Recombination dynamics of excitons in Mg0.11 Zn0.89 O alloy films grown using the high-temperature-annealed self-buffer layer by laser-assisted molecular-beam epitaxy

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 14, 2007, Pages

  Kubota, Masashi ^f   Onuma, Takeyoshi ^c   Tsukazaki, Atsushi ^a   Ohtomo, Akira ^a   Kawasaki, Masashi ^a   Sota, Takayuki ^b   Chichibu, Shigefusa F ^c,d,e  

^a TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

^b WASEDA UNIVERSITY   (Japan)

^c TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

^d UNIVERSITY OF TSUKUBA   (Japan)

^e JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

^f NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; ELECTRON EMISSION; EPILAYERS; LASER BEAM EFFECTS; MAGNESIA; MOLECULAR BEAM EPITAXY; ZINC OXIDE;

HIGH-TEMPERATURE ANNEALED SELF BUFFER LAYER (HITAB); NEAR BAND EDGE (NBE); RECOMBINATION DYNAMICS;

EXCITONS;

EID: 34047273017     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2719168     Document Type: Article

References (19)

1. For a review, see for example, Ü. Özgür, Y. I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov, S. Doǧan, V. Avrutin, S.-J. Cho, and H. Morko̧, J. Appl. Phys. 98, 041301 (2005).
2. K. Koike, I. Nakashima, K. Hashimoto, S. Sasa, M. Inoue, and M. Yano, Appl. Phys. Lett. 87, 112106 (2005).
3. H. D. Sun, T. Makino, Y. Segawa, M. Kawasaki, A. Ohtomo, K. Tamura, and H. Koinuma, J. Appl. Phys. 91, 1993 (2002).
4. D. G. Thomas, J. Phys. Chem. Solids 15, 86 (1960).
5. K. Minegishi, Y. Koiwai, Y. Kikuchi, K. Yano, M. Kasuga, and A. Shimizu, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 36, L1453 (1997).
6. M. Joseph, H. Tabata, and T. Kawai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 38, L1205 (1999).
7. D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, R. L. Jones, D. B. Eason, and G. Cantwell, Appl. Phys. Lett. 81, 1830 (2002).
8. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 1476-1122 10.1038/nmat1284 4, 42 (2005); A. Tsukazaki, M. Kubota, A. Ohtomo, T. Onuma, K. Ohtani, H. Ohno, S. F. Chichibu, and M. Kawasaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 44, L643 (2005).
9. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 1476-1122 10.1038/nmat1284 4, 42 (2005); A. Tsukazaki, M. Kubota, A. Ohtomo, T. Onuma, K. Ohtani, H. Ohno, S. F. Chichibu, and M. Kawasaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 44, L643 (2005).
10. A. Ohtomo, K. Tamura, K. Saikusa, K. Takahashi, T. Makino, Y. Segawa, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.125102 75, 2635 (1999); A. Ohtomo and A. Tsukazaki, Semicond. Sci. Technol. 20, S1 (2005).
11. A. Ohtomo, K. Tamura, K. Saikusa, K. Takahashi, T. Makino, Y. Segawa, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.125102 75, 2635 (1999); A. Ohtomo and A. Tsukazaki, Semicond. Sci. Technol. 20, S1 (2005).
12. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, S. Yoshida, M. Kawasaki, C. H. Chia, T. Makino, Y. Segawa, T. Koida, S. F. Chichibu, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 83, 2784 (2003).
13. S. F. Chichibu, A. Uedono, A. Tsukazaki, T. Onuma, M. Zamfirescu, A. Ohtomo, A. Kavokin, G. Cantwell, C. W. Litton, T. Sota, and M. Kawasaki, Semicond. Sci. Technol. 0268-1242 10.1088/0268-1242/20/4/009 20, S67 (2005); S. F. Chichibu, T. Onuma, M. Kubota, A. Uedono, T. Sota, A. Tsukazaki, A. Ohtomo, and M. Kawasaki, J. Appl. Phys. 99, 093505 (2006).
14. S. F. Chichibu, A. Uedono, A. Tsukazaki, T. Onuma, M. Zamfirescu, A. Ohtomo, A. Kavokin, G. Cantwell, C. W. Litton, T. Sota, and M. Kawasaki, Semicond. Sci. Technol. 0268-1242 10.1088/0268-1242/20/4/009 20, S67 (2005); S. F. Chichibu, T. Onuma, M. Kubota, A. Uedono, T. Sota, A. Tsukazaki, A. Ohtomo, and M. Kawasaki, J. Appl. Phys. 99, 093505 (2006).
15. A. Ohtomo, M. Kawasaki, T. Koida, K. Masubuchi, H. Koinuma, Y. Sakurai, Y. Yoshida, T. Yasuda, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 2466 (1998).
16. T. Koyama, T. Ohmori, N. Shibata, T. Onuma, and S. F. Chichibu, J. Vac. Sci. Technol. B 22, 2220 (2004).
17. T. C. Damen, S. P. S. Porto, and B. Tell, Phys. Rev. 142, 570 (1966).
18. J. Feldmann, G. Peter, E. O. Göbel, P. Dawson, K. Moore, C. Foxon, and R. J. Elliot, Phys. Rev. Lett. 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.59.2337 59, 2337 (1987);
19. H. Akiyama, S. Koshida, T. Someya, K. Wada, H. Noge, Y. Nakamura, T. Inoshita, A. Shimizu, and H. Sakai, Phys. Rev. Lett. 72, 924 (1994).