An enhanced sensitivity of alkanethiolate self-assembled monolayers to electron irradiation through the incorporation of a sulfide entity into the alkyl chains

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 103, Issue 50, 1999, Pages 11098-11104

  Heister, K ^a   Frey, S ^a   Golzhauser A ^a,b   Ulman, A ^a   Zharnikov, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^b POLYTECHNIC UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000537096     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp992017d     Document Type: Article

References (54)

1. Ulman, An Introduction to Ultrathin Organic Films: Langmuir - Blodgett to Self-Assembly; Academic Press: New York, 1991;
2. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
3. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z Phys. Chem. 1997, 202, 263.
4. Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nucl. lustrum. Methods Phys. Res. B 1997, 131, 245.
5. Zharnikov, M.; Geyer, W.; Gölzhäuser, A.; Frey, S.; Grunze, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 3163.
6. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 974.
7. Müller, H. U.; David, C.; Völkel, B.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 2846.
8. Calvert, J. M. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 2155.
9. Bard, A.; Berggren, K. K.; Wilbur, J. L.; Gillaspy, J. D.; Rolston, S. L.; McClelland, J. J.; Phillips, W. D.; Prentiss, M.; Whitesides; G. M. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1805.
10. Olsen, C.; Rowntree, P. A. J. Chem. Phys. 1998, 108, 3750.
11. Müller, H. U.; Zharnikov, M.; Völkel, B.; Schertel, A.; Harder, P.; Grunze, M. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7949.
12. Zharnikov, M.; Frey, S.; Heister, K.; Grunze, M. Langmuir, in press.
13. Sellers, H.; Ulman, A.; Shnidman, Y.; Eilers, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 9389.
14. Ulman, A., Ed. Thin films: self-assembled monolayers of thiols; Academic Press: San Diego, CA, 1998.
15. Dubois, L. H.; Nuzzo, R. G. Anna. Rev. Phys. Chem. 1992, 43, 437.
16. Fenter, P.; Eberhardt, A.; Eisenberger, P. Science 1994, 266, 1216;
17. Fenter, P.; Eberhardt, A.; Liang, K. S.; Eisenberger, P. J. Chem. Phys. 1997, 106, 1600.
18. Fenter, P.; Schreiber, F.; Berman, L.; Scoles, G.; Eisenberger, P.; Bedzyk, M. J. Surf. Sc. 1998, 412/413, 213.
19. Kondoh, H.; Nozoye; H. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 2367.
20. Schaible, M.; Petersen, H.; Braun, W.; Koch, E. E. Rev. Sci. Iustrum. 1989, 60, 2172.
21. Bernstorff, S.; Braun, W.; Mast, M; Peatman, W.; Schröder, T. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2097.
22. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer: Berlin, 1996.
23. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
24. Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Perkin-EImer Corp.: New York, 1992.
25. Frey, S.; Heister, K.; Tamada, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M., manuscript in preparation.
26. Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1972, 5, 4709.
27. Wertheim, G. K.; Butler, M. A.; West, K. W.; Buchanan, D. N. E. Rev. Sci. lustrum. 1974, 45, 1369.
28. Hähner, G.; Kinzler, M.; Thiimmler, C.; Woll, Ch.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. A 1992, 10, 2758.
29. Kinzler, M.; Scheitel, A.; Hahner, G.; Woll, Ch.; Grunze, M.; Albrecht, H.; Holzhüter, G.; Gerber, Th. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7722.
30. Dannenberger, O.; Weiss, K.; Himmel, H.-J.; Jäger, B.; Buck, M.; Wöll, Ch. Thin Solid Films 1997, 307, 183.
31. Outka, D. A.; Stohr, J.; Rabe, J. P.; Swalen, J. D.; J. Chem. Phys. 1988, 88, 4076.
32. Hähner, G.; Kinzler, M.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Scheller, M.; Cederbaum, L. S. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 851;
33. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 694 (erratum).
34. Bagus, P. S.; Weiss, K.; Schertel, A.; Wöll, Ch.; Braun, W.; Hellwig, H.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
35. Väterlein, P.; Fink, R.; Umbach, E.; Wurth, W. J. Phys. Chem. 1998, 108, 3313.
36. Biebuyck, H. A.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. Langmuir 1994, 10, 1825.
37. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. W. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017.
38. Harder, P.; Grunze, M.; Dahint, R.; Whitesides, G. M.; Laibinis, P. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 426.
39. Thome, J.; Himmelhaus, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M. Langmuir 1998, 14, 7435.
40. Abraharnsson, S.; Larsson, G.; von Sydlow, E. Acta Crystallogr. 1960, 13, 770.
41. Weast, R. C. Handbook of Chemistry and Physics; CRC Press: Boca Raton, FL, 1968.
42. Burkert, U.; Allinger, N. L. Molecular Mechanics; American Chemical Society: Washington, DC, 1982.
43. Clark, T. Computational Chemistry; Wiley: New York, 1985.
44. Porter, M. D.; Bright, T.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
45. Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358.
46. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723.
47. Walczak, M. W.; Chung, C.; Stole, S. M.; Widrig, C. A.; Porter, M. D. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
48. Rieley, H.; Kendall, G. K.; Zemicael, F. W.; Smith, T. L.; Yang, S. Langmuir 1998, 14, 5147.
49. Bierbaum, K.; Kinzler, M.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Hähner, G.; Held, S.; Effenberger, F. Langmuir 1995, 11, 512.
50. Witte, G.; Weiss, K.; Jakob, P.; Braun, J.; Kostov, K. L.; Woell, Ch. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 121.
51. Gölzhäuser, A.; Panov, S.; Schertel, A.; Mast, M.; Wöll, Ch.; Grunze, M. Surf. Sci. 1995, 334, 235.
52. Nuzzo, R. G.; Zegarski, B. R.; Dubois, L. H. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 733.
53. Nishida, N.; Hara, M.; Sasabe, H.; Knoll. W. Jpn. J. Appl. Phys. 1996, 35, L799.
54. Kondoh, H.; Kodama, C.; Nozoye, H. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 2310.