Enhanced ferroelectric loop asymmetry of lead zirconate titanate thin films under nanoindentation

Journal of Applied Physics

Volumn 101, Issue 2, 2007, Pages

  Koval, V ^a   Reece, M J ^b   Bushby, A J ^b  

^a INSTITUTE OF MATERIALS RESEARCH   (Slovakia)

^b QUEEN MARY UNIVERSITY OF LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CERMETS; FERROELECTRICITY; HYSTERESIS; LEAD COMPOUNDS; NANOINDENTATION; STRENGTH OF MATERIALS;

FERROELECTRIC LOOP ASYMMETRY; LEAD ZIRCONATE TITANATE; SINUSOIDAL WAVE FORM; SWITCHING BEHAVIOR;

THIN FILMS;

EID: 33847759080     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2430699     Document Type: Article

References (45)

1. M. E. Lines and A. M. Glass, Principles and Applications of Ferroelectrics and Related Materials (Clarendon, Oxford, 2001).
2. D. Damjanovic, Rep. Prog. Phys. 61, 1267 (1998).
3. K. Abe, N. Yanase, T. Yasumoto, and T. Kawakubo, J. Appl. Phys. 91, 323 (2002).
4. T. Kumazawa, Y. Kumagai, H. Miura, M. Kitano, and K. Kushida, Appl. Phys. Lett. 72, 608 (1998).
5. N. A. Pertsev and G. Arlt, J. Appl. Phys. 74, 4105 (1993).
6. U. Robels and G. Arlt, J. Appl. Phys. 73, 3454 (1993).
7. Q. Y. Jiang, E. C. Subbarao, and L. E. Cross, J. Appl. Phys. 75, 7433 (1994).
8. W. L. Warren, G. E. Pike, B. A. Tuttle, and D. Dimos, Appl. Phys. Lett. 70, 2010 (1997).
9. S. Okamura, S. Miyata, Y. Mizutani, T. Nishida, and T. Shiosaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 5364 (1999).
10. I. Boerasu, L. Pintilie, M. Pereira, M. I. Vasilevskiy, and M. J. M. Gomes, J. Appl. Phys. 93, 4776 (2003).
11. G. Le Rhun, R. Bouregba, and G. Poullain, J. Appl. Phys. 96, 5712 (2004).
12. M. Kohli, P. Muralt, and N. Setter, Appl. Phys. Lett. 72, 3217 (1998).
13. E.-G. Lee, D. J. Wouters, G. Willems, and H. E. Maes, Integr. Ferroelectr. 16, 165 (1997).
14. L. Zheng, Ch. Lin, W.-P. Xu, and M. Okuyama, J. Appl. Phys. 79, 8634 (1996).
15. A. K. Tagantsev, M. Landivar, E. Colla, and N. Setter, J. Appl. Phys. 78, 2623 (1995).
16. C. K. Wong and F. G. Shin, J. Appl. Phys. 96, 6648 (2004).
17. A. K. Tagantsev, I. Stolichnov, E. L. Colla, and N. Setter, J. Appl. Phys. 90, 1387 (2001).
18. G. A. Spierings, G. J. Dormans, W. G. Moors, M. J. Ulenaers, and P. K. Larsen, Proceedings of the Ninth IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, edited by, R. K. Pandey, M. Li, and, A. Safari, (IEEE, New York, 1994), p. 29.
19. D.-J. Kim, J.-P. Maria, A. Kingon, and S. K. Streiffer, J. Appl. Phys. 93, 5568 (2003).
20. F. Xu, S. Trolier-McKinstry, W. Ren, B. Xu, Z.-L. Xie, and K. J. Hemker, J. Appl. Phys. 89, 1336 (2001).
21. N. A. Pertsev and A. Yu. Emelyanov, Appl. Phys. Lett. 71, 3646 (1997).
22. M. B. Kelman, P. C. McIntyre, B. C. Hendrix, S. M. Bilodeau, and J. F. Roeder, J. Appl. Phys. 93, 9231 (2003).
23. V. Koval, M. J. Reece, and A. J. Bushby, J. Appl. Phys. 97, 074301 (2005).
24. V. Koval, M. J. Reece, and A. J. Bushby, Ferroelectrics 318, 55 (2005).
25. A. Yu. Emelyanov, N. A. Pertsev, and A. L. Kholkin, Phys. Rev. B 66, 214108 (2002).
26. L. Lian and N. R. Sottos, J. Appl. Phys. 95, 629 (2004).
27. W. E. Paradise, F. Wang, and G. H. Haertling, Proceedings of the Ninth IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, edited by, R. K. Pandey, M. Li, and, A. Safari, (IEEE, New York, 1994), p. 784.
28. T. K. Song, J. S. Kim, M. H. Kim, W. Lim, Y. S. Kim, and J. Lee, Thin Solid Films 424, 84 (2003).
29. A. B. Schäufele and K. H. Härdtl, J. Am. Ceram. Soc. 79, 2637 (1996).
30. M. Algueró, A. J. Bushby, and M. J. Reece, J. Mater. Res. 16, 993 (2001).
31. A. Gruverman, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, R. J. Nemanich, A. K. Tagantsev, J. S. Cross, and M. Tsukuda, Appl. Phys. Lett. 83, 728 (2003).
32. D. Liu and K. W. White, Appl. Phys. Lett. 85, 3459 (2004).
33. Q. Zhang and R. W. Whatmore, J. Phys. D 34, 2296 (2001).
34. Q. Zhang and R. Whatmore, J. Eur. Ceram. Soc. 24, 277 (2004).
35. B. R. Lawn, J. Am. Ceram. Soc. 81, 1977 (1998).
36. C. Alemany, R. Jiḿmez, J. Revilla, J. Mendiola, and M. L. Calzada, J. Phys. D 32, L79 (1999).
37. R. E. Mehta, B. D. Silverman, and J. T. Jacobs, J. Appl. Phys. 44, 3379 (1973).
38. M. Algueró, M. L. Calzada, A. J. Bushby, and M. J. Reece, Appl. Phys. Lett. 85, 2023 (2004).
39. M. Abplanalp, J. Fousek, and P. Günter, Phys. Rev. Lett. 86, 5799 (2001).
40. A. Gruverman, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, R. J. Nemanich, A. K. Tagantsev, J. S. Cross, and M. Tsukuda, Appl. Phys. Lett. 83, 728 (2003).
41. W. L. Warren, K. Vanheusden, D. Dimos, G. E. Pike, and B. A. Tuttle, J. Am. Ceram. Soc. 79, 536 (1996).
42. W. L. Warren, G. E. Pike, K. Vanheusden, D. Dimos, B. A. Tuttle, and J. Robertson, J. Appl. Phys. 79, 9250 (1996).
43. C. H. Park and D. J. Chadi, Phys. Rev. B 57, R13961 (1998).
44. W. L. Warren and D. Dimos, Appl. Phys. Lett. 64, 866 (1994).
45. D. Viehland and Y.-H. Chen, J. Appl. Phys. 88, 6696 (2000).