Negative photoelectron diffraction replica in secondary electron angular distribution

Journal of the Physical Society of Japan

Volumn 81, Issue 1, 2012, Pages

  Matsui, Fumihiko ^a   Matsushita, Tomohiro ^b   Hashimoto, Mie ^a   Goto, Kentaro ^a   Maejima, Naoyuki ^a   Matsui, Hirosuke ^a   Kato, Yukako ^a   Daimon, Hiroshi ^a  

^a NARA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY   (Japan)

^b JAPAN SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH INSTITUTE   (Japan)

Author keywords

Electron absorption; Ge surface; Photoelectron diffraction

Indexed keywords

EID: 84855261146     PISSN: 00319015     EISSN: 13474073     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JPSJ.81.013601     Document Type: Article

References (29)

1. C. S. Fadley: J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 178-179 (2010) 2.
2. H. Daimon: Phys. Rev. Lett. 86 (2001) 2034.
3. F. Matsui, H. Daimon, F. Z. Guo, and T. Matsushita: Appl. Phys. Lett. 85 (2004) 3737.
4. D. K. Saldin and P. L. de Andres: Phys. Rev. Lett. 64 (1990) 1270.
5. G. P. Harp, D. K. Saldin, and B. P. Tonner: Phys. Rev. Lett. 65 (1990) 1012.
6. T. Matsushita, F. Z. Guo, F. Matsui, Y. Kato, and H. Daimon: Phys. Rev. B 75 (2007) 085419.
7. T. Matsushita, F. Z. Guo, M. Suzuki, F. Matsui, H. Daimon, and K. Hayashi: Phys. Rev. B 78 (2008) 144111.
8. W. F. Egelhoff, Jr.: Phys. Rev. B 30 (1984) 1052.
9. F. Matsui, T. Matsushita, Y. Kato, F. Z. Guo, and H. Daimon: J. Phys. Soc. Jpn. 76 (2007) 013705.
10. F. Matsui, T. Matsushita, Y. Kato, F. Z. Guo, M. Hashimoto, K. Inaji, and H. Daimon: Phys. Rev. Lett. 100 (2008) 207201.
11. J. Osterwalder, T. Greber, S. Hüfner, and L. Schlapbach: Phys. Rev. B 41 (1990) 12495.
12. S. Hüfner, J. Osterwalder, T. Greber, and L. Schlapbach: Phys. Rev. B 42 (1990) 7350.
13. G. S. Herman and C. S. Fadley: Phys. Rev. B 43 (1991) 6792.
14. E. Puppin, C. Carbone, and R. Rochow: Phys. Rev. B 46 (1992) 13215.
15. W. L. O'Brien, J. Zhang, and B. P. Tonner: Phys. Rev. B 48 (1993) 10934.
16. H. Daimon: Rev. Sci. Instrum. 59 (1988) 545.
17. M. Kotsugi, Y. Miyatake, K. Enomoto, K. Fukumoto, A. Kobayashi, T. Nakatani, Y. Saitoh, T. Matsushita, S. Imada, T. Furuhata, S. Suga, K. Soda, M. Jinno, T. Hirano, K. Hattori, and H. Daimon: Nucl. Instrum. Methods A 467-468 (2001) 1493.
18. F. Matsui, T. Matsushita, and H. Daimon: J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 178-179 (2010) 221.
19. Y. Saitoh, H. Kimura, Y. Suzuki, T. Nakatani, T. Matsushita, T. Muro, T. Miyahara, M. Fujisawa, K. Soda, S. Ueda, H. Harada, M. Kotsugi, A. Sekiyama, and S. Suga: Rev. Sci. Instrum. 71 (2000) 3254.
20. K. Inaji, F. Matsui, Y. Kato, C. Sakai, T. Narikawa, T. Matsushita, F. Z. Guo, and H. Daimon: Appl. Surf. Sci. 254 (2008) 7549.
21. T. Muro, T. Nakamura, T. Matsushita, H. Kimura, T. Nakatani, T. Hirono, T. Kudo, K. Kobayashi, Y. Saitoh, M. Takeuchi, T. Hara, K. Shirasawa, and H. Kitamura: J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 144-147 (2005) 1101.
22. H. Daimon, T. Nakatani, S. Imada, S. Suga, Y. Kagoshima, and T. Miyahara: Jpn. J. Appl. Phys. 32 (1993) L1480.
23. H. Daimon, R. X. Ynzunza, F. J. Palomares, E. D. Tober, Z. X. Wang, A. P. Kaduwela, M. A. Van Hove, and C. S. Fadley: Phys. Rev. B 58 (1998) 9662.
24. A. Chassé and P. Rennert: Phys. Rev. B 55 (1997) 4120.
25. T. Matsumoto, F. Matsui, T. Matsushita, K. Goto, Y. Kato, and H. Daimon: e-J. Surf. Sci. Nanotechnol. 7 (2009) 181.
26. A. Winkelmann: J. Microsc. 239 (2010) 32.
27. A. Uesaka, K. Hayashi, T. Matsushita, and S. Arai: Phys. Rev. Lett. 107 (2011) 045502.
28. T. Katayama, H. Yamamoto, M. Ikeno, Y. Mashiko, S. Kawazu, and M. Umeno: Jpn. J. Appl. Phys. 38 (1999) L1058.
29. K. Hayashi, T. Matsushita, and E. Matsubara: J. Phys. Soc. Jpn. 75 (2006) 053601.