Heat capacity measurements of two-dimensional self-assembled hexadecanethiol monolayers on polycrystalline gold

Applied Physics Letters

Volumn 84, Issue 25, 2004, Pages 5198-5200

  Zhang, Z S ^a   Wilson, O M ^a   Efremov, M Yu ^a   Olson, E A ^a   Braun, P V ^a   Senaratne, W ^b   Ober, C K ^b   Zhang, M ^c   Allen, L H ^c  

^a University of Illinois at Urbana Champaign   (United States)

^b Cornell University   (United States)

^c UNIVERSITY OF ILLINOIS AT URBANA CHAMPAIGN   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

HEXADECANETHIOL; NANOCALORIMETRY; THIN FILM DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETRY (TDSC); VACUUM CHAMBERS;

COMPUTER SIMULATION; CRYSTAL GROWTH; DESORPTION; DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETRY; GOLD; MELTING; MICROELECTROMECHANICAL DEVICES; MOLECULAR DYNAMICS; MONOLAYERS; POLYCRYSTALLINE MATERIALS; SPECIFIC HEAT; SULFUR COMPOUNDS; SYNTHESIS (CHEMICAL); THERMAL VARIABLES MEASUREMENT; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

SELF ASSEMBLY;

EID: 3142715888     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1764938     Document Type: Article

References (42)

1. A. Bishop and R. Nuzzo, Curr. Opin. Colloid Interface Sci. 1, 127 (1996); R. Nuzzo and D. Allara, J. Am. Chem. Soc. 105, 4481 (1983).
2. A. Bishop and R. Nuzzo, Curr. Opin. Colloid Interface Sci. 1, 127 (1996); R. Nuzzo and D. Allara, J. Am. Chem. Soc. 105, 4481 (1983).
3. M. J. Hosteller, W. L. Manner, R. G. Nuzzo, and G. S. Girolami, J. Phys. Chem. 99, 15269 (1995).
4. W. Wang, T. Lee, and M. A. Reed, Phys. Rev. B 68, 035416 (2003).
5. P. G. Ganesan, J. Gamba, A. Ellis, R. S. Kane, and G. Ramanath, Appl. Phys. Lett. 83, 3302 (2003); J. A. Mayer and S. S. Lau, Electronic Materials Science: For Integrated Circuits in Si and GaAs (Macmillan, New York, 1990).
6. P. G. Ganesan, J. Gamba, A. Ellis, R. S. Kane, and G. Ramanath, Appl. Phys. Lett. 83, 3302 (2003); J. A. Mayer and S. S. Lau, Electronic Materials Science: For Integrated Circuits in Si and GaAs (Macmillan, New York, 1990).
7. G. M. Whitesides and P. E. Laibinis, Langmuir 6, 87 (1990).
8. C. E. D. Chidsey and D. N. Loiacono, Langmuir 6, 682 (1990).
9. A. Badia, R. Back, and R. B. Lennox, Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 33, 2332 (1994).
10. P. Fenter, P. Eisenberger, and K. Liang, Phys. Rev. Lett. 70, 2447 (1993).
11. F. Bensebaa, T. Ellis, A. Badia, and R. Lennox, Langmuir 14, 2361 (1998).
12. L. H. Dubois, B. R. Zegarski, and R. G. Nuzzo, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 54/55, 1143 (1990); R. G. Nuzzo, E. M. Korenic, and L. H. Dubois, J. Chem. Phys. 93, 767 (1990).
13. L. H. Dubois, B. R. Zegarski, and R. G. Nuzzo, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 54/55, 1143 (1990); R. G. Nuzzo, E. M. Korenic, and L. H. Dubois, J. Chem. Phys. 93, 767 (1990).
14. Y. Qian, G. Yang, J. Yu, T. A. Jung, and G. -Y. Liu, Langmuir 19, 6056 (2003);
15. G. E. Poirier, W. P. Fitts, and J. M. White, ibid. 17, 1176 (2001);
16. E. Delamarche, B. Michel, H. Kang, and C. Gerber, ibid. 10, 4103 (1994).
17. A. Badia, R. B. Lennox, and L. Reven, Acc. Chem. Res. 33, 475 (2000).
18. J. M. E. Harper, L. A. Clevenger, E. G. Colgan, C. Cabral, Jr., and B. Arcot, Interface Control of Electrical, Chemical and Mechanical Properties Symposium, 1994, p. 307.
19. A. Badia, S. Singh, L. Demers, L. Cuccia, G. R. Brown, and R. B. Lennox, Chem.-Eur. J. 2, 359 (1996).
20. R. H. Terrill, T. A. Postlethwaite, C. -H. Chen, C. -D. Poon, A. Terzis, A. Chen, J. E. Hutchison, M. P. Clark, G. Wignall, J. D. Londono, R. Superfine, M. Falvo C. S. Johnson, Jr., E. T. Samulski, and R. W. Murray, J. Am. Chem. Soc. 117, 12537 (1995).
21. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, F. Schiettekatte, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, Rev. Sci. Instrum. 75, 179 (2004).
22. E. A. Olson, M. Yu. Efremov, M. Zhang, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, J. Microelectromech. Syst. 12, 355 (2003).
23. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, and L. H. Allen, Thermochim. Acta 403, 37 (2003).
24. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, Phys. Rev. Lett. 91, 085703 (2003); S. L. Lai, J. Y. Guo, V. Petrova, G. Ramanath, and L. H. Allen, ibid. 77, 99 (1996); M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, M. Zhang, E. A. Olson, A. T. Kwan, R. S. Berry, and L. H. Allen, ibid. 85, 3560 (2000); M. Zhang, M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, E. A. Olson, A. T. Kwan, S. L. Lai, T. Wisleder, J. E. Greene, and L. H. Allen, Phys. Rev. B 62, 10548 (2000).
25. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, Phys. Rev. Lett. 91, 085703 (2003); S. L. Lai, J. Y. Guo, V. Petrova, G. Ramanath, and L. H. Allen, ibid. 77, 99 (1996); M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, M. Zhang, E. A. Olson, A. T. Kwan, R. S. Berry, and L. H. Allen, ibid. 85, 3560 (2000); M. Zhang, M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, E. A. Olson, A. T. Kwan, S. L. Lai, T. Wisleder, J. E. Greene, and L. H. Allen, Phys. Rev. B 62, 10548 (2000).
26. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, Phys. Rev. Lett. 91, 085703 (2003); S. L. Lai, J. Y. Guo, V. Petrova, G. Ramanath, and L. H. Allen, ibid. 77, 99 (1996); M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, M. Zhang, E. A. Olson, A. T. Kwan, R. S. Berry, and L. H. Allen, ibid. 85, 3560 (2000); M. Zhang, M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, E. A. Olson, A. T. Kwan, S. L. Lai, T. Wisleder, J. E. Greene, and L. H. Allen, Phys. Rev. B 62, 10548 (2000).
27. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, Phys. Rev. Lett. 91, 085703 (2003); S. L. Lai, J. Y. Guo, V. Petrova, G. Ramanath, and L. H. Allen, ibid. 77, 99 (1996); M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, M. Zhang, E. A. Olson, A. T. Kwan, R. S. Berry, and L. H. Allen, ibid. 85, 3560 (2000); M. Zhang, M. Yu. Efremov, F. Schiettekatte, E. A. Olson, A. T. Kwan, S. L. Lai, T. Wisleder, J. E. Greene, and L. H. Allen, Phys. Rev. B 62, 10548 (2000).
28. A. T. Kwan, M. Yu. Efremov, E. A. Olson, F. Schiettekatte, M. Zhang, P. H. Geil, and L. H. Allen, J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 39(11), 1237 (2001).
29. M. Yu. Efremov, E. A. Olson, M. Zhang, S. Lai, F. Schiettekatte, Z. S. Zhang, and L. H. Allen, Thermochim. Acta 412, 13 (2004).
30. P. E. Laibinis, J. J. Hickman, M. S. Wrighton, and G. M. Whitesides, Science 245, 845 (1989).
31. M. T. A. Saif, S. Zhang, A. Haque, and K. J. Hsia, Acta Mater. 50, 2779 (2002).
32. C. D. Bain, E. B. Troughton, Y. Tao, J. Evall, G. M. Whitesides, and R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc. 111, 321 (1989).
33. M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, and R. Whyman, J. Chem. Soc., Chem. Commun. 7, 801 (1994).
34. ATHAS Data Bank (1992).
35. C. L. Yaws, Chemical Properties Handbook (McGraw-Hill, New York, 1999).
36. A. Ulman, Chem. Rev. (Washington, D.C.) 96, 1533 (1996).
37. A. Badia, L. Cuccia, L. Demers, F. Morin, and R. B. Lennox, J. Am. Chem. Soc. 119, 2682 (1997).
38. W. D. Luedtke and U. Landman, J. Phys. Chem. B 102, 6566 (1998).
39. F. Schreiber, Prog. Surf. Sci. 65, 151 (2000).
40. R. Nuzzo, L. Dubois, and D. Allara, J. Am. Chem. Soc. 112, 558 (1990).
41. J. Watanabe, H.Ono, I.Uematsu, and A.Abe,Macromolecules 18, 2141 (1985).
42. N. F. Nagle and H. L. Scott, Phys. Today 31, 38 (1978).