-
1
-
-
0009363115
-
-
ALLEN, T. E., KUNZ, R. R., and MAYER, T. M., 1988, J. vac. Sci. Technol. B, 6, 2057.
-
(1988)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.6
, pp. 2057
-
-
Allen, T.E.1
Kunz, R.R.2
Mayer, T.M.3
-
2
-
-
36449000800
-
-
FOLCH, A., TEJADA, J., PETERS, C. H., and WRIGHTON, M. S., 1995, Appl. Phys. Lett., 66, 2080.
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.66
, pp. 2080
-
-
Folch, A.1
Tejada, J.2
Peters, C.H.3
Wrighton, M.S.4
-
3
-
-
0000094364
-
-
HOYLE, P. C., CLEAVER, J. R. A., and AHMED, H., 1996, J. vac. Sci. Technol. B, 14, 662.
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.14
, pp. 662
-
-
Hoyle, P.C.1
Cleaver, J.R.A.2
Ahmed, H.3
-
4
-
-
0026896972
-
-
HUBNER, B., KOOPS, H. W. P., PAGNIA, H., SOTNIK, N., URBAN, J., and WEBER, M., 1992, Ultramicroscopy, 42, 1519.
-
(1992)
Ultramicroscopy
, vol.42
, pp. 1519
-
-
Hubner, B.1
Koops, H.W.P.2
Pagnia, H.3
Sotnik, N.4
Urban, J.5
Weber, M.6
-
5
-
-
0030111011
-
-
KISLOV, N. A., KHODOS, I. I., IVANOV, E. D., and BARTHEL, J., 1996, Scanning, 18, 114.
-
(1996)
Scanning
, vol.18
, pp. 114
-
-
Kislov, N.A.1
Khodos, I.I.2
Ivanov, E.D.3
Barthel, J.4
-
6
-
-
0000611089
-
-
KOOPS, H. W. P., KAYA, A., and WEBER, M., 1995, J. vac. Sci. Technol. B, 13, 2400.
-
(1995)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.13
, pp. 2400
-
-
Koops, H.W.P.1
Kaya, A.2
Weber, M.3
-
7
-
-
0030289164
-
-
KOOPS, H. W. P., SCHOSSLER, C., KAYA, A., and WEBER, M., 1996, J. vac. Sci. Technol. B, 14, 4105.
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.14
, pp. 4105
-
-
Koops, H.W.P.1
Schossler, C.2
Kaya, A.3
Weber, M.4
-
8
-
-
0007042417
-
-
MATSUI, S., and ICHIHASHI, T., 1988, Appl. Phys. Lett., 53, 842.
-
(1988)
Appl. Phys. Lett.
, vol.53
, pp. 842
-
-
Matsui, S.1
Ichihashi, T.2
-
9
-
-
0141920551
-
-
MITSUISHI, K., SHIMOJO, M., HAN, M., and FURUYA, K., 2003, Appl. Phys., Lett., 83, 2064.
-
(2003)
Appl. Phys., Lett.
, vol.83
, pp. 2064
-
-
Mitsuishi, K.1
Shimojo, M.2
Han, M.3
Furuya, K.4
-
10
-
-
0037643522
-
-
SILVIS-CIVIDJIAN, N., HAGEN, C.W., KRUIT, P., VAN DER STAM, M. A. J., and GROEN, H. B., 2003, Appl. Phys. Lett., 82, 3514.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 3514
-
-
Silvis-Cividjian, N.1
Hagen, C.W.2
Kruit, P.3
Van der Stam, M.A.J.4
Groen, H.B.5
-
11
-
-
0034206448
-
-
UTKE, I., DWIR, B., LEIFER, K., CICOIRA, F., DOPPELT, P., HOFFMANN, P., and KAPON, E., 2000a, Microelectron. Engng, 53, 261.
-
(2000)
Microelectron. Engng
, vol.53
, pp. 261
-
-
Utke, I.1
Dwir, B.2
Leifer, K.3
Cicoira, F.4
Doppelt, P.5
Hoffmann, P.6
Kapon, E.7
-
12
-
-
79956056203
-
-
UTKE, I., HOFFMANN, P., BERGER, R., and SCANDELLA, L., 2002a, Appl. Phys. Lett., 80, 4792.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 4792
-
-
Utke, I.1
Hoffmann, P.2
Berger, R.3
Scandella, L.4
-
13
-
-
0034317713
-
-
UTKE, I., HOFFMANN, P., DWIR, B., LEIFER, K., KAPON, E., and DOPPELT, P., 2000b, J. vac. Sci. Technol. B, 18, 3168.
-
(2000)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.18
, pp. 3168
-
-
Utke, I.1
Hoffmann, P.2
Dwir, B.3
Leifer, K.4
Kapon, E.5
Doppelt, P.6
-
14
-
-
79956037527
-
-
UTKE, I., LUISIER, A., HOFFMANN, P., LAUB, D., and BUFFAT, P. A., 2002b, Appl. Phys. Lett., 81, 3245.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 3245
-
-
Utke, I.1
Luisier, A.2
Hoffmann, P.3
Laub, D.4
Buffat, P.A.5
-
15
-
-
0030104677
-
-
XU, M. D., and ZAERA, F., 1996, J. vac. Sci. Technol. B, 14, 415.
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.14
, pp. 415
-
-
Xu, M.D.1
Zaera, F.2
|