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Volumn 84, Issue 9, 2000, Pages 1942-1945

Charged Local Defects in Extended Systems

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EID: 0001481240     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.84.1942     Document Type: Article
Times cited : (130)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.