Thermal oxidation of 6 nm aerosolized silicon nanoparticles: Size and surface chemistry changes

Langmuir

Volumn 23, Issue 22, 2007, Pages 11217-11224

  Holm, Jason ^a   Roberts, Jeffrey T ^a  

^a UNIVERSITY OF MINNESOTA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARRIER GAS OXYGEN CONTENT; TANDEM DIFFERENTIAL MOBILITY ANALYSIS;

AEROSOLS; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; MOLECULAR OXYGEN; SILICON; SURFACE CHEMISTRY; THERMOOXIDATION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

NANOPARTICLES;

EID: 35948930609     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la7010869     Document Type: Article

References (45)

1. (a) Deal, B. E.; Grove, A. S. J. Appl. Phys. 1965, 36, 3770.
2. 2 Interface; Helms, C. R., Deal, B. E., Eds.; Plenum: New York, 1988.
3. 2 and its Interfaces; Pantelides, S. T., Ed.; Pergamon: New York, 1978.
4. Chabal, Y. J.; Weldon, M. K.; Queeney, K. T.; Esteve, A. In Fundamental Aspects of Silicon Oxidation; Chabal, Y. J., Ed.; Springer-Verlag: New York, 2001; pp 143-160.
5. Ding, Y.; Dong, Y.; Bapat, A.; Deneen, J.; Carter, C. B.; Kortshagen, U. R.; Campbell, S. A. Proc. SPIE - Int. Soc. Opt. Eng. 2005, 6002, 60020I/1-60020I/7.
6. Hua, F.; Erogbogbo, F.; Swihart, M. T.; Ruckenstein, E. Langmuir 2006, 22, 4363.
7. Pi, X. D.; Mangolini, L.; Campbell, S. A.; Kortshagen, U. Phys. Rev. B 2007, 75, 085243.
8. Nayfeh, M. H.; Rogozhina, E. V.; Mitas, L. In Synthesis, Functionalization and Surface Treatment of Nanoparticles; Baraton, M. I., Ed.; American Scientific: Stevenson Ranch, CA, 2003.
9. Roca i Cabarrocas, P.; Chaabane, N.; Kharchenko, A. V.; Tchakarov, S. Plasma Phys. Controlled Fusion 2004, 46, B235.
10. Heitmann, J.; Mueller, F.; Zacharias, M.; Goesele, U. Adv. Mater. 2005, 17, 795.
11. Liu, H. I.; Biegelson, D. K.; Ponce, F. A.; Johnson, N. M.; Pease, R. F. W. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1383.
12. Ostraat, M. L.; Brongersma, M.; Atwater, H. A.; Flagan, R. C. Solid State Sci. 2005, 7, 882.
13. (a) Brongersma, M. L.; Polman, A.; Min, K. S.; Boer, E.; Tambo, T.; Atwater, H. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2577-2579.
14. (b) Shimura, T.; Yasutake, K.; Umeno, M.; Nagase, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 071903.
15. Jurbergs, D.; Rogojina, E.; Mangolini, L.; Kortshagen, U. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 233116/1.
16. Mangolini, L.; Thimsen, E.; Kortshagen, U. Nano Lett. 2005, 5, 655.
17. Liao, Y. C.; Nienow, A. M.; Roberts, J. T. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 6190.
18. Rader, D. J.; McMurry, P. H. J. Aerosol Sci. 1986, 17, 771.
19. Hinds, W. C. Aerosol Technology, 2nd ed.; John Wiley and Sons: New York, 1999.
20. McMurry, P. H. Atmos. Environ. 2000, 34, 1959.
21. Chen, D. R.; Pui, D. Y. H. J. Nanopart. Res. 1999, 1, 115.
22. Nienow, A. N.; Roberts, J. T.; Zachariah, M. R. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 5561.
23. Higgins, K. J.; Jung, H.; Kittelson, D. B.; Roberts, J. T.; Zachariah, M. R. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 96.
24. Holm, J.; Roberts, J. T. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 2496.
25. Marra Denise, C.; Edelberg Erik, A.; Naone Ryan, L.; Aydil Eray, S. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 3199.
26. (a) Jackson, W. B.; Nickel, N. H.; Johnson, N. M.; Pardo, F.; Santos, P. V. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1994, 336, 311.
27. (b) Rivolo, P.; Geobaldo, F.; Rocchia, M.; Amato, G.; Rossi, A. M.; Garrone, E. Phys. Status Solidi A 2003, 197, 217.
28. (c) John, P.; Odeh, M.; Thomas, M. J. K.; Tricker, M. J.; McGill, J.; Wallace, A.; Wilson, J. I. B. J. Non-Cryst. Solids 1980, 237, 35-36.
29. Das, D.; Farjas, J.; Roura, P.; Viera, G.; Bertran, E. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 3705.
30. Pai, P. G.; Chao, S. S.; Tagaki, Y.; Lucovsky, G. J. Vac. Sci. Technol., A 1986, 4, 689.
31. Stefanov, B. B.; Gurevich, A. B.; Weldon, M. K.; Raghavachari, K.; Chabal, Y. J. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 3908.
32. Lambers, J.; Hess, P. J. Appl. Phys. 2003, 94, 2937.
33. Weldon, M. K.; Queeney, K. T.; Chabal, Y. J.; Stefanov, B. B.; Raghavachari, K. J. Vac. Sci. Technol., B 1999, 17, 1795.
34. Queeney, K. T.; Chabal, Y. J.; Weldon, M. K.; Raghavachari, K. Phys. Status Solidi 1999, 175, 77.
35. Queeney, K. T.; Weldon, M. K.; Chang, J. P.; Chabal, Y. J.; Gurevich, A. B.; Sapjeta, J.; Opila, R. L. J. Appl. Phys. 2000, 87, 1322.
36. Gupta, P.; Dillon, A. C.; Bracker, A. S.; George, S. M. Surf. Sci. 1991, 245, 360.
37. Petrova, E. A.; Bogoslovskaya, L. A.; Balagurov, L. A.; Kochoradze, G. I. Mater. Sci. Eng. 2000, 152, B69-70.
38. Walkup, R. E.; Raider, S. I. Appl. Phys. Lett. 1988, 53, 888.
39. Liu, H. I.; Biegelsen, D. K.; Johnson, N. M.; Ponce, F. A.; Pease, R. F. J. Vac. Sci. Technol., B 1993, 11, 2532.
40. Niwano, M. Surf. Sci. 1999, 199, 427-428.
41. Marcus; Sheng; Solid-State Sci. Technol. 1982, 129, 1278.
42. (a) Kao, D. B.; McVittie, J. P.; Nix, W. D.; Saraswat, K. C. IEEE Trans. Electron Devices 1988, ED-35, 25.
43. (b) Scheer, K. C.; Rao, R. A.; Muralidhar, R.; Bagchi, S.; Conner, J.; Lozano, L.; Perez, C.; Sadd, M.; White, B. E., Jr. J. Appl. Phys. 2003, 93, 5637.
44. (c) Coffin, H. J. Appl. Phys. 2006, 99, 044302.
45. Tersoff, J.; Tu, Y.; Grinstein, G. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2328.