Electronic structure of the amorphous oxide semiconductor a-lnGaZnO 4-x: Tauc-Lorentz optical model and origins of subgap states

Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

Volumn 206, Issue 5, 2009, Pages 860-867

  Kamiya, Toshio ^a   Nomura, Kenji ^b   Hosono, Hideo ^a,b  

^a Tokyo Institute of Technology ^*  (Japan)

^b JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMORPHOUS OXIDE SEMICONDUCTORS; ATOMIC CONFIGURATION; FORMATION ENERGIES; GENERALIZED GRADIENT APPROXIMATIONS; LARGE DISPERSION; LINEAR DEPENDENCE; LOCALIZED STATE; LORENTZ; OPTICAL ABSORPTION SPECTRUM; OPTICAL MODELS; OPTIMIZED PARAMETER; OXYGEN DEFICIENCY; OXYGEN DEFICIENT; PARAMETERIZED; PHOTON ENERGY; ROOT-MEAN SQUARE ERRORS; SHALLOW DONORS; TAUC-LORENTZ MODELS; TRANSITION ENERGY; UNIT-CELL VOLUME;

CRYSTALLINE MATERIALS; ELECTRIC CIRCUIT BREAKERS; ELECTRON MOBILITY; ELECTRONIC PROPERTIES; ELECTRONIC STRUCTURE; LIGHT ABSORPTION; THERMOLUMINESCENCE;

OXYGEN;

EID: 65649106511     PISSN: 18626300     EISSN: 18626319     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.200881303     Document Type: Article

References (39)

1. M. Ito, M. Kon, N. Ikeda, M. Ishizaki, Y. Ugajin, and N. Sekine, IEICE Trans. Electron. 90, 2105 (2007).
2. H. N. Lee, J. W. Kyung, S. K. Kang, D. Y. Kim, M. C. Sung, S. J. Kim, C. N. Kim, H. G. Kim, and S. T. Kim, Proc. IDW'06, 663 (2006).
3. J. Y. Kwon, J. S. Jung, K. S. Son, T. S. Kim, M. K. Ryu, K. B. Park, Y. S. Park, S. Y. Lee, and J. M. Kim, Digest of Technical Papers of AM-FPD08, 7-11 (2008).
4. K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature 432, 488 (2004).
5. H. Yabuta, M. Sano, K. Abe, T. Aiba, T. Den, H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett. 89, 112123 (2006).
6. R. Hayashi, M. Ofuji, N. Kaji, K. Abe, H. Yabuta, M. Sano, H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, J. SID 15(11), 915 (2007).
7. T. Riedl, P. Görrn, P. Hölzer, and W. Kowalsky, Phys. Status Solidi RRL 1, 175 (2007).
8. M.-C. Sung, H.-N. Lee, C. N. Kim, S. K. Kang, D. Y. Kim, S.-J. Kim, S. K. Kim, S.-K. Kim, H.-G. Kim, and S.-T. Kim, Proc. Int. Meeting on Information Display '07, 9-11 (2007).
9. J. K. Jeong, J. H. Jeong, J. H. Choi, J. S. Im, S. H. Kim, H. W. Yang, K. N. Kang, K. S. Kim, T. K. Ahn, H.-J. Chung, M. Kim, B. S. Gu, J.-S. Park, Y.-G. Mo, H. D. Kim, and H. K. Chung, SID 08 Digest, 3.1 (2008).
10. J. H. Lee, D.-H. Kim, D.-J. Yang, S.-Y. Hong, K.-S. Yoon, P.-S. Hong, C-O. Jeong, H.-S. Park, S. Y. Kim, S. K. Lim, and S. S. Kim, SID 08 Digest, 42.2 (2008).
11. H.-H. Hsieh, T. Kamiya, K. Nomura, H. Hosono, and C-C. Wu, Appl. Phys. Lett. 92, 133503 (2008).
12. M. Kimura, T. Nakanishi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett. 92, 133512 (2008).
13. K. Nomura, T. Kamiya, H. Yanagi, E. Ikenaga, K. Yang, K. Kobayashi, M. Hirano, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett. 92, 202117 (2008).
14. K. Nomura, T. Kamiya, H. Ohta, T. Uruga, M. Hirano, and H. Hosono, Phys. Rev. B 75, 035212 (2007).
15. T. Kamiya, K. Nomura, M. Hirano, and H. Hosono, Phys. Status Solidi C 5, 3098 (2008).
16. A. Takagi, K. Nomura, H. Ohta, H. Yanagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Thin Solid Films 486, 38 (2005).
17. H. Ohta, K. Nomura, M. Orita, M. Hirano, K. Ueda, T. Suzuki, Y. Ikuhara, and H. Hosono, Adv. Funct. Mater. 13, 139 (2003).
18. K. Nomura, H. Ohta, T. Suzuki, C. Honjyo, K. Ueda, T. Kamiya, M. Orita, Y. Ikuhara, M. Hirano, and H. Hosono, J. Appl. Phys. 95, 5532 (2004).
19. A. R. Forouhiand and I. Bloomer, Phys. Rev. B 38, 1865 (1988).
20. G. E. Jellison, Jr. and F. A. Modine, Appl. Phys. Lett. 69, 371 (1996); Erratum: Appl. Phys. Lett. 69, 371 (1996).
21. A. S. Ferlauto, G. M. Ferreira, J. M. Pearce, C. R. Wronski, R. W. Collins, X. Deng, and G. Ganguly, J. Appl. Phys. 92, 2424 (2002).
22. L. Jiao, I. Chen, R. W. Collins, C. R. Wronski, and N. Hata, Appl. Phys. Lett. 72, 1057 (1998).
23. S. K. O'Leary, S. R. Johnson, and P. K. Lim, J. Appl. Phys. 82, 3334 (1997).
24. S. K. O'Leary, J. Appl. Phys. 96, 3880 (2004).
25. G. Kresse and J. Furthmüller, Phys. Rev. B 54, 11169 (1996).
26. P. E. Blöchl, Phys. Rev. B 50, 17953 (1994).
27. G. Kresse and D. Joubert, Phys. Rev. B 59, 1758 (1999).
28. M. Orita, H. Tanji, M. Mizuno, H. Adachi, and I. Tanaka, Phys. Rev. B 61, 1811 (2000).
29. J. E. Medvedeva, Europhys. Lett. 78, 57004 (2007).
30. B. Montanari and N. M. Harrison, Chem. Phys. Lett. 364, 528 (2002).
31. http://www.kagaku.com/malt/
32. H. Yokokawa, S. Yamauchi, and T. Matsumoto, Calphad 26, 155 (2002).
33. http://www.fiz-informationsdienste.de/en/DB/icsd/ index.html
34. K. Nomura, A. Takagi, T. Kamiya, H. Ohta, M. Hirano, and H. Hosono, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 4303 (2006).
35. A. F. Kohan, G. Ceder, D. Morgan, and C. G. Van de Walle, Phys. Rev. B 61, 15019 (2000).
36. P. Erhart, A. Klein, and K. Albe, Phys. Rev. B 72, 085213 (2005).
37. A. Janotti and C. G. Van de Walle, Phys. Rev. B 76, 165202 (2007).
38. A. S. Foster, F. L. Gejo, A. L. Shluger, and R. M. Nieminen, Phys. Rev. B 65, 174117 (2002).
39. K. Takechi, M. Nakata, T. Eguchi, H. Yamaguchi, and S. Kaneko, Ext. Abst. of the 69th Autumn Meeting of Jpn. Soc. Appl. Phys., 4p-N-9 (4 September 2008).