Evolution of the field-emission properties of individual multiwalled carbon nanotubes submitted to temperature and field treatments

Chemical Vapor Deposition

Volumn 12, Issue 6, 2006, Pages 331-344

  Purcell, Stephen T ^a   Vincent, Pascal ^a   Rodriguez, Monica ^a   Journet, Catherine ^a   Vignoli, Stephane ^a   Guillot, Dominique ^a   Ayari, Anthony ^a  

^a UNIVERSITÉ LYON 1   (France)

Author keywords

Adsorbates; Electrical conductivity; Field emission; Nanotubes; Thermal conductivity

Indexed keywords

ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRON EMISSION; HEAT TREATMENT; MEASUREMENT THEORY; MICROSCOPIC EXAMINATION; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; THERMAL CONDUCTIVITY;

ADSORBATES; FIELD-EMISSION (FE) ELECTRONS; MULTIWALLED CARBON NANOTUBES (MWNT); TOTAL ENERGY DISTRIBUTIONS (TED);

CARBON NANOTUBES;

EID: 33845588636     PISSN: 09481907     EISSN: 15213862     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/cvde.200506452     Document Type: Article

References (72)

1. A. G. Rinzler, J. H. Hahner, P. Nikolaev, L. Lou, S. G. Kim, D. Tomanek, P. Nordlander, D. T. Colbert, R. E. Smalley, Science 1995, 269, 1550.
2. W. de Heer, A. Châtelain, D. Ugarte, Science 1995, 270, 1179.
3. L. A. Chernozatonskii, Y. V. Gulyaev, Z. J. Kosakovskaja, N. I. Sinitsyn, G. V. Torgashov, Y. F. Zakharchenko, E. A. Fedorov, V. P. Val'chuk, Chem. Phys. Lett. 1995, 233, 63.
4. W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, J. M. Kimd, Appl. Phys., Lett. 1999, 75, 3129.
5. K. A. Dean, B. F. Coll, Y. Wei, C. G. Xie, A. A. Talin, J. Trujillo, J. E. Jaskie, Proc. 21st Int. Display Res. Conf. 2001, 1225.
6. D.-S. Chung, S. H. Park, H. W. Lee, J. H. Choi, S. N. Cha, J. W. Kim, J. E. Jang, K. W. Min, S. H. Cho, M. J. Yoon, J. S. Lee, C. K. Lee, J. H. Yoo, J.-M. Kimb, J. E. Jung, Y. W. Jin, Y. J. Park, J. B. You, Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4045.
7. J. Dijon, C. Bridoux, A. Fournier, F. Geffraye, T. Goislard de Monsabert, B. Montmayeul, M. Levis, D. Sarrasin, R. Meyer, K. A. Dean, B. F. Coll, S. Johnson, C. Hagen, J. Jaskie, J. Soc. Inf. Display 2004, 12, 373.
8. Y. Saito, S. Uemura, K. Hamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 1998, 37, L346.
9. M. Croci, I. Arfaoui, T. Stockli, A. Chatelain, J.-M. Bonard, Microelectron. J. 2004, 35, 329.
10. N. de Jonge, Y. Lamy, K. Schoots, T. H. Oosterkamp, Nature 2002, 420, 393.
11. K. Hata, A. Takakura, Y. Saito, Surf. Interf. Anal. 2004, 36, 506.
12. G. Pirio, P. Legagneux, D. Pribat, K. B. K. Teo, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, Nanotechnology 2002, 13, 1.
13. M. A. Guillorn, M. D. Haie, V. I. Merkulov, M. L. Simpson, G. Y. Eres, H. Cui, A. A. Puretzky, D. B. Geohegan, Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2860.
14. K. B. K. Teo, L. Hudanski, F. Peauger, J.-P. Schnell, L. Gangloff, P. Legagneux, D. Dieumegard, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, Nature 2005, 437, 968.
15. G. Z. Yue, Q. Qiu, B. Gao, Y. Cheng, J. Zhang, H. Shimoda, S. Chang, J. P. Lu, O. Zhou, Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 355.
16. R. Rosen, W. Simendinger, C. Debbault, H. Shimoda, L. Fleming, B. Stoner, O. Zhou, Appl. Phys. Lett. 2002, 76, 1668.
17. C. Dong, G. R. Myneni, Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 5443.
18. E. Minoux, O. Groening, K. B. K. Teo, S. H. Dalal, L. Gangloff, J.-P. Schnell, L. Hudanski, I. Y. Y. Bu, P. Vincent, P. Legagneux, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, Nano Lett. 2005, 5, 2135.
19. D. Lovall, M. Buss, E. Graugnard, R. P. Andres, R. Reifenberger, Phys. Rev. B 2000, 61, 5683.
20. M. J. Fransen, T. L. van Rooy, P. Kruit, Appl. Surf. Sci. 1999, 146, 312.
21. J.-M. Bonard, H. Kind, T. Stöckli, L.-O. Nilsson, Solid State Electron. 2001, 45, 893.
22. N. de Jonge, J.-M. Bonard, Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 2004, 362, 2239.
23. J.-M. Bonard, K. A. Dean, B. F. Coil, C. Klinke, Phys. Rev. Lett. 2004, 89, 197 602.
24. K. A. Dean, B. R. Chalamala, Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 375.
25. K. A. Dean, P. von Allmen, B. R. Chalamala, J. Vac. Sci. Technol. B 1999, 17, 1959.
26. J.-M. Bonard, J. P. Salvetat, T. Stöekli, L. Forro, A. Chatelain, Appl. Phys. A 1999, 69, 1.
27. Y. Saito, K. Hata, T. Murata, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 2000, 39, L271.
28. K. A. Dean, O. Groening, O. M. Kittel, L. Schlapbach, Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2773.
29. C. Oshima, K. Matsuda, T. Kona, Y. Mogama, M. Komaki, Y. Murata, T. Yamashita, Y. Saito, K. Hata, A. Takakura, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 2001, 40, L1257.
30. A. Takakura, K. Hata, Y. Saito, K. Matsuda, T. Kona, C. Oshima, Ultramicroscopy 2004, 95, 139.
31. J. W. Gadzuk, E. W. Plummer, Rev. Mod. Phys. 1973, 45, 487.
32. L. W. Swanson, A. E. Bell, in Advances in Electronics, Electron Physics, Vol. 32 (Ed: L. Marton), Academic Press, New York 1973, 193.
33. S. T. Purcell, P. Vincent, C. Journet, V. T. Binh, Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 105 502.
34. P. Vincent, S. T. Purcell, C. Journet, V. T. Binh, Phys. Rev. B 2002, 66, 075 406.
35. E. Muller, Sci. Am. 1952, 186, 58.
36. J. A. Becker, Adv. Catal. 1955, 7, 136.
37. S. K. Sekatskii, V. S. Letokhov, J. Expt. Theor. Phys. 2002, 95, 210.
38. L. W. Swanson, L. C. Crouser, Surf. Sci. 1970, 23, 1.
39. C. B. Duke, M. E. Alferieff, J. Chem. Phys. 1967, 46, 923.
40. S. T. Purcell, V. T. Binh, R. Baptist, J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1666.
41. K. Nagaoka, H. Fujii, K. Matsuda, M. Komaki, Y. Murata, C. Oshima, T. Sakurai, Appl. Surf. Sci. 2001, 182, 5.
42. Y. Saito, R. Mizushima, K. Hata, Surf. Sci. 2002, 499, L119.
43. S. T. Purcell, P. Vincent, C. Journet, V. T. Binh, Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 276 103.
44. S. T. Purcell, V. T. Binh, N. Garcia, Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 436.
45. W. P. Dyke, W. W. Dolan, in Advances in Electronics, Electron Physics, Vol. 8 (Ed: L. Marton), Academic Press, New York, 1956, p. 89.
46. S. T. Purcell, unpublished.
47. K. A. Dean, T. P. Burgin, B. R. Chalamala, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1873.
48. C. Oshima, K. Matsuda, T. Kona, Y. Mogama, M. Komaki, Y. Murata, T. Yamashita, T. Kuzumaki, Y. Horiike, Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 038 301.
49. R. D. Young, Phys. Rev. 1959, 113, 110.
50. N. Y. Huang, J. C. She, J. Chen, S. Z. Deng, N. S. Xu, H. Bishop, S. E. Huq, L. Wang, D. Y. Zhong, E. G. Wang, D. M. Chen, Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 075 501.
51. N. de Jonge, M. Allioux, M. Doytcheva, M. Kaiser, K. B. K. Teo, R. G. Lacerda, W. I. Milne, Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 1607.
52. Y. Wei, C. Xie, K. A. Dean, B. F. Coll, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4527.
53. Z. L. Wang, P. Poncharal, W. A. de Heer, Microsc. Microanal. 2000, 6, 224.
54. J.-M. Bonard, T. Stöckli, F. Maier, W. A. de Heer, A. Châtelain, J.-P. Salvetat, L. Forró, Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 1441.
55. M. Sveningsson, M. Jonsson, O. A. Nerushev, F. Rohmund, E. E. B. Campbell, Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 1095.
56. S. T. Purcell, V. T. Binh, N. Garcia, M. E. Lin, R. P. Andres, R. Reifenberger, Phys. Rev. B 1994, 49, 17259.
57. A. J. Bennett, L. M. Falicov, Phys. Rev. 1966, 151, 512.
58. M. K. Miller, A. Cerezo, M. G. Hetherington, G. D. W. Smith, Atom Probe Field Ion Microscopy, Oxford University Press, Oxford, UK 1996.
59. Y. Zhang, N. Franklin, R. Chen, H. Dai, Chem. Phys. Lett. 2000, 331, 35.
60. B. T. Kelly, Physics of Graphite, Applied Science, London 1981.
61. C. Kittel, Introduction to Solid State Physics, 3rd ed., John Wiley & Sons, New York 1968.
62. P. Chantrenne, J. L. Barrat, X. Blase, J. D. Gale, J. Appl. Phys. 2005, 97, 104318.
63. M. Sveningsson, K. Hansen, K. Svensson, E. Olsson, M. Jonsson, E. E. B. Campbell, Phys. Rev. B. 2005, 72, 085 429.
64. R. D. Young, H. E. Clark, Phys. Rev. Lett. 1966, 17, 351.
65. E. W. Muller, T. T. Tsong, Field Ion Microscopy, American Elsevier, New York 1969.
66. C. J. Edgeeombe, Ultramicroscopy 2003, 95, 49.
67. S. Suzuki, Y. Watanabe, Y. Homma, S. Fukuba, S. Heun, A. Loeatelli, Appl. Phys. Lett. 2004, 55, 127.
68. Z. Xu, X. D. Bai, E. G. Wang, Z. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 163 106.
69. I. Ozerov, private communication 2005.
70. W. P. Dyke, J. K. Trolan, Phys. Rev. 1953, 89, 799.
71. W. P. Dyke, J. K. Trolan, E. E. Martin, J. P. Barbour, Phys. Rev. 1953, 97, 1043.
72. W. W. Dolan, W. P. Dyke, J. K. Trolan, Phys. Rev. 1953, 97, 1054.