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(1998)
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Nakamura, S.1
Senoh, M.2
Nagahama, S.I.3
Iwasa, N.4
Yamada, T.5
Matsushita, T.6
Kiyoku, H.7
Sugimoto, Y.8
Kozaki, T.9
Umemoto, H.10
Sano, M.11
Chocho, K.12
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0036656323
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Lee, Y.B.1
Wang, T.2
Liu, Y.H.3
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Izumi, Y.5
Lacroix, Y.6
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Koleske, D.D.1
Fischer, A.J.2
Allerman, A.A.3
Mitchell, C.C.4
Cross, K.C.5
Kurtz, S.R.6
Figiel, J.J.7
Fullmer, K.W.8
Breiland, W.G.9
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5
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0344975184
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Narukawa, Y.1
Kawakami, Y.2
Funato, M.3
Fujita, Sz.4
Fujita, Sg.5
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8
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0001551505
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Kapolnek, D.1
Keller, S.2
Vetury, R.3
Underwood, R.D.4
Kazodoy, P.5
Den Baars, S.P.6
Mishra, U.K.7
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9
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21944438486
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(1998)
Appl. Phys. Lett.
, vol.73
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Marchand, H.1
Wu, X.H.2
Ibbeston, J.P.3
Fini, P.4
Kozodoy, P.5
Keller, S.6
Speck, J.S.7
DenBaars, S.P.8
Mishra, U.K.9
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0002272655
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Detchprohm, T.1
Yano, M.2
Nakamura, R.3
Sano, S.4
Amano, H.5
Akasaki, I.6
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0001236278
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Ashby, C.I.H.1
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Provencio, D.M.5
Follstaedt, G.M.6
Peake, L.7
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0031337914
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Vartuli, C.B.1
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Ren, F.5
Zolper, J.C.6
Shul, R.J.7
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Lee, Y.J.1
Hsu, T.C.2
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Wang, S.C.4
Yang, Y.L.5
Yen, S.N.6
Chu, Y.T.7
Shen, Y.J.8
Hsieh, M.H.9
Jou, M.J.10
Lee, B.J.11
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21244491157
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Wang, W.K.1
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Shih, W.C.3
Fang, J.S.4
Lee, C.E.5
Lin, W.Y.6
Han, P.7
Horng, R.H.8
Hsu, T.C.9
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Jou, M.J.11
Lin, A.12
Yu, Y.H.13
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0038269509
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Rosner, S.J.1
Carr, E.C.2
Ludowise, M.J.3
Girolami, G.4
Erikson, H.I.5
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0032181735
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Sugahara, T.1
Hao, M.2
Wang, T.3
Nakagawa, D.4
Naoi, Y.5
Nishino, K.6
Sakai, S.7
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Adelmann, C.1
Simon, J.2
Feuuillet, G.3
Pelekanos, N.T.4
Daudin, B.5
Fishman, G.6
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0000640186
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Nistor L., Bender H., Vantomme A., Wu M.F., Van Landuy J., O'Donnell K.P., Martin R., Jacobs K., and Moerman I. Appl. Phys. Lett. 77 (2000) 507-509
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Nistor, L.1
Bender, H.2
Vantomme, A.3
Wu, M.F.4
Van Landuy, J.5
O'Donnell, K.P.6
Martin, R.7
Jacobs, K.8
Moerman, I.9
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