Characterization of defects in silicon carbide by Raman spectroscopy

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 245, Issue 7, 2008, Pages 1356-1368

  Hundhausen, M ^a   Pusche R ^a   Rohrl J ^a   Ley, L ^a  

^a UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 55449116731     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.200844052     Document Type: Review

References (32)

1. W. E. Nelson, F. A. Halden, and A. Rosengreen, J. Appl. Phys. 37, 333 (1966).
2. D. K. Ferry, Phys. Rev. B 12, 2361 (1975).
3. Y. Okui, C. Jacob, S. Oshima, and S. Nishino, Mater. Sci. Forum 389-393, 331 (2002).
4. A. Bakin, I. Behrens, A. Ivanov, E. Peiner, D. Piester, H.-H. Wehmann, and A. Schlachetzki, Mater. Sci. Forum 389-393, 327 (2002).
5. H. Nagasawa, T. Kawahara, and K. Yagi, Mater. Sci. Forum 389-393, 319 (2002).
6. H. Nagasawa, K. Yagi, T. Kawahara, and N. Hatta, Mater. Sci. Forum 433-436, 3 (2003).
7. N. Hatta, K. Yagi, T. Kawahara, and H. Nagasawa, Mater. Sci. Forum 433-436, 273 (2003).
8. K. Semmelroth, M. Krieger, G. Pensl, H. Nagasawa, R. Püsche, M. Hundhausen, L. Ley, M. Nerding, and H. P. Strunk, Mater. Sci. Forum 457-460, 151 (2004).
9. D. W. Feldmann, J. H. Parker, W. J. Choyke, and L. Patrick, Phys. Rev. 173, 787 (1968).
10. P. Käckell, J. Furthmüller, and F. Bechstedt, Phys. Rev. B 58, 1326 (1998).
11. G. A. Bootsma, W. F. Kippenberg, and G. Verspui, J. Cryst. Growth 8, 341 (1971).
12. W. S. Yoo and H. Matsunami, Jpn. J. Appl. Phys. 30, 545 (1991).
13. K. Semmelroth, F. Schmid, D. Karg, G. Pensl, M. Maier, S. Greulich-Weber, and J.-M. Spaeth, Mater. Sci. Forum 433-436, 63 (2003).
14. J. Colwell and M. V. Klein, Phys. Rev. B 6, 498 (1972).
15. S. Nakashima and H. Harima, phys. stat. sol. (a) 162, 39 (1997).
16. T. L. Straubinger, P. J. Wellmann, and A. Winnacker, Mater. Sci. Forum 353-356, 33 (2001).
17. See also the contribution by Wellmann et. al in this volume.
18. H. Heissenstein, C. Peppermueller, and R. Helbig, J. Appl. Phys. 83, 7542 (1998).
19. G. Contreras, A. K. Sood, and M. Cardona, Phys. Rev. B 32, 924 (1985).
20. S. Greulich-Weber, phys. stat. sol. (b) 210, 415 (1998).
21. Th. Seyller, K. V. Emtsev, F. Speck, K.-Y. Gao, and L. Ley, Mater. Sci. Forum 556/557, 701 (2007).
22. See also the contribution by Th. Seyller et al. in this issue, phys stat. sol. (b) DOI 10.1002/pssb.200844143.
23. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004).
24. C. Berger, Z. M. Song, X. B. Li, X. S. Wu, N. Brown, C. Naud, D. Mayou, T. B. Li, J. Hass, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First, and W. A. de Heer, Science 312, 1191 (2006).
25. D. Graf, F. Molitor, K. Ensslin, C. Stampfer, A. Jungen, C. Hierold, and L. Wirtz, Nano Lett. 7, 238 (2007).
26. K. V. Emtsev, Th. Seyller, F. Speck, L. Ley, P. Stojanov, J. D. Riley, and R. G. C. Leckey, Mater. Sci. Forum 556/557, 525 (2007).
27. M. Mohr, J. Maultzsch, E. Dobardzic, S. Reich, I. Miloševic, M. Damnjanovic, A. Bosak, M. Krisch, and C. Thomsen, Phys. Rev. B 76, 035439 (2007).
28. T. Ohta, A. Bostwick, J. L. McChesney, Th. Seyller, K. Horn, and E. Rotenberg, Phys. Rev. Lett. 98, 206802 (2007).
29. A. Das, S. Pisana, S. Piscanec, B. Chakraborty, S. K. Saha, U. V. Waghmare, R. Yiang, H. R. Krishnamurhthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, cond-mat.mtrl-sci (2007), arXiv:07091174vl.
30. H. P. Liaw and R. F. Davis, J. Electrochem. Soc. 131, 3014 (1984).
31. D. K. L. Tsang, B. J. Marsden, S. L. Fok, and G. Hall, Carbon 43, 2902 (2005).
32. M. Hanfland, H. Beister, and K. Syassen, Phys. Rev. B 39, 12598 (1989).