Electrical conductance of molecular junctions by a robust statistical analysis

Nano Letters

Volumn 6, Issue 10, 2006, Pages 2238-2242

  Teresa Gonzalez M ^a   Wu, Songmei ^a   Huber, Roman ^a   Van Der Molen, Sense J ^a   Schönenberger, Christian ^a   Calame, Michel ^a  

^a UNIVERSITY OF BASEL   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRIC CONDUCTANCE; ELECTRODES; STATISTICAL METHODS;

METAL ELECTRODES; MOLECULAR JUNCTIONS; ROBUST STATISTICAL ANALYSIS; SINGLE MOLECULE CONDUCTANCE;

MOLECULAR DYNAMICS;

ARTICLE; CHEMICAL MODEL; CHEMICAL STRUCTURE; CHEMISTRY; COMPUTER SIMULATION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMISTRY; EVALUATION; GENETIC PROCEDURES; METHODOLOGY; MICROELECTRODE; STATISTICAL MODEL;

COMPUTER SIMULATION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMISTRY; MICROCHEMISTRY; MICROELECTRODES; MODELS, CHEMICAL; MODELS, MOLECULAR; MODELS, STATISTICAL; MOLECULAR PROBE TECHNIQUES;

EID: 33750532944     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl061581e     Document Type: Article

References (28)

1. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571-574.
2. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W., Jr.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307.
3. Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221-1223.
4. Agraït, N.; Yeyati, A. L.; van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rep. 2003, 377, 81-279.
5. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254.
6. Smit, R. H. M.; Noat, Y.; Untiedt, C.; Lang, N. D.; van Hemert, M. C.; van Ruitenbeek, J. M. Nature 2002, 419, 906-909.
7. Reichert, J.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Weber, H. B.; Mayor, M.; v. Löhneysen, H. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 176804.
8. Salomon, A.; Cahen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881-1890.
9. McCreery, R. L. Chem. Mater. 2004, 16, 4477-4496.
10. Park, J.; Pasupathy, A. N.; Goldsmith, J. I.; Chang, C.; Yaish, Y.; Petta, J. R.; Rinkoski, M.; Sethna, J. P.; Abruña, H. D.; McEuen, P. L.; Ralph, D. C. Nature 2002, 417, 722-725.
11. Kubatkin, S.; Danilov, A.; Hjort, M.; Cornil, J.; Brédas, J.-L.; Stuhr-Hansen, N.; Hedegård, P.; Bjørnholm, T. Nature 2003, 425, 698-701.
12. Champagne, A. R.; Pasupathy, A. N.; Ralph, D. C. Nano Lett. 2005, 5, 305-308.
13. Xu, B.; Xiao, X.; Yang, X.; Zang, L.; Tao. N. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2386-2387.
14. Krans, J. M.; Muller, C.; Yanson, I. K.; Govaert, T. C. M.; Hesper, R., van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rev. B 1993, 48, 14721-14724.
15. Krans, J. M.; van Ruitenbeek, J. M.; Fisun, V. V.; Yanson, I. K.; de Jongh, L. J. Nature 1995, 375, 767-769.
16. Xiao, X.; Xu, B.; Tao, N. J. Nano Lett. 2004, 4, 267-271.
17. Li, X.; He, J.; Hihath, J.; Xu, B.; Lindsay, S. M.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2135-2141.
18. Haiss, W.; Nichols, R. J.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6. 4330-4337.
19. Suzuki, M.; Fujii, S.; Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 2041-2044.
20. Pobelov, I.; Li, Z.; Wandlowski, T. To be published.
21. Ulrich, J.; Esrail, D.; Pontius, W.; Venkataraman, L.; Millar, D.; Doerrer, L. H. J. Phys. Chem. B 2006. 110, 2462-2466.
22. Moreland, J.; Ekin, J. W. J. Appl. Phys. 1985, 58, 3888-3895.
23. van Ruitenbeek, J. M.; Alvarez, A.; Piñeyro, I.; Grahmann, C.; Joyez, P.; Devoret, M. H.; Esteve, D.; Urbina, C. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 108-111.
24. Grüter, L.; González, M. T.; Huber, R.; Calame, M.; Schönenberger, C. Small 2005, 1, 1067-1070.
25. Vrouwe, S. A. G.; van der Giessen, E.; van der Molen, S. J.; Dulic, D.; Trouwborst, M. L.; van Wees, B. J. Phys. Rev. B 2005, 71, 035313.
26. Weber, H. B.; Reichert, J.; Weigend, F.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Mayor, M.; Airichs, R.; v. Löhneysen, H. Chem. Phys. 2002, 281, 113-125.
27. Xiao, X.; Nagahara, L. A.; Rawlett, A. M.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 9235-9240.
28. Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Tarn, I. W.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwaid, M. L. Nano Lett. 2006, 6, 458-462.