Charge sensing of precisely positioned p donors in si

Nano Letters

Volumn 11, Issue 10, 2011, Pages 4376-4381

  Mahapatra, Suddhasatta ^a   Büch, Holger ^a   Simmons, Michelle Y ^a  

^a UNIVERSITY OF NEW SOUTH WALES   (Australia)

Author keywords

Charge sensing; electron tunneling; P donors in Si; quantum computing; STM lithography

Indexed keywords

ATOMIC SCALE; CHARGE SENSING; CHARGE SENSITIVITY; CURRENT RESPONSE; DEVICE GEOMETRIES; P DONORS; QUANTUM COMPUTING; QUBIT STATE; REAL TIME SENSING; SCALABLE QUANTUM COMPUTING; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY (STM); SI(001) SURFACES; SINGLE ELECTRON; SINGLE ELECTRON TUNNELING; SINGLE-SHOT; SPIN-QUBITS; STM LITHOGRAPHY; TIME-AVERAGED; TIME-SCALES; ULTRA-SMALL;

ELECTRON TUNNELING; ELECTRONS; LITHOGRAPHY; PHOSPHORUS; QUANTUM COMPUTERS; QUANTUM OPTICS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS; SILICON; TRANSIENTS;

SINGLE ELECTRON TRANSISTORS;

EID: 80054028627     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl2025079     Document Type: Article

References (24)

1. Koenraad, P. M.; Flatte, M. E. Nat. Mater. 2011, 10, 91
2. Tyryshkin, A. M.; Tojo, S; Morton, J. J. L.; Riemann, L.; Abrosimov, N. V.; Becker, P.; Pohl, H.; Schenkel, T.; Thewalt, M. L. W.; Itoh, K. M.; Lyon, S. A. Condens. Matter 2011, arXiv:1105.3772.
3. Morton, J. J. L.; Tyryshkin, A. M.; Brown, R. M.; Shankar, S.; Lovett, B. W.; Ardavan, A.; Schenkel, T.; Haller, E. E.; Ager, J. W.; Lyon, S. A. Nature 2008, 455, 1085
4. Vrijen, R.; Yablonovitch, E.; Wang, K.; Jiang, H. W.; Balandin, A.; Roychowdhury, V.; Mor, T.; DiVincenzo, D. Phys. Rev. A 2000, 62, 012306
5. Clark, R. G.; Brenner, R.; Buehler, T. M.; Chan, V.; Curson, N. J.; Dzurak, A. S.; Gauja, E.; Goan, H. S.; Greentree, A. D.; Hallam, T.; Hamilton, A. R.; Hollenberg, L. C. L.; Jamieson, D. N.; McCallum, J. C.; Milburn, G. J.; O'Brien, J. L.; Oberbeck, L.; Pakes, C. I.; Prawer, S. D.; Reilly, D. J.; Ruess, F. J.; Schofield, S. R.; Simmons, M. Y.; Stanley, F. E.; Starrett, R. P.; Wellard, C.; Yang, C. Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 2003, 361, 1451
6. Hollenberg, L. C. L.; Greentree, A. D.; Fowler, A. G. Phys. Rev. B 2006, 74, 045311
7. Schofield, S. R.; Curson, N. J.; Simmons, M. Y.; Rueß, F. J.; Hallam, T.; Oberbeck, L.; Clark, R. G. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 136104
8. Loss, D.; DiVincenzo, D. P. Phys. Rev. A 1998, 57, 120
9. Elzerman, J. M.; Hanson, R.; van Beveren, L. H. W.; Witkamp, B.; Vandersypen, L. M. K.; Kouwenhoven, L. P. Nature 2004, 430, 431
10. Hanson, R.; van Beveren, L. H. W.; Vink, I. T.; Elzerman, J. M.; Naber, W. J. M.; Koppens, F. H. L.; Kouwenhoven, L. P.; Vandersypen, L. M. K. Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 196802
11. Simmons, C. B.; Prance, J. R.; Van Bael, B. J.; Koh, T. S.; Shi, Z.; Savage, D. E.; Lagally, M. G.; Joynt, R.; Friesen, M.; Coppersmith, S. N.; Eriksson, M. A. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 156804
12. Xiao, M.; House, M. G.; Jiang, H. W. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 096801
13. Morello., A; Escott, C. C.; Huebl, H.; van Beveren, L. H. W.; Hollenberg, L. C. L.; Jamieson, D. N.; Dzurak, A. S.; Clark, R. G. Phys. Rev. B 2009, 80, 081307
14. Morello, A.; Pla, J. J.; Zwanenburg, F. A.; Chan, K. W.; Tan, K. Y.; Huebl, H.; Moettoenen, M.; Nugroho, C. D.; Yang, C.; van Donkelaar, J. A.; Alves, A. D. C.; Jamieson, D. N.; Escott, C. C.; Hollenberg, L. C. L.; Clark, R. G.; Dzurak, A. S. Nature 2010, 467, 687
15. Fuhrer, A.; Fuechsle, M.; Reusch, T. C. G.; Weber, B.; Simmons, M. Y. Nano Lett. 2009, 9, 707
16. Pok, W. Manuscript in preparation.
17. Wilson, H. F.; Warschkow, O.; Marks, N. A.; Curson, N. J.; Schofield, S. R.; Reusch, T. C. G.; Radny, M. W.; Smith, P. V.; McKenzie, D. R.; Simmons, M. Y. Phys. Rev. B 2006, 74, 195310
18. Carter, D. J.; Warschkow, O.; Marks, N. A.; McKenzie, D. R. Phys. Rev. B 2009, 79, 033204
19. Angus, S. J.; Ferguson, A. J.; Dzurak, A. S.; Clark, R. G. Nano Lett. 2007, 7, 2051
20. Krupenin, V. A.; Presnov, D. E.; Savvateev, M. N.; Scherer, H.; Zorin, A. B.; Niemeyer, J. J. Appl. Phys. 1998, 84, 3212
21. Fuechsle, M.; Mahapatra, S.; Zwanenburg, F. A.; Friesen, M.; Eriksson, M. A.; Simmons, M. Y. Nat. Nanotech. 2010, 5, 502
22. Hofmann, F; Heinzel, T; Wharam, D. A.; Kotthaus, J. P.; Boehm, G.; Klein, W.; Tränkle, G.; Weimann, G Phys. Rev. B 1995, 51, 13872
23. van der Wiel, W. G.; De Franceschi, S.; Elzerman, J. M.; Fujisawa, T.; Tarucha, S.; Kouwenhoven, L. P. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 1
24. Yamahata, G.; Tsuchiya, Y.; Oda, S.; Durrani, Z. A. K.; Mizuta, H. Jpn. J. Appl. Phys. 2008, 47, 4820