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Volumn 104, Issue , 2006, Pages 29-68

Supercell methods for defect calculations

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EID: 33750839341     PISSN: 03034216     EISSN: 14370859     Source Type: Book Series    
DOI: 10.1007/11690320_3     Document Type: Article
Times cited : (12)

References (97)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.