Frequency-modulated, single-molecule absorption detected by scanning tunneling microscopy

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 111, Issue 8, 2007, Pages 3314-3321

  Carmichael, Erin S ^a   Ballard, Joshua B ^a,c   Lyding, Joseph W ^a,b   Gruebele, Martin ^a,b  

^a UNIVERSITY OF ILLINOIS AT URBANA CHAMPAIGN   (United States)

^b University of Illinois at Urbana Champaign   (United States)

^c NOAA EARTH SYSTEM RESEARCH LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LASER POWER DENSITY; SURFACE CONSTANT; SURFACE HEATING;

ADSORPTION; CARBON NANOTUBES; FREQUENCY MODULATION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SILICON;

LIGHT ABSORPTION;

EID: 33947380633     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp067237n     Document Type: Article

References (30)

1. Ballard, J.; Carmichael, E.; Lyding, J.; Gruebele, M. Nano Lett. 2006, 6, 45.
2. Gerstner, V.; Knoll, A.; Pfeiffer, W.; Thon, A.; Gerber, G. J. Appl. Phys. 2000, 88, 4851.
3. Grafström, S. J. Appl. Phys. 2002, 91, 1717.
4. Grafstrom, S.; Schuller, P.; Kowalski, J. J. Appl. Phys. 1998, 83, 3453.
5. Avouris, P.; Appenzeiler, J.; Martel, R.; Wind, S. J. Proc. IEEE 2003, 91, 1772.
6. Demtröder, W. Laser Spectoscopy, 2nd ed.; Springer: Berlin, 1996.
7. Bachilo, S. M.; Strano, M. S.; Kittrell, C.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E.; Weisman, R. B. Science 2002, 298, 2361.
8. Li, Z. M.; Tang, Z. K.; Liu, H. J.; Wang, N.; Chan, C. T.; Saito, R.; Okada, S.; Li, G. D.; Chen, J. S.; Nagasawa, N.; Tsuda, S. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 127401.
9. Bragas, A. V.; Landi, S. M.; Martinez, O. E. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2075.
10. Ho, W. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13050.
11. Takeuchi, O.; Yoshida, S.; Shigekawa, H. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 3645.
12. Smith, D. A.; Owens, R. W. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3825.
13. Lyubinetsky, I.; Dohnalek, Z.; Ukraintsev, V. A.; Yates, J. T. J. Appl. Phys. 1997, 82, 4115.
14. Wu, S. W.; Ogawa, N.; Ho, W. Science 2006, 312, 1362.
15. Huang, L.; Krauss, T. Proc. 17th Ann. Meet. IEEE 2004, 1, 449.
16. O'Connell, M. J.; Bachilo, S. M.; Huffman, C. B.; Moore, V. C.; Strano, M. S.; Haroz, E. H.; Rialon, K. L.; Boul, P. J.; Noon, W. H.; Kittrell, C.; Ma, J. P.; Hauge, R. H.; Weisman, R. B.; Smalley, R. E. Science 2002, 297, 593.
17. Hartschuh, A.; Pedrosa, H. N.; Novotny, L.; Krauss, T. D. Science 2003, 301, 1354.
18. Lyding, J. W.; Shen, T.-C.; Hubacek, J. S.; Tucker, J. R.; Abeln, G. C. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 2010.
19. Nikolaev, P.; Bronikowski, M. J.; Bradley, R. K.; Rohmund, F.; Colbert, D. T.; Smith, K. A.; Smalley, R. E. Chem. Phys. Lett. 1999, 313, 91.
20. Albrecht, P. M.; Lyding, J. W. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 5029.
21. Lyding, J. Personal communication.
22. Tapastztó, L.; Mark, H. I.; Koós, A. A.; Lambin, P.; Biró, L. P. J. Phys. Condens. Matter 2006, 18, 5793.
23. Weisman, R. B.; Bachilo, S. M. Nano Lett. 2003, 3, 1235.
24. Hitosugi, T.; Hashizume, T.; Heike, S.; Kajiyama, H.; Wada, Y.; Watanabe, S.; Hasegawa, T.; Kitazawa, K. Appl. Surf. Sci. 1998, 130, 340.
25. Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. B. 1985, 31, 805.
26. Frauenheim, T.; Seifert, G.; Elstner, M.; Nienhaus, T.; Köhler, C.; Amkreutz, M.; Sternberg, M.; Hajnal, Z.; Carlo, A. D.; Suhai, S. J. Phys. Condens. Matter 2002, 14, 3015.
27. Zhao, Y.; Wang, X.; Ma, C.-C.; Chen, G. Chem. Phys. Lett. 2004, 387, 149.
28. Barone, V.; Peralta, J. E.; Wert, M.; Heyd, J.; Scuseria, G. E. Nano Lett. 2005, 5, 1621.
29. Sfeir, M. Y.; Wang, F.; Huang, L.; Chuang, C.-C.; Hone, J.; O'Brien, S. P.; Heinz, T. F.; Brus, L. E. Science 2004, 506, 1540.
30. Wang, F.; Ducovic, G.; Brus, L. E.; Heinz, T. Science 2005, 308, 838.