-
2
-
-
0034735798
-
-
Joachim, C.; Gimzewski, J. K.; Aviram, A. Nature 2000, 408, 541-8.
-
(2000)
Nature
, vol.408
, pp. 541-548
-
-
Joachim, C.1
Gimzewski, J.K.2
Aviram, A.3
-
6
-
-
0000262396
-
-
Gao, Y. Q.; Georgievskii, Y.; Marcus, R. A. J. Chem. Phys. 2000, 112, 3358-3369.
-
(2000)
J. Chem. Phys.
, vol.112
, pp. 3358-3369
-
-
Gao, Y.Q.1
Georgievskii, Y.2
Marcus, R.A.3
-
8
-
-
0035896320
-
-
Gosavi, S.; Gao, Y. Q.; Marcus, R. A. J. Electroanal. Chem. 2001, 500, 71-77.
-
(2001)
J. Electroanal. Chem.
, vol.500
, pp. 71-77
-
-
Gosavi, S.1
Gao, Y.Q.2
Marcus, R.A.3
-
10
-
-
0001591749
-
-
Lanzafame, J. M.; Miller, R. J. D.; Muenter, A. A.; Parkinson, B. A. J. Am. Chem. Soc. 1992, 96, 2820-2826.
-
(1992)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.96
, pp. 2820-2826
-
-
Lanzafame, J.M.1
Miller, R.J.D.2
Muenter, A.A.3
Parkinson, B.A.4
-
11
-
-
0003677772
-
-
VCH Publishers: New York
-
Miller, R. J. D.; McLendon, G. L.; Nozik, A. J.; Schmickler, W.; Willig, F. Surface Electron Transfer Processes; VCH Publishers: New York, 1995.
-
(1995)
Surface Electron Transfer Processes
-
-
Miller, R.J.D.1
McLendon, G.L.2
Nozik, A.J.3
Schmickler, W.4
Willig, F.5
-
13
-
-
0035936916
-
-
Sikes, H. D.; Smalley, J. F.; Dudek, S. P.; Cook, A. R.; Newton, M. D.; Chidsey, C. E. D.; Feldberg, S. W. Science 2001, 291, 1519-1523.
-
(2001)
Science
, vol.291
, pp. 1519-1523
-
-
Sikes, H.D.1
Smalley, J.F.2
Dudek, S.P.3
Cook, A.R.4
Newton, M.D.5
Chidsey, C.E.D.6
Feldberg, S.W.7
-
17
-
-
0001247966
-
-
van Hulst, N. F.; Veerman, J.-A.; García-Parajó, M. F.; Kuipers, L. J. Chem. Phys. 2000, 112, 7799-7810.
-
(2000)
J. Chem. Phys.
, vol.112
, pp. 7799-7810
-
-
Van Hulst, N.F.1
Veerman, J.-A.2
García-Parajó, M.F.3
Kuipers, L.4
-
20
-
-
0000793711
-
-
Macklin, J. J.; Trautman, J. K.; Harris, T. D.; Brus, L. E. Science 1996, 272, 255-258.
-
(1996)
Science
, vol.272
, pp. 255-258
-
-
Macklin, J.J.1
Trautman, J.K.2
Harris, T.D.3
Brus, L.E.4
-
21
-
-
0000217925
-
-
Yip, W.-T.; Hu, D.; Yu, J.; Vanden Bout, D. A.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 7564-7575.
-
(1998)
J. Phys. Chem. A
, vol.102
, pp. 7564-7575
-
-
Yip, W.-T.1
Hu, D.2
Yu, J.3
Vanden Bout, D.A.4
Barbara, P.F.5
-
22
-
-
14944362439
-
-
Veerman, J. A.; Garcia-Parajo, M. F.; Kuipers, L.; van Hulst, N. F. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 2155-2158.
-
(1999)
Phys. Rev. Lett.
, vol.83
, pp. 2155-2158
-
-
Veerman, J.A.1
Garcia-Parajo, M.F.2
Kuipers, L.3
Van Hulst, N.F.4
-
23
-
-
0031549598
-
-
Ruiter, A. G. T.; Veerman, J. A.; Garcia-Parajo, M. F.; van Hulst, N. F. J. Phys. Chem. 1997, 101, 7318-7323.
-
(1997)
J. Phys. Chem.
, vol.101
, pp. 7318-7323
-
-
Ruiter, A.G.T.1
Veerman, J.A.2
Garcia-Parajo, M.F.3
Van Hulst, N.F.4
-
24
-
-
0002642912
-
-
Stracke, F. B. C.; Becker, S.; Mullen, K.; Meixner, A. J. Chem. Phys. Lett. 2000, 325, 196-202.
-
(2000)
Chem. Phys. Lett.
, vol.325
, pp. 196-202
-
-
Stracke, F.B.C.1
Becker, S.2
Mullen, K.3
Meixner, A.J.4
-
26
-
-
0029826336
-
-
Nirmal, M.; Dabousi, B. O.; Bawendi, M. G.; Macklin, J. J.; Trautman, J. K.; Harris, T. D.; Brus, L. E. Nature 1996, 383, 802-804.
-
(1996)
Nature
, vol.383
, pp. 802-804
-
-
Nirmal, M.1
Dabousi, B.O.2
Bawendi, M.G.3
Macklin, J.J.4
Trautman, J.K.5
Harris, T.D.6
Brus, L.E.7
-
27
-
-
0034909486
-
-
Shimizu, K. T.; Neuhauser, R.; Leatherdale, C. A.; Empedoeles, S. A.; Woo, W. K.; Bawendi. M. G. Phys. Rev. B 2001, 63, 205316-1-205316-5.
-
(2001)
Phys. Rev. B
, vol.63
, pp. 2053161-2053165
-
-
Shimizu, K.T.1
Neuhauser, R.2
Leatherdale, C.A.3
Empedoeles, S.A.4
Woo, W.K.5
Bawendi, M.G.6
-
28
-
-
0001618724
-
-
Kuno, M.; Fromm, D. P.; Hamann, H. F.; Gallagher, A.; Nesbitt, D. J. J. Chem. Phys. 2000, 112, 3117-3120.
-
(2000)
J. Chem. Phys.
, vol.112
, pp. 3117-3120
-
-
Kuno, M.1
Fromm, D.P.2
Hamann, H.F.3
Gallagher, A.4
Nesbitt, D.J.5
-
29
-
-
0043264884
-
-
Liu, R.; Holman, M. W.; Adams, D. M. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 6522-6526.
-
(2003)
J. Phys. Chem. A
, vol.107
, pp. 6522-6526
-
-
Liu, R.1
Holman, M.W.2
Adams, D.M.3
-
30
-
-
0037063542
-
-
Zang, L.; Liu, R.; Holman, M. W.; Nguyen, K. T.; Adams, D. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10640-10641.
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 10640-10641
-
-
Zang, L.1
Liu, R.2
Holman, M.W.3
Nguyen, K.T.4
Adams, D.M.5
-
32
-
-
0030772941
-
-
Adams, D. M.; Kerimo, J.; Olson, E. J. C.; Zaban, A.; Gregg, B. A.; Barbara, P. F. J. Am. Chem. Soc, 1997, 119, 10608-10619.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 10608-10619
-
-
Adams, D.M.1
Kerimo, J.2
Olson, E.J.C.3
Zaban, A.4
Gregg, B.A.5
Barbara, P.F.6
-
34
-
-
0000848546
-
-
Lee, S. K.; Zu, Y.; Herrmann, A.; Geerts, Y.; Müllen, K.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 3513-3520.
-
(1999)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.121
, pp. 3513-3520
-
-
Lee, S.K.1
Zu, Y.2
Herrmann, A.3
Geerts, Y.4
Müllen, K.5
Bard, A.J.6
-
35
-
-
0033740445
-
-
Nollau, A.; Hoffmann, M.; Fritz, T.; Leo, K. Thin Solid Films 2000, 368, 130-137.
-
(2000)
Thin Solid Films
, vol.368
, pp. 130-137
-
-
Nollau, A.1
Hoffmann, M.2
Fritz, T.3
Leo, K.4
-
36
-
-
0037075385
-
-
Lukas, A. S.; Zhao, Y.; Miller, S. E.; Wasielewski, M. R. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 1299-1306.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 1299-1306
-
-
Lukas, A.S.1
Zhao, Y.2
Miller, S.E.3
Wasielewski, M.R.4
-
37
-
-
21544462646
-
-
Wöhrle, D.; Kreienhoop, L.; Schnurpfeil, G.; Elbe, J.; Tennigkeit, B.; Hiller, S.; Schlettwein, D. J. Mater. Chem. 1995, 5, 1819-1829.
-
(1995)
J. Mater. Chem.
, vol.5
, pp. 1819-1829
-
-
Wöhrle, D.1
Kreienhoop, L.2
Schnurpfeil, G.3
Elbe, J.4
Tennigkeit, B.5
Hiller, S.6
Schlettwein, D.7
-
38
-
-
0034291727
-
-
Willig, F.; Zimmermann, C.; Ramakrishna, S.; Storck, W. Electrochim. Acta 2000, 45, 4565-4575.
-
(2000)
Electrochim. Acta
, vol.45
, pp. 4565-4575
-
-
Willig, F.1
Zimmermann, C.2
Ramakrishna, S.3
Storck, W.4
-
40
-
-
4043071644
-
-
Borch, R. F.; Bernstein, M. D.; Durst, H. D. J. Am. Chem. Soc. 1971, 93, 2897-2904.
-
(1971)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.93
, pp. 2897-2904
-
-
Borch, R.F.1
Bernstein, M.D.2
Durst, H.D.3
-
41
-
-
84985652950
-
-
Kaiser, H.; Lindner, J.; Langhals, H. Chem. Ber. 1991, 124, 529-535.
-
(1991)
Chem. Ber.
, vol.124
, pp. 529-535
-
-
Kaiser, H.1
Lindner, J.2
Langhals, H.3
-
42
-
-
0034225688
-
-
Yan, C.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 6208-6215.
-
(2000)
Langmuir
, vol.16
, pp. 6208-6215
-
-
Yan, C.1
Zharnikov, M.2
Gölzhäuser, A.3
Grunze, M.4
-
43
-
-
1842407820
-
-
Vanden Bout, D. A.; Yip, W.-T.; Hu, D.; Fu, D.-K.; Swager, T. M.; Barbara, P. F. Science 1997, 277, 1074-1077.
-
(1997)
Science
, vol.277
, pp. 1074-1077
-
-
Vanden Bout, D.A.1
Yip, W.-T.2
Hu, D.3
Fu, D.-K.4
Swager, T.M.5
Barbara, P.F.6
-
45
-
-
0037426857
-
-
Hernando, J.; van der Schaaf, M.; van Dijk, E. M. H. P.; Sauer, M.; García-Parajó, M. F.; van Hulst, N. F. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 43-52.
-
(2003)
J. Phys. Chem. A
, vol.107
, pp. 43-52
-
-
Hernando, J.1
Van der Schaaf, M.2
Van Dijk, E.M.H.P.3
Sauer, M.4
García-Parajó, M.F.5
Van Hulst, N.F.6
|