PIXE analysis of multilayer targets

X-Ray Spectrometry

Volumn 40, Issue 3, 2011, Pages 153-156

  Reis, M A ^a,b   Barradas, N P ^a,c   Chaves, P C ^a,b   Taborda, A ^a,b  

^a INSTITUTO TECNOLÓGICO E NUCLEAR   (Portugal)

^b UNIVERSITY OF LISBON   (Portugal)

^c CENTRO DE FÍSICA NUCLEAR DA UNIVERSIDADE DE LISBOA   (Portugal)

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COMPUTER SOFTWARE; ION BEAMS; RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROSCOPY;

COMPLEXES STRUCTURE; HOMOGENEOUS SAMPLES; LAYERED TARGETS; MULTILAYER TARGETS; PARTICLE INDUCED X-RAY EMISSION; PARTICLE-INDUCED X-RAY EMISSION ANALYSIS; QUANTITATIVE APPROACH; RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROMETRY; SOFTWARE CODES; SPECTRA'S;

MULTILAYERS;

EID: 79955136958     PISSN: 00498246     EISSN: 10974539     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/xrs.1322     Document Type: Article

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