Analyzing solution-phase time-resolved x-ray diffraction data by isolated-solute models

Journal of Chemical Physics

Volumn 125, Issue 17, 2006, Pages

  Lee, Jae Hyuk ^b   Kim, Kyoung Hwan ^b   Kim, Tae Kyu ^b   Lee, Youhong ^b   Ihee, Hyotcherl ^a  

^a Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^b NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FOURIER TRANSFORMS; METHANOL; PHOTODISSOCIATION; SOLUTIONS; SOLVENTS; X RAY DIFFRACTION;

CORRELATION FACTORS; CYCLOHEXANE; REACTION INTERMEDIATES; TRUNCATED FOURIER TRANSFORM (TFT);

MOLECULAR DYNAMICS;

EID: 33750717528     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2386158     Document Type: Article

References (61)

1. I. I. Vorontsov, A. Y. Kovalevsky, Y. S. Chen, T. Graber, M. Gembicky, I. V. Novozhilova, M. A. Omary, and P. Coppens, Phys. Rev. Lett. 94, 193003 (2005).
2. P. Coppens, Chem. Commun. (Cambridge) 2003, 1317.
3. P. Coppens and I. V. Novozhilova, Faraday Discuss. 122, 1 (2003).
4. K. J. Gaffney, A. M. Lindenberg, J. Larsson, Phys. Rev. Lett. 95, 125701 (2005).
5. A. M. Lindenberg, J. Larsson, K. Sokolowski-Tinten, Science 308, 392 (2005).
6. I. V. Tomov, D. A. Qulianov, P. Chen, and P. M. Rentzepis, J. Phys. Chem. B 103, 7081 (1999).
7. C. Rose-Petruck, R. Jimenez, T. Guo, A. Cavalleri, C. W. Siders, F. Raksi, J. A. Squier, B. C. Walker, K. R. Wilson, and C. P. J. Barty, Nature (London) 398, 310 (1999).
8. A. Plech, S. Kurbitz, K. J. Berg, H. Graener, G. Berg, S. Gresillon, M. Kaempfe, J. Feldmann, M. Wulff, and G. von Plessen, Europhys. Lett. 61, 762 (2003).
9. A. Plech, R. Randler, G. Armin, and M. Wulff, J. Synchrotron Radiat. 9, 287 (2002).
10. M. Wulff, M. Lorenc, A. Plech, H. Ihee, S. Bratos, F. Mirloup, and R. Vuilleumier, in Femtochemistry and Femtobiology: Ultrafast Events in Molecular Science, edited by, M. M. Martin, and, J. T. Hynes, (Elsevier, New York, 2004), p. 337.
11. A. Plech, M. Wulff, S. Bratos, F. Mirloup, R. Vuilleumier, F. Schotte, and P. A. Anfinrud, Phys. Rev. Lett. 92, 125505 (2004).
12. H. Ihee, M. Lorenc, T. K. Kim, Q. Y. Kong, M. Cammarata, J. H. Lee, S. Bratos, and M. Wulff, Science 309, 1223 (2005).
13. J. Davidsson, J. Poulsen, M. Cammarata, Phys. Rev. Lett. 94, 245503 (2005).
14. T. K. Kim, M. Lorenc, J. H. Lee, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 103, 9410 (2006).
15. A. M. Lindenberg, Y. Acremann, D. P. Lowney, P. A. Heimann, T. K. Allison, T. Matthews, and R. W. Falcone, J. Chem. Phys. 122, 204507 (2005).
16. M. Cammarata, M. Lorenc, T. K. Kim, J. Chem. Phys. 124, 124504 (2006).
17. P. Georgiou, J. Vincent, M. Andersson, A. B. Wohrl, P. Gourdon, J. Poulsen, J. Davidsson, and R. Neutze, J. Chem. Phys. 124, 234507 (2006).
18. H. Ihee, S. Rajagopal, V. Srajer, R. Pahl, S. Anderson, M. Schmidt, F. Schotte, P. A. Anfinrud, M. Wulff, and K. Moffat, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 102, 7145 (2005).
19. F. Schotte, M. Lim, T. A. Jackson, A. V. Smirnov, J. Soman, J. S. Olson, G. N. Phillips Jr., M. Wulff, and P. Anfinrud, Science 300, 1944 (2003).
20. E. Collet, M. H. Lemee-Cailleau, M. Buron-Le Cointe, Science 300, 612 (2003).
21. S. Techert, F. Schotte, and M. Wulff, Phys. Rev. Lett. 86, 2030 (2001).
22. J. Larsson, A. Allen, P. H. Bucksbaum, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 75, 467 (2002).
23. G. Busse, T. Tschentscher, A. Plech, M. Wulff, B. Frederichs, and S. Techert, Faraday Discuss. 122, 105 (2003).
24. A. M. Lindenberg, I. Kang, S. L. Johnson, Phys. Rev. Lett. 84, 111 (2000).
25. A. H. Chin, R. W. Schoenlein, T. E. Glover, P. Balling, W. P. Leemans, and V. V. Shank, Phys. Rev. Lett. 83, 336 (1999).
26. C. Rischel, A. Rousse, I. Uschmann, P.-A. Albouy, J.-P. Geindre, P. Audebert, J.-C. Gauthier, E. Forster, J.-L. Martin, and A. Antonetti, Nature (London) 390, 490 (1997).
27. R. Srinivasan, J. S. Feenstra, S. T. Park, S. Xu, and A. H. Zewail, Science 307, 558 (2005).
28. S. T. Park, J. S. Feenstra, and A. H. Zewail, J. Chem. Phys. 124, 174707 (2006).
29. F. Vigliotti, S. Chen, C.-Y. Ruan, V. A. Lobastov, and A. H. Zewail, Angew. Chem., Int. Ed. 43, 2705 (2004).
30. C.-Y. Ruan, V. A. Lobastov, F. Vigliotti, S. Chen, and A. H. Zewail, Science 304, 80 (2004).
31. H. Park, X. Wang, S. Nie, R. Clinite, and J. Cao, Phys. Rev. B 72, 100301 (2005).
32. H. Park, X. Wang, S. Nie, R. Clinite, and J. Cao, Solid State Commun. 136, 559 (2005).
33. H. Park, S. Nie, X. Wang, R. Clinite, and J. Cao, J. Phys. Chem. B 109, 13854 (2005).
34. H. Park, Z. Hao, X. Wang, S. Nie, R. Clinite, and J. Cao, Rev. Sci. Instrum. 76, 083905 (2005).
35. J. Cao, Z. Hao, H. Park, C. Tao, D. Kau, and L. Blaszczyk, Appl. Phys. Lett. 83, 1044 (2003).
36. B. J. Siwick, J. R. Dwyer, R. E. Jordan, and R. J. D. Miller, Science 302, 1382 (2003).
37. R. C. Dudek and P. M. Weber, J. Phys. Chem. A 105, 4167 (2001).
38. X. Zeng, B. Lin, I. El-Kholy, and H. E. Elsayed-Ali, Phys. Rev. B 59, 14907 (1999).
39. X. J. Wang, D. Xiang, T. K. Kim, and H. Ihee, J. Korean Phys. Soc. 48, 390 (2006).
40. H. Ihee, V. A. Lobastov, U. Gomez, B. M. Goodson, R. Srinivasan, C.-Y. Ruan, and A. H. Zewail, Science 291, 458 (2001).
41. H. Ihee, J. Cao, and A. H. Zewail, Angew. Chem., Int. Ed. 40, 1532 (2001).
42. Q. Y. Kong, J. Kim, M. Lorenc, T. K. Kim, H. Ihee, and M. Wulff, J. Phys. Chem. A 109, 10451 (2005).
43. F. Schotte, S. Techert, P. A. Anfinrud, V. Srajer, K. Moffat, and M. Wulff, in Third-Generation Hard X-ray Synchrotron Radiation Sources, edited by, D. Mills, (Wiley, New York, 2002), p. 345.
44. K. Hoshina, K. Yamanouchi, T. Ohshima, Y. Ose, and H. Todokoro, J. Chem. Phys. 118, 6211 (2003).
45. K. Hoshina, K. Yamanouchi, T. Ohshima, Y. Ose, and H. Todokoro, Chem. Phys. Lett. 353, 27 (2002).
46. K. Hoshina, K. Yamanouchi, T. Ohshima, Y. Ose, and H. Todokoro, Chem. Phys. Lett. 353, 33 (2002).
47. T. S. Dibble and L. S. Bartell, J. Phys. Chem. 96, 8603 (1992).
48. J. D. Ewbank, J. Y. Luo, J. T. English, R. Liu, W. L. Faust, and L. Schafer, J. Phys. Chem. 97, 8745 (1993).
49. J. C. Williamson, J. Cao, H. Ihee, H. Frey, and A. H. Zewail, Nature (London) 386, 159 (1997).
50. S. Bratos, F. Mirloup, R. Vuilleumier, and M. Wulff, J. Chem. Phys. 116, 10615 (2002).
51. S. Bratos, F. Mirloup, R. Vuilleumier, M. Wulff, and A. Plech, Chem. Phys. 304, 245 (2004).
52. M. Wulff, S. Bratos, A. Plech, R. Vuilleumier, F. Mirloup, M. Lorenc, Q. Kong, and H. Ihee, J. Chem. Phys. 124, 034501 (2006).
53. M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, GAUSSIAN 03, Gaussian, Inc., Pittsburgh, PA, 2003.
54. H. Ihee, A. H. Zewail, and W. A. Goddard III, J. Phys. Chem. A 103, 6638 (1999).
55. B. E. Warren, X-ray Diffraction (Dover, New York, 1990).
56. A. Guinier, X-Ray Diffraction: In Crystals, Imperfect Crystals, and Amorphous Bodies (Dover, New York, 1994).
57. I. Hargittai and M. Hargittai, Stereochemical Applications Of Gas-Phase Electron Diffraction (VCH, New York, 1988).
58. U. Banin and S. Ruhman, J. Chem. Phys. 98, 4391 (1993).
59. T. Kuhne and P. Vohringer, J. Phys. Chem. A 102, 4177 (1998).
60. M. T. Zanni, B. J. Greenblatt, A. V. Davis, and D. M. Neumark, J. Chem. Phys. 111, 2991 (1999).
61. D. A. Mcquarrie, Mathematical Methods for Scientists and Engineers (University Science Books, Sausalito, CA, 2003).