Radiation damage to alkyl chain monolayers on semiconductor substrates investigated by electron spectroscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 43, 2006, Pages 21826-21832

  Amy, Fabrice ^a,f   Chan, Calvin K ^a   Zhao, Wei ^a   Hyung, Jaehyung ^a   Ono, Masaki ^b   Sueyoshi, Tomoki ^a   Kera, Satoshi ^b   Nesher, Guy ^c   Salomon, Adi ^c   Segev, Lior ^c   Seitz, Oliver ^c   Shpaisman, Hagay ^c   Schöll, Achim ^d   Haeming, Marc ^d   Böcking, Till ^e   Cahen, David ^c   Kronik, Leeor ^c   Ueno, Nobuo ^b   Umbach, Eberhard ^d   Kahn, Antoine ^a  

^a Princeton University   (United States)

^b CHIBA UNIVERSITY   (Japan)

^c WEIZMANN INSTITUTE OF SCIENCE   (Israel)

^d UNIVERSITY OF WÜRZBURG   (Germany)

^e UNIVERSITY OF NEW SOUTH WALES   (Australia)

^f AIR PRODUCTS AND CHEMICALS INC   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL BONDS; ELECTRON SPECTROSCOPY; MONOLAYERS; SEMICONDUCTOR MATERIALS; SUBSTRATES; ULTRAVIOLET RADIATION;

ALKYL CHAIN; INVERSE PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; PHOSPHONATES; SEMICONDUCTOR SUBSTRATES;

RADIATION DAMAGE;

EID: 33751259798     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp063614k     Document Type: Article

References (41)

1. Ueno, N.; Sugita, K.; Koga, O.; Suzuki, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1983, 22, 1613.
2. Villar, M. R.; Schott, M.; Pfluger, P. J. Chem. Phys. 1990, 92, 5722.
3. Buncik, M. C.; Thomas, D. E.; McKinny, K. S.; Jahan, M. S. Appl. Surf. Sci. 2000, 156, 97.
4. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A. Langmuir 2001, 17, 8.
5. Ono, M.; Morikawa, E. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 1894.
6. Wagner, A. J.; Han, K.; Vaught, A. L.; Fairbrother, D. H. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 3291.
7. Morikawa, E.; Choi, J.; Manohara, H. M.; Ishii, H.; Seki, K.; Okudaira, K. K.; Ueno, N. J. Appl. Phys. 2000, 87, 4010.
8. Ono, M.; Yamane, H.; Fukagawa, H.; Kera, S.; Yoshimura, D.; Morikawa, E.; Seki, K.; Ueno, N. IPAP Cortf. Series 2005, 6, 27.
9. (a) Segev, L.; Salomon, A.; Natan, A.; Cahen, D.; Kronik, L.; Amy, F.; Chan, C. K.; Kahn, A. Phys. Rev. B 2006 (in press),
10. (b) Salomon, A., Booking, T., Seitz, O., Amy, F., Chan, C., Kahn, A., and Cahen, D. (submitted for publication).
11. Salomon, A.; Boecking, T.; Chan, C. K.; Amy, F.; Girshevitz, O.; Cahen, D.; Kahn, A. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 266807.
12. Seitz, O.; Boecking, T.; Salomon, A.; Gooding, J. J.; Cahen, D. Langmuir 2006, 22, 6915.
13. Styrkas, D. A.; Keddie, L. J.; Lu, J. R.; Su, T. J.; Zhdan, P. A. J. Appl. Phys. 1999, 85, 868.
14. Nesher, G.; Vilan, A.; Cohen, H.; Cahen, D.; Amy, F.; Chan, C. K.; Hwang, J.; Kahn, A. J. Phys. Chem. 2006, 110, 14363.
15. Hoque, E.; DeRose, J. A.; Kulik, G.; Hoffmann, P.; Mathieu, H. J.; Bhushan, B. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 10855.
16. Rego, A. M. B. d.; Ferraria, A. M.; Beghdadi, J. E.; Debontridder, F.; Brogueira, P.; Naaman, R.; Vilar, M. R. Langmuir 2005, 21, 8765.
17. Kanan, S. M.; Tripp, C. P. Langmuir 2001, 17, 2213.
18. Kahn, A.; Zhao, W.; Ha, S.; Chan, C.; Amy, F.; Boecking, T.; Cahen, D.; Salomon, A.; Seitz, O. Manuscript in preparation. 2006.
19. Schöll, A.; Zou, Y.; Schmidt, T.; Fink, R.; Umbach, E. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 2003, 129, 1.
20. Duwez, A. S.; Paolo, S. D.; Ghijsen, J.; Riga, J.; Deleuze, M.; Delhalle, J. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 884.
21. Cohen, S. R.; Naaman, R.; Sagiv, J. J. Phys. Chem. 1986, 90, 3054.
22. Heine, V. Phys. Rev. 1965, 138, A1689.
23. Tejedor, C.; Flores, F.; Louis, E. J. Phys. C: Solid State 1977, 10, 2163.
24. Louie, S. G.; Cohen, M. L. Phys. Rev. B 1976, 13, 2461.
25. Vazquez, H.; Oszwaldowski, R.; Pou, P.; Ortega, J. P., R.; Flores, F.; Kahn, A. Europhys. Lett. 2004, 65, 802.
26. Sun, Q.; Selloni, A.; Scoles, G. ChemPhysChem. 2005, 6, 1906.
27. Zangwill, A. Physics at surfaces; Cambridge University Press: Cambridge, U.K., 1988.
28. Seki, K.; Ueno, N.; Karlsson, U. O.; Engelhardt, R.; Koch, E. E. Chem. Phys. 1986, 105, 247.
29. Ueno, N.; Gaedeke, W.; Koch, E. E.; Engelhardt, R.; Dudde, R.; Laxhuber, L.; Moewald, H. J. Mol. Electron. 1985, 1, 19.
30. Ueno, N.; Seki, K.; Sato, N.; Fujimoto, H.; Kuramochi, T.; Sugita, K.; Inokuchi, H. Phys. Rev. B 1990, 41, 1176.
31. Stöhr, J.; Outka, D. A.; Baberschke, K.; Arvanitis, D.; Horsley, J. A. Phys. Rev. B 1987, 36, 2976.
32. Bagus, P. S.; Weiss, K.; Scheitel, A.; Woll, C.; Braun, W.; Hellwig, C.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
33. Vaterlein, P.; Fink, R.; Umbach, E.; Wurth, W. J. Chem. Phys. 1998, 108, 3313.
34. Weiss, K.; Bagus, P. S.; Wöll, C. J. Chem. Phys. 1999, 111, 6834.
35. Scholl, A.; Fink, R.; Umbach, E.; Mitchell, G. E.; Urquhart, S. G.; Ade, H. Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 834.
36. Zharnikov, M.; Frey, S.; Gölzhäuser, A.; Geyer, W.; Grunze, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 3163.
37. Heister, K.; Frey, S.; Golzhauser, A.; Ulman, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 11098.
38. Feulner, P.; Niedermayer, T.; Eberle, K.; Schneider, R.; Menzel, D.; Lehner, A.; Schmich, E.; Shaporenko, A.; Tai, Y.; Zharnikov, M. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 178302.
39. Frey, S.; Rong, H.-T.; Heister, K.; Yang, Y.-J.; Buck, M.; Zharnikov, M. Langmuir 2002, 18, 3142.
40. Ueno, N.; Sugita, K.; Seki, K.; Inokuchi, H. Phys. Rev. B 1986, 34, 6386.
41. Vilar, M. R.; Blatter, G.; Pfluger, P.; Heyman, M.; Schott, M. EuroPhys. Lett. 1988, 5, 375.