Electrical conductance of conjugated oligomers at the single molecule level

Journal of the American Chemical Society

Volumn 130, Issue 3, 2008, Pages 1080-1084

  Huber, Roman ^a   González, Maria Teresa ^a   Wu, Songmei ^a   Langer, Michael ^a   Grunder, Sergio ^a   Horhoiu, Viviana ^a   Mayor, Marcel ^a,b   Bryce, Martin R ^c   Wang, Changsheng ^c   Jitchati, Rukkiat ^c   Schönenberger, Christian ^a   Calame, Michel ^a  

^a UNIVERSITY OF BASEL   (Switzerland)

^b KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

^c DURHAM UNIVERSITY   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRICAL CONDUCTANCE; PHENYLENE OLIGOMERS;

ELECTRIC CONDUCTANCE; MOLECULAR STRUCTURE; SULFUR;

OLIGOMERS;

OLIGO(PHENYLENEETHYNYLENE); OLIGO(PHENYLENEVINYLENE); OLIGOMER; UNCLASSIFIED DRUG; VINYL DERIVATIVE;

ARTICLE; CONDUCTANCE; ELECTRIC CONDUCTIVITY; MEASUREMENT; MOLECULE; QUANTITATIVE ANALYSIS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 38349159017     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja0767940     Document Type: Article

References (42)

1. Li, X.; He, J.; Hihath, J.; Xu, B.; Lindsay, S. M.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2135.
2. Chen, F.; Li, X.; Hihath, J.; Huang, Z.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc 2006, 128, 15874.
3. Li, Z.; Pobelov, I.; Han, B.; Wandlowski, T.; Blaszczyk, A.; Mayor, M. Nanotechnology 2007, 18, 044018.
4. González, M. T.; Wu, S.; Huber, R.; van der Molen, S. J.; Schönenberger, C.; Calame, M. Nano Lett. 2006, 6, 2238.
5. Suzuki, M.; Fujii, S.; Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 2041.
6. Fujihira, M.; Suzuki, M.; Fujii, S.; Nishikawa, A. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 3876.
7. Jang, S.-Y.; Reddy, P.; Majumdar, A.; Segalman, R. A. Nano Lett. 2006, 6, 2362.
8. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705.
9. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
10. Kergueris, C.; Bourgoin, J.-P.; Palacin, S.; Fsteve, D.; Urbina, C.; Magoga, M.; Joachim, C. Phys. Rev. B 1999, 59, 12505.
11. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Torfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571.
12. Weber, H. B.; Reichert, J.; Weigend, F.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Mayor, M.; Ahlrichs, R.; Löhneysen, H. Chem. Phys. 2002, 281, 113.
13. Mantooth, B. A.; Weiss, P. S. Proc. IEEE 2003, 91, 1785.
14. Chen, J.; Wang, W.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1224.
15. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Yang, J. C.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidhar, R. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 086802.
16. Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Chem. Phys. 2002, 281, 373.
17. Metzger, R. M. J. Solid State Chem. 2002, 168, 696.
18. Li, C.; Zhang, D.; Liu, X.; Han, S.; Tang, T.; Zhou, C.; Fan, W.; Koehne, J.; Jie Han.; Meyyappan, M.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 645.
19. Chen, Y.; Jung, G.-Y.; Ohlberg, D. A. A.; Li X.; Stewart, D. R.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F.; Williams, R. S. Nanotechnology 2003, 14, 462.
20. Rawlett, A. M.; Hopson, T. J.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. K.; Ramachandran, G. K.; Lindsay, S. M. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3043.
21. Blum, A. S.; Yang, J. C.; Shashidhar, R.; Ratna, B. Appl. Phys. Lett. 2003, 82 (19), 3322.
22. Seferos, D. S.; Blum, A. S.; Kushmerick, J. G.; Bazan, G. C. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 11260.
23. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Pollack, S. K.; Rattner, M. A.; Yang, J. C.; Schull, T. L.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidhar, R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10654.
24. Seferos, D. S.; Trammell, S. A.; Bazan, G. C.; Kushmerick, J. G. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 8821.
25. Cai, L. T.; Skulason, H.; Kushmerick, J. G.; Pollack, S. K.; Naciri, J.; Shashidhar, R.; Allara, D. L.; Mallouk, T. E.; Mayer, T. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 2827.
26. Hassenkam, T.; Moth-Poulsen, K.; Stuhr-Hansen, N.; Nørgaard, K.; Kabir, M. S.; Bjørnholm, T. Nano Lett. 2004, 4 (1), 19.
27. Liao, J.; Bernard, L.; Langer, M.; Schönenberger, C.; Calame, M. Adv. Mater. 2006, 18, 2444.
28. Reichert, J.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Weber, H. B.; Mayor, M.; v. Löhneysen, H. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 176804.
29. Mayor, M.; Weber, H. B.; Reichert, J.; Eling, B.; v. Hänisch, C; Beckmann, D.; Fischer, M.; Reichert, J.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Weber, H. B.; Mayor, M.; v. Löhneysen, H. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 5834.
30. Xiao, X.; Nagahara, L. A.; Rawlett, A. M.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 9235.
31. Grüter, L.; González, M. T.; Huber, R.; Calame, M.; Schönenberger, C. Small 2005, 1, 1067.
32. Haiss, W.; Wang, C.; Grace, I.; Batsanov, A. S.; Schiffrin, D. J.; Higgins, S. J.; Bryce, M. R.; Lambert, C. J.; Nichols, R. J. Nat. Mater. 2006, 5, 995.
33. Vrouwe, S. A. G.; van der Giessen, E.; van der Molen, S. J.; Dulic, D.; Trouwborst, M. L.; van Wees, B. J. Phys. Rev. B 2005, 71, 035313.
34. Note, that the current-voltage characteristic is linear in this low-voltage regime.
35. Scheer, E.; Agrait, N.; Cuevas, J. C.; Yeyati, A. L.; Ludoph, B.; Martin-Roderos, A.; Bollinger, G. R.; van Ruitenbeek, J. M.; Urbina, C. Nature 1998, 394, 154.
36. Agrait, N.; Levy-Yeyati, A.; van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rep. 2003, 377, 81.
37. Costa-Kramer, J. L.; Garcia, N.; Olin, H. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 4990.
38. Yasuda, H.; Sakai, A. Phys. Rev. B 1997, 56, 1069.
39. Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nature 2006, 442, 904.
40. Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221.
41. Tomfohr, J.; Sankey, O. F. J. Chem. Phys. 2004, 120, 1542.
42. Paulsson, M.; Frederiksen, T.; Brandbyge, M. Nano Lett. 2006, 6, 258.