Polarity-driven 3-fold symmetry of GaAs/AlGaAs core multishell nanowires

Nano Letters

Volumn 13, Issue 8, 2013, Pages 3742-3748

  Zheng, Changlin ^a   Wong Leung, Jennifer ^b   Gao, Qiang ^b   Tan, Hark Hoe ^b   Jagadish, Chennupati ^b   Etheridge, Joanne ^a  

^a MONASH UNIVERSITY   (Australia)

^b AUSTRALIAN NATIONAL UNIVERSITY   (Australia)

Author keywords

ADF STEM; AlGaAs GaAs; growth; nanowire; Polarity

Indexed keywords

ABERRATION-CORRECTED; ADF-STEM; ALGAAS/GAAS; ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; CRYSTAL POLARITIES; POLARITY; QUANTUM WELL HETEROSTRUCTURES; STRUCTURE AND MORPHOLOGY;

ALUMINUM GALLIUM ARSENIDE; GALLIUM ARSENIDE; GROWTH (MATERIALS); SEMICONDUCTING GALLIUM; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS; SURFACE RECONSTRUCTION; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

NANOWIRES;

EID: 84881588681     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl401680k     Document Type: Article

References (37)

1. Alferov, Z. I. Semiconductors 1998, 32 (1) 1-14
2. Schaefer, W.; Wegener, M. Semiconductor optics and transport phenomena; Springer: Berlin, 2002; p xi.
3. Kohler, R.; Tredicucci, A.; Beltram, F.; Beere, H. E.; Linfield, E. H.; Davies, A. G.; Ritchie, D. A.; Iotti, R. C.; Rossi, F. Nature 2002, 417 (6885) 156-159
4. Harder, C. S.; Vanzeghbroeck, B. J.; Kesler, M. P.; Meier, H. P.; Vettiger, P.; Webb, D. J.; Wolf, P. IBM J. Res. Dev. 1990, 34 (4) 568-584
5. Fickenscher, M.; Shi, T.; Jackson, H. E.; Smith, L. M.; Yarrison-Rice, J. M.; Zheng, C. L.; Miller, P.; Etheridge, J.; Wong, B. M.; Gao, Q.; Deshpande, S.; Tan, H. H.; Jagadish, C. Nano Lett. 2013, 13 (3) 1016-1022
6. Petroff, P. M.; Cho, A. Y.; Reinhart, F. K.; Gossard, A. C.; Wiegmann, W. Phys. Rev. Lett. 1982, 48 (3) 170-173
7. Asom, M. T.; Geva, M.; Leibenguth, R. E.; Chu, S. N. G. Appl. Phys. Lett. 1991, 59 (8) 976-978
8. Sato, M.; Maehashi, K.; Asahi, H.; Hasegawa, S.; Nakashima, H. Superlattice Microstruct. 1990, 7 (4) 279-282
9. Kim, Y.; Yuan, S.; Leon, R.; Jagadish, C.; Gal, M.; Johnston, M. B.; Phillips, M. R.; Kalceff, M. A. S.; Zou, J.; Cockayne, D. J. H. J. Appl. Phys. 1996, 80 (9) 5014-5020
10. Jacobi, K.; Platen, J.; Setzer, C. Phys. Status Solidi B 2000, 218 (2) 329-364
11. Notzel, R.; Daweritz, L.; Ploog, K. Phys. Rev. B 1992, 46 (8) 4736-4743
12. Demeester, P.; Vandaele, P.; Baets, R. J. Appl. Phys. 1988, 63 (7) 2284-2290
13. Hersee, S. D.; Barbier, E.; Blondeau, R. J. Cryst. Growth 1986, 77 (1-3) 310-320
14. Hasegawa, S.; Sato, M.; Maehashi, K.; Asahi, H.; Nakashima, H. J. Cryst. Growth 1991, 111 (1-4) 371-375
15. Hasegawa, S.; Kimura, K.; Sato, M.; Maehashi, K.; Nakashima, H. Surf. Sci. 1992, 267 (1-3) 5-7
16. Hasegawa, S.; Arakawa, K.; Oooka, H.; Nakashima, H. Appl. Surf. Sci. 2000, 162, 430-434
17. Krishnamurthy, M.; Wassermeier, M.; Williams, D. R. M.; Petroff, P. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 62 (16) 1922-1924
18. Zou, J.; Paladugu, M.; Wang, H.; Auchterlonie, G. J.; Guo, Y. N.; Kim, Y.; Gao, Q.; Joyce, H. J.; Tan, H. H.; Jagadish, C. Small 2007, 3 (3) 389-393
19. Iwanaga, H.; Fujii, M.; Takeuchi, S. Phase Transit. 1998, 66 (1-4) 147-165
20. Tambe, M. J.; Allard, L. F.; Gradecak, S. J. Phys. Conf. Ser. 2010, 209, 012033
21. Heiss, M.; Fontana, Y.; Gustafsson, A.; Wust, G.; Magen, C.; O'Regan, D. D.; Luo, J. W.; Ketterer, B.; Conesa-Boj, S.; Kuhlmann, A. V.; Houel, J.; Russo-Averchi, E.; Morante, J. R.; Cantoni, M.; Marzari, N.; Arbiol, J.; Zunger, A.; Warburton, R. J.; Fontcuberta i Morral, A. Nat. Mater. 2013, 12 (5) 439-444
22. Rudolph, D.; Funk, S.; Doblinger, M.; Morkotter, S.; Hertenberger, S.; Schweickert, L.; Becker, J.; Matich, S.; Bichler, M.; Spirkoska, D.; Zardo, I.; Finley, J. J.; Abstreiter, G.; Koblmuller, G. Nano Lett. 2013, 13 (4) 1522-1527
23. Uccelli, E.; Arbiol, J.; Magen, C.; Krogstrup, P.; Russo-Averchi, E.; Heiss, M.; Mugny, G.; Morier-Genoud, F.; Nygard, J.; Morante, J. R.; Fontcuberta i Morral, A. Nano Lett. 2011, 11 (9) 3827-3832
24. Goodman, P. Space-group determination by convergent-beam electron diffraction. In International Tables for Crystallography Vol. B: Reciprocal Space; International Union of Crystallography: Chester, Englad, 2006; pp 285-306.
25. Pennycook, S. J.; Jesson, D. E.; McGibbon, A. J.; Nellist, P. D. J. Electron. Microsc. 1996, 45 (1) 36-43
26. Mkhoyan, K.; Batson, P.; Cha, J.; Schaff, W.; Silcox, J. Science 2006, 312 (5778) 1354
27. Den Hertog, M.; Elouneg-Jamroz, M.; Bellet-Amalric, E.; Bounouar, S.; Bougerol, C.; Andre, R.; Genuist, Y.; Poizat, J. P.; Kheng, K.; Tatarenko, S. 17th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, Cambridge, U.K., Apr 4-7, 2011; p 326.
28. de la Mata, M.; Magen, C.; Gazquez, J.; Utama, M. I. B.; Heiss, M.; Lopatin, S.; Furtmayr, F.; Fernandez-Rojas, C. J.; Peng, B.; Morante, J. R.; Rurali, R.; Eickhoff, M.; Fontcuberta i Morral, A.; Xiong, Q. H.; Arbiol, J. Nano Lett. 2012, 12 (5) 2579-2586
29. Nellist, P. D.; Pennycook, S. J. Ultramicroscopy 1999, 78 (1-4) 111-124
30. Pennycook, S. J.; Chisholm, M. F.; Lupini, A. R.; Varela, M.; van Benthem, K.; Borisevich, A. Y.; Oxley, M. P.; Luo, W.; Pantelides, S. T. Adv. Imag. Elect. Phys. 2008, 153, 327-384
31. Joyce, H. J.; Gao, Q.; Tan, H. H.; Jagadish, C.; Kim, Y.; Zhang, X.; Guo, Y. N.; Zou, J. Nano Lett. 2007, 7 (4) 921-926
32. Dwyer, C.; Maunders, C.; Zheng, C. L.; Weyland, M.; Tiemeijer, P. C.; Etheridge, J. Appl. Phys. Lett. 2012, 100 (19) 191915
33. Berkovitchyellin, Z. J. Am. Chem. Soc. 1985, 107 (26) 8239-8253
34. Chadi, D. J. J. Vac. Sci. Technol., B 1985, 3 (4) 1167-1169
35. Joyce, H. J.; Wong-Leung, J.; Gao, Q.; Tan, H. H.; Jagadish, C. Nano Lett. 2010, 10 (3) 908-915
36. Verheijen, M. A.; Algra, R. E.; Borgstrom, M. T.; Immink, G.; Sourty, E.; van Enckevort, W. J. P.; Vlieg, E.; Bakkers, E. P. A. M. Nano Lett. 2007, 7 (10) 3051-3055
37. Biasiol, G.; Gustafsson, A.; Leifer, K.; Kapon, E. Phys. Rev. B 2002, 65 (20) 205306 (1-15)