Synthesis and characterization of single-layer silver-decanethiolate lamellar crystals

Journal of the American Chemical Society

Volumn 133, Issue 12, 2011, Pages 4367-4376

  Hu, Liang ^a   De La Rama, Lito P ^a   Efremov, Mikhail Y ^b   Anahory, Yonathan ^c   Schiettekatte, Francois ^c   Allen, Leslie H ^a  

^a University of Illinois at Urbana Champaign   (United States)

^b University of Wisconsin Madison   (United States)

^c UNIVERSITÉ DE MONTRÉAL   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AG CLUSTERS; ANNEALING TEMPERATURES; DECANETHIOL; FTIR; IN-PLANE ORDERING; LAMELLAR CRYSTALS; LAYER-BY-LAYERS; NANOCALORIMETRY; NUMBER OF LAYERS; PRECISE CONTROL; SINGLE LAYER; SYNTHESIS METHOD; TEM; TWO-DIMENSIONAL CRYSTALS; X RAY REFLECTIVITY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMIC SPECTROSCOPY; CRYSTALS; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROSCOPY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

SILVER;

DECANETHIOL; SILVER; SILVER DECANETHIOLATE; SILVER DERIVATIVE; THIOL DERIVATIVE; UNCLASSIFIED DRUG;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CALORIMETRY; CHEMICAL COMPOSITION; CONTROLLED STUDY; CRYSTAL; CRYSTAL STRUCTURE; INFRARED SPECTROSCOPY; LAMELLAR CRYSTAL; LIGHT SCATTERING; NANOCALORIMETRY; PARTICLE SIZE; ROENTGEN SPECTROSCOPY; RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROSCOPY; SYNTHESIS; TEMPERATURE; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; VAPOR; X RAY DIFFRACTION; X RAY REFLECTANCE SPECTROSCOPY;

CRYSTALLIZATION; ORGANOMETALLIC COMPOUNDS; PARTICLE SIZE; SILVER; SULFHYDRYL COMPOUNDS; SURFACE PROPERTIES;

EID: 79953032971     PISSN: 00027863     EISSN: 15205126     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja107817x     Document Type: Article

References (51)

1. Knight, W. D.; Clemenger, K.; Deheer, W. A.; Saunders, W. A.; Chou, M. Y.; Cohen, M. L. Phys. Rev. Lett. 1984, 52, 2141-2143
2. Efremov, M. Y.; Schiettekatte, F.; Zhang, M.; Olson, E. A.; Kwan, A. T.; Berry, R. S.; Allen, L. H. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 3560-3563
3. Jadzinsky, P. D.; Calero, G.; Ackerson, C. J.; Bushnell, D. A.; Kornberg, R. D. Science 2007, 318, 430-433
4. Smetana, A. B.; Klabunde, K. J.; Sorensen, C. M. J. Colloid Interface Sci. 2005, 284, 521-526
5. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183-191
6. DiBenedetto, S. A.; Facchetti, A.; Ratner, M. A.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2009, 21, 1407-1433
7. Bachman, R. E.; Bodolosky-Bettis, S. A.; Glennon, S. C.; Sirchio, S. A. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 7146-7147
8. Cha, S. H.; Kim, J. U.; Kim, K. H.; Lee, J. C. Chem. Mater. 2007, 19, 6297-6303
9. Bakr, O. M.; Amendola, V.; Aikens, C. M.; Wenseleers, W.; Li, R.; Dal Negro, L.; Schatz, G. C.; Stellacci, F. Angew. Chem., Int. Ed. 2009, 48, 5921-5926
10. Kind, M.; Woll, C. Prog. Surf. Sci. 2009, 84, 230-278
11. Gandhi, D. D.; Lane, M.; Zhou, Y.; Singh, A. P.; Nayak, S.; Tisch, U.; Eizenberg, M.; Ramanath, G. Nature 2007, 447, 299-302
12. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103-1169
13. Cossaro, A.; Mazzarello, R.; Rousseau, R.; Casalis, L.; Verdini, A.; Kohlmeyer, A.; Floreano, L.; Scandolo, S.; Morgante, A.; Klein, M. L.; Scoles, G. Science 2008, 321, 943-946
14. Yee, C. K.; Jordan, R.; Ulman, A.; White, H.; King, A.; Rafailovich, M.; Sokolov, J. Langmuir 1999, 15, 3486-3491
15. Chen, S. W.; Templeton, A. C.; Murray, R. W. Langmuir 2000, 16, 3543-3548
16. Hu, L.; Zhang, Z. S.; Zhang, M.; Efremov, M. Y.; Olson, E. A.; de la Rama, L. P.; Kummamuru, R. K.; Allen, L. H. Langmuir 2009, 25, 9585-9595
17. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321-335
18. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y. T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167
19. Woodruff, D. P. Phys. Chem. Chem. Phys. 2008, 10, 7211-7221
20. Yu, M.; Bovet, N.; Satterley, C. J.; Bengio, S.; Lovelock, K. R. J.; Milligan, P. K.; Jones, R. G.; Woodruff, D. P.; Dhanak, V. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 166102
21. Gronbeck, H.; Hakkinen, H. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 3325-3327
22. Gronbeck, H.; Hakkinen, H.; Whetten, R. L. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 15940-15942
23. Mazzarello, R.; Cossaro, A.; Verdini, A.; Rousseau, R.; Casalis, L.; Danisman, M. F.; Floreano, L.; Scandolo, S.; Morgante, A.; Scoles, G. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 016102
24. Hakkinen, H.; Walter, M.; Gronbeck, H. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 9927-9931
25. Walter, M.; Akola, J.; Lopez-Acevedo, O.; Jadzinsky, P. D.; Calero, G.; Ackerson, C. J.; Whetten, R. L.; Gronbeck, H.; Hakkinen, H. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2008, 105, 9157-9162
26. Gronbeck, H.; Walter, M.; Hakkinen, H. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 10268-10275
27. Negishi, Y.; Nobusada, K.; Tsukuda, T. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 5261-5270
28. Dance, I. G.; Fisher, K. J.; Banda, R. M. H.; Scudder, M. L. Inorg. Chem. 1991, 30, 183-187
29. Baena, M. J.; Espinet, P.; Lequerica, M. C.; Levelut, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 4182-4185
30. Fijolek, H. G.; Grohal, J. R.; Sample, J. L.; Natan, M. J. Inorg. Chem. 1997, 36, 622-628
31. Bensebaa, F.; Ellis, T. H.; Kruus, E.; Voicu, R.; Zhou, Y. Langmuir 1998, 14, 6579-6587
32. Voicu, R.; Badia, A.; Morin, F.; Lennox, R. B.; Ellis, T. H. Chem. Mater. 2000, 12, 2646-2652
33. Voicu, R.; Badia, A.; Morin, F.; Lennox, R. B.; Ellis, T. H. Chem. Mater. 2001, 13, 2266-2271
34. Parikh, A. N.; Gillmor, S. D.; Beers, J. D.; Beardmore, K. M.; Cutts, R. W.; Swanson, B. I. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 2850-2861
35. Bardeau, J. F.; Parikh, A. N.; Beers, J. D.; Swanson, B. I. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 627-635
36. Dubois, L. H.; Zegarski, B. R.; Nuzzo, R. G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 678-688
37. Olson, E. A.; Efremov, M. Y.; Zhang, M.; Zhang, Z. S.; Allen, L. H. J. Microelectromech. Syst. 2003, 12, 355-64
38. Efremov, M. Y.; Olson, E. A.; Zhang, M.; Schiettekatte, F.; Zhang, Z. S.; Allen, L. H. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 179-191
39. Lai, S. L.; Guo, J. Y.; Petrova, V.; Ramanath, G.; Allen, L. H. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 99-102
40. Zhang, M.; Efremov, M. Y.; Schiettekatte, F.; Olson, E. A.; Kwan, A. T.; Lai, S. L.; Wisleder, T.; Greene, J. E.; Allen, L. H. Phys. Rev. B 2000, 62, 10548-10557
41. Efremov, M. Y.; Olson, E. A.; Zhang, M.; Zhang, Z.; Allen, L. H. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 085703
42. Mayer, M. Proceedings of the15th International Conference on the Application of Accelerators in Research and Industry, Denton, TX, 1999; Duggan, J. L.; Stippec, B.; Morgan, I. L., Eds.; American Institute of Physics, 1999; p 541.
43. Zhang, Z. S.; Wilson, O. M.; Efremov, M. Y.; Olson, E. A.; Braun, P. V.; Senaratne, W.; Ober, C. K.; Zhang, M.; Allen, L. H. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 5198
44. Levchenko, A. A.; Yee, C. K.; Parikh, A. N.; Navrotsky, A. Chem. Mater. 2005, 17, 5428-5438
45. Terrill, R. H.; Postlethwaite, T. A.; Chen, C. H.; Poon, C. D.; Terzis, A.; Chen, A.; Hutchison, J. E.; Clark, M. P.; Wignall, G.; Londono, J. D.; Superfine, R.; Falvo, M.; Johnson, C. S., Jr.; Samulski, E. T.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 12537-12548
46. Badia, A.; Singh, S.; Demers, L.; Cuccia, L.; Brown, G. R.; Lennox, R. B. Chem.-Eur. J. 1996, 2, 359-363
47. Dorset, D. L. Crystallography of the Polymethylene Chain: An Inquiry into the Structure of Waxes; Oxford University Press: New York, 2005; Chapters 1-2.
48. Dorset, D. L. Crystallography of the Polymethylene Chain: An Inquiry into the Structure of Waxes; Oxford University Press: New York, 2005.
49. Weber, C. H. M.; Chiche, A.; Krausch, G.; Rosenfeldt, S.; Ballauff, M.; Harnau, L.; Gottker-Schnetmann, I.; Tong, Q.; Mecking, S. Nano Lett. 2007, 7, 2024-2029
50. Kitaigorodskii, A. I. Organic Chemical Crystallography; Consultants Bureau: New York, 1961.
51. Schwartz, D. K. Surf. Sci. Rep. 1997, 27, 241-334