-
1
-
-
0038245475
-
-
INSPEC; Institution of Engineering and Technology: Herts, U.K.
-
Silva, S. R. P. Properties of Amorphous Carbon; INSPEC; Institution of Engineering and Technology: Herts, U.K., 2003.
-
(2003)
Properties of Amorphous Carbon
-
-
Silva, S.R.P.1
-
2
-
-
0036648891
-
-
Zhang, P.; Tay, B. K.; Sun, C. Q.; Lau, S. P. J. Vac. Sci. Technol., A 2002, 20, 1390-1394
-
(2002)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.20
, pp. 1390-1394
-
-
Zhang, P.1
Tay, B.K.2
Sun, C.Q.3
Lau, S.P.4
-
3
-
-
18744396348
-
-
Beghi, M. G.; Ferrari, A. C.; Teo, K. B. K.; Robertson, J.; Botani, C. E.; Libassi, A.; Tanner, B. K. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3804-3806
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 3804-3806
-
-
Beghi, M.G.1
Ferrari, A.C.2
Teo, K.B.K.3
Robertson, J.4
Botani, C.E.5
Libassi, A.6
Tanner, B.K.7
-
7
-
-
0026046758
-
-
Rother, B.; Siegel, J.; Breuer, K.; Muhling, I.; Deutschmann, S.; Vetter, J.; Trommer, G.; Rau, B.; Heiser, C. J. Mater. Res. 1991, 6, 101-111
-
(1991)
J. Mater. Res.
, vol.6
, pp. 101-111
-
-
Rother, B.1
Siegel, J.2
Breuer, K.3
Muhling, I.4
Deutschmann, S.5
Vetter, J.6
Trommer, G.7
Rau, B.8
Heiser, C.9
-
11
-
-
0000898922
-
-
Rossi, F.; Andre, B.; Veen, A. V.; Mijnarends, P. E.; Schut, H.; Delplanke, M. P.; Gissler, W.; Haupt, J.; Lucazeau, G.; Abello, L. J. Appl. Phys. 1994, 75, 3121-3129
-
(1994)
J. Appl. Phys.
, vol.75
, pp. 3121-3129
-
-
Rossi, F.1
Andre, B.2
Veen, A.V.3
Mijnarends, P.E.4
Schut, H.5
Delplanke, M.P.6
Gissler, W.7
Haupt, J.8
Lucazeau, G.9
Abello, L.10
-
12
-
-
72649097016
-
-
Urso, L. D.; Compagnini, G.; Puglisi, O. Carbon 2006, 44, 2096-2098
-
(2006)
Carbon
, vol.44
, pp. 2096-2098
-
-
Urso, L.D.1
Compagnini, G.2
Puglisi, O.3
-
14
-
-
0039083992
-
-
Onodera, A.; Irie, Y.; Higashi, K.; Umermeura, J.; Takenaka, T. J. Appl. Phys. 1991, 69, 2611-2617
-
(1991)
J. Appl. Phys.
, vol.69
, pp. 2611-2617
-
-
Onodera, A.1
Irie, Y.2
Higashi, K.3
Umermeura, J.4
Takenaka, T.5
-
15
-
-
0001181304
-
-
Schwan, J.; Ulrich, S.; Batori, V.; Ehrardt, H.; Silva, S. R. P. J. Appl. Phys. 1996, 80, 440-447
-
(1996)
J. Appl. Phys.
, vol.80
, pp. 440-447
-
-
Schwan, J.1
Ulrich, S.2
Batori, V.3
Ehrardt, H.4
Silva, S.R.P.5
-
17
-
-
0037115991
-
-
Raravikar, N. R.; Keblinski, P.; Rao, A. M.; Dresselhaus, M. S.; Schadler, L. S.; Ajayan, P. M. Phys. Rev. B. 2002, 66, 235424-1-235424-9
-
(2002)
Phys. Rev. B.
, vol.66
, pp. 2354241-2354249
-
-
Raravikar, N.R.1
Keblinski, P.2
Rao, A.M.3
Dresselhaus, M.S.4
Schadler, L.S.5
Ajayan, P.M.6
-
18
-
-
24644454319
-
-
Jiang, C.; Ko, H.; Tsukruk, V. V. Adv. Mater. 2005, 17, 2127-2131
-
(2005)
Adv. Mater.
, vol.17
, pp. 2127-2131
-
-
Jiang, C.1
Ko, H.2
Tsukruk, V.V.3
-
19
-
-
7544250376
-
-
Ko, H.; Pikus, Y.; Jiang, C.; Jauss, A.; Hollricher, O.; Tsukruk, V. V. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 2598-2600
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.85
, pp. 2598-2600
-
-
Ko, H.1
Pikus, Y.2
Jiang, C.3
Jauss, A.4
Hollricher, O.5
Tsukruk, V.V.6
-
20
-
-
2042524576
-
-
Wang, Y.; Alsmeyer, D. C.; McCreery, R. L. Chem. Mater. 1990, 2, 557-563
-
(1990)
Chem. Mater.
, vol.2
, pp. 557-563
-
-
Wang, Y.1
Alsmeyer, D.C.2
Mccreery, R.L.3
-
24
-
-
8744258828
-
-
Ferrari, A. C.; Robertson, J. Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 2004, 362, 2477-2512
-
(2004)
Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A
, vol.362
, pp. 2477-2512
-
-
Ferrari, A.C.1
Robertson, J.2
-
25
-
-
0004283499
-
-
Applied Science Publishers: London
-
Kelly, B. T. Physics of Graphite; Applied Science Publishers: London, 1993.
-
(1993)
Physics of Graphite
-
-
Kelly, B.T.1
-
26
-
-
0001953731
-
-
Koidl, P.; Wagner, C.; Dischler, B.; Wagner, J.; Ramsteiner, M. Mater. Sci. Forum 1990, 52, 41
-
(1990)
Mater. Sci. Forum
, vol.52
, pp. 41
-
-
Koidl, P.1
Wagner, C.2
Dischler, B.3
Wagner, J.4
Ramsteiner, M.5
-
27
-
-
0014745351
-
-
Hart, R. K.; Kassner, T. F.; Maurin, J. K. Philos. Mag. 1970, 21, 453-467
-
(1970)
Philos. Mag.
, vol.21
, pp. 453-467
-
-
Hart, R.K.1
Kassner, T.F.2
Maurin, J.K.3
-
28
-
-
33947305605
-
-
Rykaczewski, K.; White, W. B.; Fedorov, A. G. J. Appl. Phys. 2007, 101, 054307-1
-
(2007)
J. Appl. Phys.
, vol.101
, pp. 054307-1
-
-
Rykaczewski, K.1
White, W.B.2
Fedorov, A.G.3
-
29
-
-
48149105989
-
-
Rykaczewski, K.; Marshall, A.; White, W. B.; Fedorov, A. G. Ultramicroscopy 2008, 108, 989-992
-
(2008)
Ultramicroscopy
, vol.108
, pp. 989-992
-
-
Rykaczewski, K.1
Marshall, A.2
White, W.B.3
Fedorov, A.G.4
-
31
-
-
77953716485
-
-
Rykaczewski, K.; Hilderth, O. J.; Kulkarni, D. D.; Henry, M. R.; Kim, S. -K; Wong, C. P; Tsukruk, V. V.; Fedorov, A. G. ACS Appl. Mater. Interfaces 2010, 2, 969-975
-
(2010)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.2
, pp. 969-975
-
-
Rykaczewski, K.1
Hilderth, O.J.2
Kulkarni, D.D.3
Henry, M.R.4
Kim, S.-K.5
Wong, C.P.6
Tsukruk, V.V.7
Fedorov, A.G.8
-
32
-
-
58149265161
-
-
Guan, Y.; Fowlkes, J. D.; Retterer, S. T.; Simpson, M. L.; Rack, P. D. Nanotechnology 2008, 19, 505302
-
(2008)
Nanotechnology
, vol.19
, pp. 505302
-
-
Guan, Y.1
Fowlkes, J.D.2
Retterer, S.T.3
Simpson, M.L.4
Rack, P.D.5
-
33
-
-
22944478665
-
-
Ding, W.; Dikin, D. A.; Chen, X.; Piner, R. D.; Ruoff, R. S.; Zussman, E.; Wang, X.; Li., X. J. Appl. Phys. 2005, 98, 014905-1
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.98
, pp. 014905-1
-
-
Ding, W.1
Dikin, D.A.2
Chen, X.3
Piner, R.D.4
Ruoff, R.S.5
Zussman, E.6
Wang, X.7
Li, X.8
-
34
-
-
74949114828
-
-
Rykaczewski, K.; Henry, M. R.; Kim, S. -K.; Fedorov, A. G.; Kulkarni, D. D.; Singamaneni, S.; Tsukruk, V. V. Nanotechnology 2010, 21, 035202
-
(2010)
Nanotechnology
, vol.21
, pp. 035202
-
-
Rykaczewski, K.1
Henry, M.R.2
Kim, S.-K.3
Fedorov, A.G.4
Kulkarni, D.D.5
Singamaneni, S.6
Tsukruk, V.V.7
-
35
-
-
0001032750
-
-
Marchon, B.; Heiman, N.; Khan, M. R.; Lautie, A.; Ager, J. W.; Veirs, D. K. J. Appl. Phys. 1991, 69, 5748-5750
-
(1991)
J. Appl. Phys.
, vol.69
, pp. 5748-5750
-
-
Marchon, B.1
Heiman, N.2
Khan, M.R.3
Lautie, A.4
Ager, J.W.5
Veirs, D.K.6
-
36
-
-
84879789006
-
-
Onodera, A.; Yasushi, I.; Higashim, K.; Umemura, J.; Takenaka, T. J. Appl. Phys. 1991, 69, 043512-1
-
(1991)
J. Appl. Phys.
, vol.69
, pp. 043512-1
-
-
Onodera, A.1
Yasushi, I.2
Higashim, K.3
Umemura, J.4
Takenaka, T.5
-
37
-
-
0000741444
-
-
Mounier, E.; Bertin, F.; Adamik, M.; Pauleau, Y.; Barna, P. B. Diamone Relat. Mater. 1996, 5, 1509-1515
-
(1996)
Diamone Relat. Mater.
, vol.5
, pp. 1509-1515
-
-
Mounier, E.1
Bertin, F.2
Adamik, M.3
Pauleau, Y.4
Barna, P.B.5
-
38
-
-
36449004339
-
-
Cho., N. H.; Veirs, D. K.; Ager, J. W.; Rubin, M. D.; Hopper, C. B.; Bogy, D. B. J. Appl. Phys. 1992, 71, 2243-2248
-
(1992)
J. Appl. Phys.
, vol.71
, pp. 2243-2248
-
-
Cho, N.H.1
Veirs, D.K.2
Ager, J.W.3
Rubin, M.D.4
Hopper, C.B.5
Bogy, D.B.6
-
39
-
-
0033225741
-
-
Jiu, J. T.; Wang, H.; Cao, C.-B.; Zhu, H. S. J. Mater. Sci. 1999, 34, 5205-5209
-
(1999)
J. Mater. Sci.
, vol.34
, pp. 5205-5209
-
-
Jiu, J.T.1
Wang, H.2
Cao, C.-B.3
Zhu, H.S.4
-
40
-
-
50849138855
-
-
Takabayashi, S.; Okamoto, K.; Sakaue, H.; Takahagi, T.; Shimada, K.; Nakatani, T. J. Appl. Phys. 2008, 104, 043512
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.104
, pp. 043512
-
-
Takabayashi, S.1
Okamoto, K.2
Sakaue, H.3
Takahagi, T.4
Shimada, K.5
Nakatani, T.6
-
41
-
-
0001714836
-
-
Walters, J. K.; Fox, D. M.; Burke, T. M.; Weedon, O. D.; Newport, R. J.; Howells, W. S. J. Chem. Phys. 1994, 101, 4288-4300
-
(1994)
J. Chem. Phys.
, vol.101
, pp. 4288-4300
-
-
Walters, J.K.1
Fox, D.M.2
Burke, T.M.3
Weedon, O.D.4
Newport, R.J.5
Howells, W.S.6
-
42
-
-
33748374245
-
-
Osswald, S.; Yushin, G.; Mochalin, V.; Kucheyev, S. O.; Gogotsi, Y. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 11635-11642
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.128
, pp. 11635-11642
-
-
Osswald, S.1
Yushin, G.2
Mochalin, V.3
Kucheyev, S.O.4
Gogotsi, Y.5
-
43
-
-
70349527956
-
-
Singamaneni, S.; Gupta, M. K.; Yang, R.; Tomczak, M.; Naik, R. R.; Wang, Z. L.; Tsukruk, V. V. ACS Nano 2009, 3, 2593
-
(2009)
ACS Nano
, vol.3
, pp. 2593
-
-
Singamaneni, S.1
Gupta, M.K.2
Yang, R.3
Tomczak, M.4
Naik, R.R.5
Wang, Z.L.6
Tsukruk, V.V.7
-
45
-
-
0001296350
-
-
Sullivan, J. P.; Friedmann, T. A.; Baca, A. G. J. Electron. Mater. 1997, 26, 1021-1029
-
(1997)
J. Electron. Mater.
, vol.26
, pp. 1021-1029
-
-
Sullivan, J.P.1
Friedmann, T.A.2
Baca, A.G.3
-
49
-
-
77955882441
-
-
McConney, M. E.; Singamaneni, S.; Tsukruk, V. V. Polym. Rev. 2010, 50, 235-286
-
(2010)
Polym. Rev.
, vol.50
, pp. 235-286
-
-
Mcconney, M.E.1
Singamaneni, S.2
Tsukruk, V.V.3
|