Soft nanolithography by polymer fibers

Advanced Functional Materials

Volumn 21, Issue 6, 2011, Pages 1140-1145

  Tu, Deyu ^a   Pagliara, Stefano ^a   Camposeo, Andrea ^a   Potente, Giovanni ^a,c   Mele, Elisa ^b   Cingolani, Roberto ^b   Pisignano, Dario ^a,c  

^a NATIONAL NANOTECHNOLOGY LABORATORY   (Italy)

^b ISTITUTO ITALIANO DI TECNOLOGIA   (Italy)

^c UNIVERSITY OF SALENTO   (Italy)

Author keywords

electrospinning; organic field effect transistors; polymeric materials; soft lithography

Indexed keywords

CHANNEL LENGTH; DOWN-SCALING; INORGANIC SURFACES; LATERAL DIMENSION; NM RESOLUTION; PATTERN TRANSFERS; POLYMER FIBER; POLYMER FIELD EFFECT TRANSISTORS; POLYMERIC MATERIALS; RADIO FREQUENCY IDENTIFICATION DEVICES; SOFT LITHOGRAPHY; TRANSISTOR TRANSITION;

ELECTROSPINNING; GATES (TRANSISTOR); NANOLITHOGRAPHY; ORGANIC FIELD EFFECT TRANSISTORS; POLYMERS; RADIO FREQUENCY IDENTIFICATION (RFID);

FIELD EFFECT TRANSISTORS;

EID: 79952823451     PISSN: 1616301X     EISSN: 16163028     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adfm.201001901     Document Type: Article

References (31)

1. M. Hamedi, K. Tvingstedt, R. H. Karlsson, P. àsberg, O. Inganäs, Nano Lett. 2009, 9, 631.
2. E. Mele, A. Camposeo, M. De Giorgi, F. Di Benedetto, C. De Marco, V. Tasco, R. Cingolani, D. Pisignano, Small 2008, 4, 1894.
3. S. J. Maerkl, S. R. Quake, Science 2007, 315, 233.
4. J. P. Renault, A. Bernard, D. Juncker, B. Michel, H. R. Bosshard, E. Delamarche, Angew. Chem. Int. Ed. 2002, 41, 2320.
5. T. M. Squires, S. R. Quake, Rev. Mod. Phys. 2005, 77, 977.
6. P. F. Murphy, K. J. Morton, Z. Fu, S. Y. Chou, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 203115.
7. M. D. Austin, W. Zhang, H. Ge, D. Wasserman, S. A. Lyon, S. Y. Chou, Nanotechnology 2005, 16, 1058.
8. Y. Xia, G. M. Whitesides, Angew. Chem. Int. Ed. 1998, 37, 550.
9. J. P. Rolland, E. C. Hagberg, G. M. Denison, K. M. Carter, J. M. De Simone, Angew. Chem. Int. Ed. 2004, 43, 5796.
10. B. W. Maynor, I. LaRue, Z. Hu, J. P. Rolland, A. Pandya, Q. Fu, J. Liu, R. J. Spontak, S. S. Sheiko, R. J. Samulski, E. T. Samulski, J. M. DeSimone, Small 2007, 3, 845.
11. F. Hua, Y. Sun, A. Gaur, M. A. Meitl, L. Bihaut, L. Rotkina, J. Wang, P. Geil, M. Shim, J. A. Rogers, Nano Lett. 2004, 4, 2467.
12. E. P. De Poortere, H. L. Stormer, L. M. Huang, S. J. Wind, S. O'Brien, M. Huang, J. Hone, J. Vac. Sci. Technol. B 2006, 24, 3213.
13. D. H. Reneker, I. Chun, Nanotechnology 1996, 7, 216.
14. D. A. Czaplewski, J. Kameoka, R. Mathers, G. W. Coates, H. G. Craighead, Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 4836.
15. S. Pagliara, A. Camposeo, A. Polini, R. Cingolani, D. Pisignano, Lab Chip 2009, 9, 2851.
16. Y. Ishii, H. Sakai, H. Murata, Mater. Lett. 2008, 62, 3370.
17. N. Y. Lee, Y. S. Kim, Nanotechnology 2007, 18, 415303.
18. D. Pisignano, L. Persano, G. Gigli, R. Cingolani, F. Babudri, G. M. Farinola, F. Naso, Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1365.
19. H. Dong, V. Nyame, A. G. MacDiarmid, W. E. Jones Jr., J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 2004, 42, 3934.
20. S. Pagliara, A. Camposeo, R. Cingolani, D. Pisignano, Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 263301.
21. A. Camposeo, F. Di Benedetto, R. Stabile, R. Cingolani, D. Pisignano, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 143115.
22. A. Camposeo, F. Di Benedetto, R. Stabile, A. A. R. Neves, R. Cingolani, D. Pisignano, Small 2009, 5, 562.
23. F. Di Benedetto, A. Camposeo, S. Pagliara, E. Mele, L. Persano, R. Stabile, R. Cingolani, D. Pisignano, Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 614.
24. S. M. Sze, K. K. Ng, in Physics of Semiconductor Devices, 3rd Edition (Eds., S. M. Sze, K. K. Ng,), Wiley-Interscience, Hoboken, NJ 2006, Ch. 6.
25. IEEE Std 1620-2008, IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials,.
26. A. Hoppe, T. Balster, T. Muck, V. Wagner, Phys. Status Solidi A 2008, 205, 612.
27. S. Luan, G. W. Neudeck, J. Appl. Phys. 1992, 72, 766.
28. Q. J. Cai, M. B. Chan-Park, Q. Zhou, Z. S. Lu, C. M. Li, B. S. Ong, Org. Electron. 2008, 9, 936.
29. L. Bürgi, T. J. Richards, R. H. Friend, H. Sirringhaus, J. Appl. Phys. 2003, 94, 6129.
30. S. Steudel, K. Myny, V. Arkhipov, C. Deibel, S. De Vusser, J. Genoe, P. Heremans, Nat. Mater. 2005, 4, 597.
31. H. Liu, C. H. Reccius, H. G. Craighead, Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 253106