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Ito, F.7
Ishibashi, Y.8
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Nagasawa, Y.10
Miyasaka, H.11
Ikeda, C.12
Takahashi, R.13
Ogawa, K.14
Satake, A.15
Kobuke, Y.16
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Rhee, H.2
Song, J.K.3
Min, C.-K.4
Takase, M.5
Aratani, N.6
Cho, S.7
Osuka, A.8
Joo, T.9
Kim, D.10
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Holten, D.6
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Marsitzky, D.2
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Zhang, J.4
Grimsdale, A.C.5
Müllen, K.6
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Hotta, J.I.3
Deres, A.4
Uji-I, H.5
Idrissi, A.6
Yang, J.7
Kim, D.8
Puhl, L.9
Haeuseler, A.10
Müllen, K.11
De Schryver, F.C.12
Sliwa, M.13
Hofkens, J.14
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Hippius, C.1
Van Stokkum, I.H.M.2
Gsänger, M.3
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Williams, R.M.5
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Chiu, T.L.1
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Lee, J.H.4
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Jung, C.1
Müller, B.K.2
Lamb, D.C.3
Nolde, F.4
Müllen, K.5
Bräuchle, C.6
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Kirstein, J.1
Platschek, B.2
Jung, C.3
Brown, R.4
Bein, T.5
Bräuchle, C.6
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0141954252
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Liu, R.C.2
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Gomez, R.1
Veldman, D.2
Blanco, R.3
Seoane, C.4
Segura, J.L.5
Janssen, R.A.J.6
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33847080425
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Melnikov, S. M.; Yeow, E. K. L.; Uji-I, H.; Cotlet, M.; Müllen, K.; De Schryver, F. C.; Enderlein, J.; Hofkens, J. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 708-719
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Melnikov, S.M.1
Yeow, E.K.L.2
Uji-I, H.3
Cotlet, M.4
Müllen, K.5
De Schryver, F.C.6
Enderlein, J.7
Hofkens, J.8
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0037048715
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Serin, J. M.; Brousmiche, D. W.; Fréchet, J. M. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11848-11849
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Serin, J.M.1
Brousmiche, D.W.2
Fréchet, J.M.J.3
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0141633643
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Gronheid, R.; Stefan, A.; Cotlet, M.; Hofkens, J.; Qu, J.; Müllen, K.; Van der Auweraer, M.; Verhoeven, J. W.; De Schryver, F. C. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 4209-4214
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Gronheid, R.1
Stefan, A.2
Cotlet, M.3
Hofkens, J.4
Qu, J.5
Müllen, K.6
Van Der Auweraer, M.7
Verhoeven, J.W.8
De Schryver, F.C.9
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23744452985
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De Schryver, F. C.; Vosch, T.; Cotlet, M.; Van der Auweraer, M.; Müllen, K.; Hofkens, J. Acc. Chem. Res. 2005, 38, 514-522
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(2005)
Acc. Chem. Res.
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-
De Schryver, F.C.1
Vosch, T.2
Cotlet, M.3
Van Der Auweraer, M.4
Müllen, K.5
Hofkens, J.6
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38
-
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0037139483
-
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Gronheid, R.; Hofkens, J.; Köhn, F.; Weil, T.; Reuther, E.; Müllen, K.; De Schryver, F. C. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2418-2419
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(2002)
J. Am. Chem. Soc.
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Gronheid, R.1
Hofkens, J.2
Köhn, F.3
Weil, T.4
Reuther, E.5
Müllen, K.6
De Schryver, F.C.7
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39
-
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0037014048
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-
Weil, T.; Reuther, E.; Müllen, K. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 1900-1904
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Weil, T.1
Reuther, E.2
Müllen, K.3
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0242306983
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Jordens, S.; De Belder, G.; Lor, M.; Schweitzer, G.; Van der Auweraer, M.; Weil, T.; Reuther, E.; Müllen, K.; De Schryver, F. C. Photochem. Photobiol. Sci. 2003, 2, 177-186
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Jordens, S.1
De Belder, G.2
Lor, M.3
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Van Der Auweraer, M.5
Weil, T.6
Reuther, E.7
Müllen, K.8
De Schryver, F.C.9
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64349090854
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Thin Solid Films
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Chiu, T.L.1
Chuang, K.H.2
Lin, C.F.3
Ho, Y.H.4
Lee, J.H.5
Chao, C.C.6
Leung, M.K.7
Wan, D.H.8
Li, C.Y.9
Chen, H.L.10
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Sliwa, M.; Flors, C.; Oesterling, I.; Hotta, J.; Müllen, K.; De Schryver, F. C.; Hofkens, J. J. Phys.: Condens. Matter 2007, 19
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J. Phys.: Condens. Matter
, pp. 19
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Sliwa, M.1
Flors, C.2
Oesterling, I.3
Hotta, J.4
Müllen, K.5
De Schryver, F.C.6
Hofkens, J.7
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Van Dijk, E.3
Van Hulst, N.F.4
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Hernando, J.; Hoogenboom, J. P.; van Dijk, E. M. H. P.; Garcia-Lopez, J. J.; Crego-Calama, M.; Reinhoudt, D. N.; van Hulst, N. F.; Garcia-Parajo, M. F. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 236404
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Hernando, J.1
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Garcia-Lopez, J.J.4
Crego-Calama, M.5
Reinhoudt, D.N.6
Van Hulst, N.F.7
Garcia-Parajo, M.F.8
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53149103564
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Hippius, C.; Van Stokkum, I. H. M.; Zangrando, E.; Williams, R. M.; Wykes, M.; Beljonne, D.; Würthner., F. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 14626-14638
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Hippius, C.1
Van Stokkum, I.H.M.2
Zangrando, E.3
Williams, R.M.4
Wykes, M.5
Beljonne, D.6
Würthner, F.7
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