21 (28), 285205 (2010). 10.1088/0957-4484/21/28/285205
13. S. Kwon, E. S. Lee, H. Seo, K. J. Jeon, C. C. Hwang, Y. H. Kim, and J. Y. Park, Surf. Sci. 612, 37-41 (2013). 10.1016/j.susc.2013.02.010
14. S. Kwon, J. H. Ko, K. J. Jeon, Y. H. Kim, and J. Y. Park, Nano Lett. 12 (12), 6043-6048 (2012). 10.1021/nl204019k
15. H. G. Jee, K. H. Jin, J. H. Han, H. N. Hwang, S. H. Jhi, Y. D. Kim, and C. C. Hwang, Phys. Rev. B 84 (7), 075457 (2011). 10.1103/PhysRevB.84.075457
16. S. Nakaharai, T. Iijima, S. Ogawa, S. Suzuki, S.-L. Li, K. Tsukagoshi, S. Sato, and N. Yokoyama, ACS Nano 7 (7), 5694-5700 (2013). 10.1021/nn401992q
17. S. Kwon, S. Choi, H. J. Chung, H. Yang, S. Seo, S. H. Jhi, and J. Y. Park, Appl. Phys. Lett. 99 (1), 013110 (2011). 10.1063/1.3609317
18. S. Kwon, H. J. Chung, S. Seo, and J. Y. Park, Surf. Interface Anal. 44 (6), 768-771 (2012). 10.1002/sia.4810
19. O. Lehtinen, J. Kotakoski, A. V. Krasheninnikov, A. Tolvanen, K. Nordlund, and J. Keinonen, Phys. Rev. B 81 (15), 153401 (2010). 10.1103/PhysRevB.81.153401
20. L. G. Cançado, K. Takai, T. Enoki, M. Endo, Y. A. Kim, H. Mizusaki, A. Jorio, L. N. Coelho, R. Magalhães-Paniago, and M. A. Pimenta, Appl. Phys. Lett. 88 (16), 163106 (2006). 10.1063/1.2196057
21. L. G. Cancado, A. Jorio, E. H. M. Ferreira, F. Stavale, C. A. Achete, R. B. Capaz, M. V. O. Moutinho, A. Lombardo, T. S. Kulmala, and A. C. Ferrari, Nano Lett. 11 (8), 3190-3196 (2011). 10.1021/nl201432g
22. S. Pisana, M. Lazzeri, C. Casiraghi, K. S. Novoselov, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and F. Mauri, Nature Mater. 6 (3), 198-201 (2007). 10.1038/nmat1846
23. J. Yan, Y. B. Zhang, P. Kim, and A. Pinczuk, Phys. Rev. Lett. 98 (16), 166802 (2007). 10.1103/PhysRevLett.98.166802
24. A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3 (4), 210-215 (2008). 10.1038/nnano.2008.67
25. C. Casiraghi, S. Pisana, K. S. Novoselov, A. K. Geim, and A. C. Ferrari, Appl. Phys. Lett. 91 (23), 233108 (2007). 10.1063/1.2818692
26. M. Nonnenmacher, M. P. Oboyle, and H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 58 (25), 2921-2923 (1991). 10.1063/1.105227
27. S. Ryu, L. Liu, S. Berciaud, Y. J. Yu, H. T. Liu, P. Kim, G. W. Flynn, and L. E. Brus, Nano Lett. 10 (12), 4944-4951 (2010). 10.1021/nl1029607
28. Y. J. Yu, Y. Zhao, S. Ryu, L. E. Brus, K. S. Kim, and P. Kim, Nano Lett. 9 (10), 3430-3434 (2009). 10.1021/nl901572a
29. G. Buchowicz, P. R. Stone, J. T. Robinson, C. D. Cress, J. W. Beeman, and O. D. Dubon, Appl. Phys. Lett. 98 (3), 032102 (2011). 10.1063/1.3536529
30. A. Bianconi, S. B. M. Hagstrom, and R. Z. Bachrach, Phys. Rev. B 16 (12), 5543-5548 (1977). 10.1103/PhysRevB.16.5543
31. D. Yang, A. Velamakanni, G. Bozoklu, S. Park, M. Stoller, R. D. Piner, S. Stankovich, I. Jung, D. A. Field, C. A. Ventrice, and R. S. Ruoff, Carbon 47 (1), 145-152 (2009). 10.1016/j.carbon.2008.09.045
32. D. R. Dreyer, S. Park, C. W. Bielawski, and R. S. Ruoff, Chem. Soc. Rev. 39 (1), 228-240 (2010). 10.1039/b917103g
33. H. J. Shin, K. K. Kim, A. Benayad, S. M. Yoon, H. K. Park, I. S. Jung, M. H. Jin, H. K. Jeong, J. M. Kim, J. Y. Choi, and Y. H. Lee, Adv. Funct. Mater. 19 (12), 1987-1992 (2009). 10.1002/adfm.200900167